该高分辨光谱仪可在高次谐波束线、X 射线自由电子激光器以及台式 X 射线激光器上实现精确的光子诊断，单次触发即可测量 2–4 keV 的光子能量。
采用 Von Hamos 几何结构并配合高效率背向散射测量，可对 X 射线光谱进行“指纹”识别，实现实时束线表征；透射束保持 >90% 的透过率，不受干扰地供后续实验使用。
只需将背向散射探头替换成材料样品，HardLIGHT TXS 即可快速切换为 X 射线发射光谱（XES）模式。软–硬 X 射线交界能区（tender X-ray）可灵敏地获取众多材料的化学态信息，例如，在 2 keV 处研究硫元素，可为电池研究提供关键信息。
主要特点：
单次测量获取光谱数据，能量范围2-4keV
背散射模式，用于在线射线束测量
XES模式，用于测量材料样品
能量分辨率 0.3eV
体积小，结构紧凑，便携易用
参数指标：
结构类型： Von Hamos
能量范围： 2–4 keV
射线源距离：可灵活调节
工作真空： <1 × 10⁻⁶ mbar（提供 UHV 版本）
晶体定位： 机动闭环控制
光谱滤波单元： 可选
控制接口： USB 或 Ethernet
软件： Windows 图形界面，并附带 LabVIEW / VB / C / C++ SDK
可定制性： 完全可定制
应用案例：
** 其他VUV、XUV等波段产品，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。
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