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热学性能测量

时域热反射测量系统调制热成像分析仪 显示全部
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时域热反射测量系统

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新上线!TDTR时域热反射测量系统!!

所属类别:材料分析设备 » 热学性能测量

所属品牌:法国SPARK LASERS公司

产品负责人:

姓名:田工(Allen)

电话:185 0166 2513(微信同号)

邮箱:jinquan-tian@auniontech.com


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    产品负责人

    姓名:田工(Allen)

    电话:185 0166 2513(微信同号)

    邮箱: jinquan-tian@auniontech.com

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飞秒激光时域热反射测量技术,即Time-domain Thermoreflectance, TDTR 是一种基于飞秒超快激光抽运探测(pump-probe)技术的导热测量技术。相比于其他导热测量技术,目前TDTR技术因其可以测量纳米薄膜热导率和界面热阻以及非接触式测量特性而具有独特优势。


我司新推出的ALCOR 时域热反射测量系统则是基于法国Spark LaserS公司的ALCOR超快飞秒激光搭建的测量系统,可用于测量金属薄膜、块体或液体的热导率、界面热阻等多项热物性参数,薄膜测量厚度可达纳米量级!在微纳结构新材料的研发与分析等方面得以越来越广泛的应用。   


系统通过利用飞秒激光照射样品表层金属薄膜,令薄膜吸收能量并将其转化为热能, 从而传导给样品,并随时间尺度逐渐向样品传递。金属薄膜表面温度随时间回落,从而影响到其反射率。届时再通过测量另一束探测激光的反射强度曲线,通过后续一系列的解调分析,即可得到金属薄膜温度随时间的变化,进而获得被测样品的导热特性和相关热物性参数等。

典型样品结构和测量模式


本系统采用了长行程线性位移台,可以实现较高时间分辨率的热响应测量;

双波长激光分别进行泵浦和探测,降低了加热和探测过程之间的干扰;

调制和锁相的使用进一步保证了微小热响应信号的捕捉和测量;

ccd显微可视技术则能够精确控制具有微观结构样品的测量。


关键核心技术

高分辨率时域热反射技术

双波长抽运探测技术

调制锁相放大技术

光路共享CCD显微可视技术

高集成度分体式模块化设计

高灵活度样品位设计


可测材料:

块体材料
薄膜材料


可测参数:

热导率

热扩散率

吸热系数

界面热阻


应用:


材料分析

薄膜的热物性参数测量


系统规格


热导率测量范围 0.1~2,000 W·m-1·K-1

热扩散率测量范围0.05~1,000 mm2·s-1

可测薄膜厚度     >10 nm

吸热系数 500~50,000 J·m-2·K-1·s-0.5


选型:


 

器件

推荐品牌、型号

激光器:飞秒

品牌:法国Spark ,型号ALCOR 1064 

调制器

品牌:美国Conoptics公司,型号:M350-160

锁相放大器

品牌:苏黎世仪器型号HF2LI (with HF2LI-MF&HF2LI-MOD)

中控回射镜

品牌:美国 PLX 型号:plxinc   OW-25-5

组件套装

厂家:上海昊量光电设备有限公司,参数:相机,支架,

软件,配件

上海昊量光电设备有限公司 软件开发 ,搭建调试,样品测量



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产品标签:TDTR,时域热反射测量系统,系统方案,ALCOR,热导率测量,飞秒激光,电光调制器,中空回射镜,锁相放大器,CCD,位移台