光热测量系统（光学弱吸收测量系统）
光热测量系统的主要用途是对不同光学元件（如镀膜、基底、晶体、界面等）的吸收特性进行表征。该装置采用泵浦-探测方式，基于热透镜效应，吸收测试在“泵浦”激光的波长下进行。为提高灵敏度，泵浦光经斩波调制，以实现对被测样品的周期性加热。探测光束感知被吸收的泵浦光所引起的加热效应。经斩波的泵浦光提供周期性加热，使探测光束的波形产生周期性扰动。光热信号表现为在较大的光电探测器电流上产生的小幅调制。平均电流（即直流信号 DC）与其在斩波频率处的小幅调制（即交流信号 AC）共同决定调制深度 AC/DC，该深度与吸收成正比。硅光电探测器采集 AC 和 DC 信号，并由调至斩波频率的双锁相放大器进行处理。
仪器的灵敏度由噪声等效吸收泵浦功率定义。理论上，灵敏度不存在绝对极限（通过更强的信号滤波，噪声总可以进一步降低）；然而，在实际系统条件下（如数据采集时间限制、普通实验室环境），对多数光学材料，灵敏度优于 25 nW。因此，当泵浦输出功率为 2 W（经斩波后约 1 W）时，可检测到低至 0.025 ppm 的吸收。
参数指标：
表面吸收灵敏度（透射探测器，熔融石英基底，1 W 入射泵浦功率）：优于 0.25 ppm
体吸收灵敏度（透射探测器，熔融石英，1 W 入射泵浦功率）：优于 5 ppm/cm
表面吸收灵敏度（反射探测器，熔融石英基底，1 W 平均入射功率）：优于 0.5 ppm
斩波频率：390 Hz ± 10 Hz
探测波长：633 nm
泵浦/探测交叉角：0.12 rad ± 0.02 rad
泵浦聚焦光斑尺寸：75 µm ± 20 µm
探测聚焦光斑尺寸：225 µm ± 50 µm
横向空间分辨率（FWHM ）：优于 60 µm
纵向空间分辨率（FWHM ）：优于 1 mm
噪声等效吸收功率（透射探测器，熔融石英基底，表面信号）：< 0.25 µW
噪声等效吸收功率（透射探测器，熔融石英，体吸收信号）：< 5 µW/cm
体吸收灵敏度（透射探测器，熔融石英，1 W 入射功率）：优于 5 ppm/cm
噪声等效吸收功率（反射探测器，熔融石英基底）：< 0.5 µW
探测光：
型号：Pacific Lasertec 05-LHP-121 或其他
输出功率：2 mW（3R 级）
波长：633 nm
RMS 噪声：30 Hz–10 MHz 频段内 0.1 %
XYZ位移台：
制动器类型：步进电机
X 轴平移范围：50 mm
Y 轴平移范围：50 mm
Z 轴平移范围：50 mm
** 其他应用及配置，比如热扩散测量、光折变材料以及载流子特性测试，详细可咨询上海昊量光电设备有限公司。
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