VFI 光纤端面干涉仪能够快速检测直径125-2000μm的光纤端面的品质和平整度。
VFI 光纤端面干涉仪使用了干涉端面检测技术。干涉端面检测是一种非破坏性、非接触式的光纤端面检测技术，VFI 光纤端面干涉仪可确保高速数据传输应用中光纤的质量和可靠性。VFI 光纤端面干涉仪专为检查切割或抛光光纤的表面质量和平整度而设计。用户可以通过VFI 光纤端面干涉仪的多种不同二维和三维视图查看光纤，从而全面了解切割或抛光过程。
VFI 光纤端面干涉仪可测量大多数标准和特种光纤，包括保偏光纤和空芯光纤。VFI 光纤端面干涉仪在研究、生产和质量保证领域已得到反复验证。
• 3 种不同的视野
• 平面和斜角切割
• 检测和条纹模式
• 自动或手动端角测量
• 2D 或 3D 测量模式
• 3D 端面高度图
• 2D 测量 - 实时；3D 测量在 7 秒内完成
• 高度数据可保存为 CSV 文件
• 数据输出为 Excel 或 HTML 报告
• 精密切割刀制造
• 切割刀维护
• 激光器制造
• 医疗器械制造
• 光纤研发
• 特种光纤制造
• 斜角切割刀的开发与测试
• 设备尾纤处理
• LDF 切割刀制造/维护
• 光纤端帽制造
• 多芯光纤束制造
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