LDLSTune 190-2500nm 超宽谱可调谐单色光源系统
LDLSTune 宽谱可调谐单色光源由激光驱动等离子宽谱光源（LDLS）与高精度自动单色仪组成。系统利用LDLS在紫外、可见和近红外区域提供的高亮度宽谱输出，再通过单色仪对目标波长进行精确选择，获得可连续调谐的窄带单色光。
根据LDLS配置，系统可覆盖 250-2500 nm 波段或 190-2500 nm 紫外增强波段，实际可用波段、带宽、输出通量和波长分辨率取决于所选单色仪型号、衍射光栅、狭缝宽度、光路耦合方式及附件配置。
相较传统氙灯、氘灯、钨灯或多光源拼接方案，LDLS具备更宽的光谱覆盖能力和更高的光谱亮度。结合自动单色仪后，用户可在一个系统中完成波长扫描、光谱响应测试和多波段照明实验，减少多台固定波长光源或多种灯源切换带来的复杂性，适用于吸收、透射、反射、荧光、显微光谱、高光谱成像、光电探测器响应、薄膜表征、半导体检测及光伏器件测试等科研和工业场景。
系统组成：
A. 激光驱动等离子光源
激光驱动等离子光源通过连续激光能量与氙气介质相互作用产生等离子体发光。该类宽谱光源可作为传统氙灯、氘灯、钨灯、LED 等光源的升级方案，具有宽光谱、高亮度和高稳定性等特点。
主要配置包括：
UV 紫外增强或 OFR 无臭氧光谱版本
自由空间输出
可选 600 μm 光纤耦合单元 FCU
单端口或双端口输出
风冷光学头，可选水冷光学头
B. M140 / M300 自动单色仪
M140 和 M300 均采用优化 Czerny-Turner 光学结构，具有一个入口通道、两个出口通道，并支持自动化光栅、狭缝和滤光片控制。
可选择：
M140：优先满足紧凑性、较高扫描速度和通用光谱测量
M300：优先满足更高波长分辨率、波长准确度和精密光谱分析
2400、1200、600、300 gr/mm 等不同光栅
自动或手动入口/出口狭缝
多出口方案
像散校正成像光学附件（可选）
自动滤光片轮
产品主要技术参数：
激光驱动等离子光源参数：
| LDLSTune-UV | LDLSTune-OFR | |
| 光谱范围 | 190-2500nm | 250-2500nm |
光谱亮度，350-550nm（min / avg / max）， mW / (mm²·nm·sr) | 50 / 58 / 68 | 50 / 56 / 60 |
| 自由空间输出功率 | ≥1.8W | |
| 600μm光纤输出功率（min / avg / max） | 510 / 560 / 630 mW | |
| 额定寿命 | 10000小时 | |
| 气体吹扫 | 99.99% 氮气 | / |
单色仪参数：
| M140 | M300 | |
| 光谱范围 | 190-20000nm（取决于所选择的光栅） | |
| 孔径比 | 1:3.6 | 1:3.8 |
| 焦距，mm | 145 | 300 |
| 入口通道 | 1个 | |
| 输出通道 | ≤2个 | |
| 散光补偿 | 可选，适用于出口狭缝 | |
| 衍射光栅数量 | ≤3个光栅 | ≤4个光栅 |
| 可选光栅刻线密度*，gr/mm | 2400 / 1200 / 600 / 300 | 2400 / 1200 / 600 / 300 |
| 有效光谱范围**，nm | 190-450 / 266-800 / 500-1500 / 1000-3000 | 190-450 / 266-800 / 500-1500 / 1000-3000 |
| 光谱分辨率，nm | 0.1 / 0.2 / 0.4 / 0.8 | 0.05 / 0.1 / 0.2 / 0.4 |
| 波长准确性，nm | ±0.05 / ±0.1 / ±0.2 / ±0.4 | ±0.025 / ±0.05 / ±0.1 / ±0.2 |
| 波长重复性，nm | ±0.025 / ±0.05 / ±0.1 / ±0.2 | ±0.012 / ±0.025 / ±0.05 / ±0.1 |
| 扫描速度，nm/s | 100 / 200 / 400 / 800 | 25 / 50 / 100 / 200 |
| 狭缝宽度 | 0-3 mm，可选 0-5 mm | |
| 狭缝高度 | 10 mm | 12mm |
*按需求定制不同光栅
**在有效光谱范围内，衍射效率超过40%
LDLSTune-UV-M140空间光输出的光谱图
产品核心优势：
覆盖紫外、可见和近红外宽波段
高光谱亮度与高输出功率
两种单色仪等级，兼顾通量与分辨率
自动化波长扫描和配置切换
低杂散光，提升光谱测量可信度
高稳定性，适合长时间测量
典型应用介绍：
1.吸收、透射和反射光谱
XenoTune 可在指定波段内输出可调谐单色光，适合对材料、滤光片、镀膜、玻璃、薄膜、光纤器件、光学元件和光电材料进行吸收率、透射率及反射率扫描。
2.探测器与光电器件响应测试
系统覆盖紫外至近红外区域，可用于：光电二极管响应度测试；ccd、cmos、InGaAs 等探测器光谱响应测试；光谱仪响应校准；光伏器件 EQE、IQE 测试；图像传感器量子效率测量；光学传感器标定
3.荧光光谱与显微应用
高亮度连续谱配合单色仪的窄带选频能力，可用于荧光激发波长筛选、荧光光谱研究、共聚焦显微和荧光显微照明等应用。
4.高光谱成像与机器视觉
通过自动扫描不同中心波长，系统可为高光谱成像提供窄带、可编程照明，适合材料分选、表面缺陷识别、半导体检测、生物样品分析和工业质量控制。
5.半导体与薄膜计量
系统适用于微电子污染与缺陷控制、薄膜厚度和光学常数分析、临界尺寸计量以及材料表征。高亮度紫外至可见光输出尤其适用于需要高空间分辨率和高信噪比的检测平台。
6.拉曼与发射分析
M300 可提供更高的波长分辨率与更好的波长重复性，并可配置自动交叉入口狭缝和像散校正光学组件，适合精密光谱、弱信号发射分析及拉曼研究。
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