波片是一种重要的偏光器件，在现代光学精密测量技术和偏光技术领域中有着广泛的应用。波片的相位延迟度是波片最重要的技术参数，其自身的精度会直接影响到整个系统的精度。现有的波片相位延迟度测量仪对波片的测量精度不高，不利于高精度波片的制造。
Meadowlark Optics的相位延迟测量系统(TB1000)是第一款用于高精度波片测量的商业化产品。该系统可测量多阶波片和同材料复合零阶波片（蓝宝石、氟化镁和石英）的延迟。相位延迟测量系统的用途广泛且便携，可以轻松地从R&D实验室转移到生产车间。
光弹调制器
双折射显微成像系统（abrio替代产品）
成像型穆勒矩阵测量系统
定量双折射成像系统
圆二色谱仪-高通量对映体过量测量（ee）仪(EKKO CD)
定制型高精度薄膜波片
可变涡旋波片/Variable spiral plate/Q-PLATE
双折射测量技术介绍
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