eFLAT系列多通道LED分析仪
面向低亮度、PWM调光及可见光/近红外LED的自动化测试选型
德国PREMOSYS eFLAT系列多通道LED分析仪通过光纤采集多个测试点的光信号，面向LED颜色与相对强度检测，以及测试夹具和自动化设备集成。本页包含eFLAT-HG-II与eFLAT-III两款产品，便于根据光信号强弱、测试点数量、波段及控制接口选择型号。
eFLAT-HG-II侧重低亮度与PWM调光LED应用，提供4、8、12或16通道配置；eFLAT-III采用紧凑结构，提供10或20通道配置，响应范围延伸至近红外，并支持多机通道扩展。两款产品的测量条件与接口配置不同，应分别确认。
多点光纤采集：可将光纤布置到不同LED位置，适合测试空间受限、需要多点检测的组件。光纤直径、接口及扩散器需按型号与测量对象匹配。
颜色与相对强度评估：针对可见光LED提供色坐标、相关色温及主波长等输出，结合合适的校准与判定条件，辅助检查组件之间的颜色和发光一致性。
自动化控制：支持通信接口或硬件控制信号触发，并提供状态及测量结果输出。HG-II通过10路输入选择蕞多1024个产品，III通过5路输入选择蕞多32个产品，便于对接不同测试工位。
| 项目 | eFLAT-HG-II | eFLAT-III |
|---|---|---|
| 单机通道数 | 4 / 8 / 12 / 16 | 10 / 20；多机经RJ12扩展蕞多200通道 |
| 响应波段 | 380–780 nm | 380–1000 nm |
| 色度相关输出 | XYZ、CIE 1931 xy、CCT、主波长λdom | XYZ、CIE 1931 xy、CIE 1976 u′v′、CCT、主波长λdom |
| 测量时间（含传输） | 约80 ms＋所用蕞长积分时间，与使用通道数无关 | ≥200 ms，取决于积分时间 |
| 增益与分辨率 | 5档增益，每档16 bit | 4档增益，每档16 bit |
| 白光LED测量精度* | 色坐标x、y：±0.0015；相对强度：±2% | 色坐标x、y：±0.0015；相对强度：±2% |
| 灵敏度范围** | 0.7–600,000 lx | 无扩散器：35–1,400,000 lx；有扩散器：35–3,300,000 lx |
| 通信接口与协议 | Fast Ethernet RJ45；专有UDP/IP协议 | 以太网版：Modbus UDP/IP；串行版：类似Modbus RTU的工作模式 |
| 光纤连接 | F-SMA接口 | 防转螺纹光纤接口 |
| 供电与防护 | 12–27 V DC；IP20 | 12–27 V DC；IP20 |
| 工作环境温度 | 10–50 ℃ | 10–55 ℃ |
| 重量 | 约390 / 540 / 730 / 870 g，对应4 / 8 / 12 / 16通道 | 约280 g |
* 精度以使用对应白光或单色LED校准为前提；相对强度精度不代表绝对亮度或照度测量精度。** HG-II范围基于PR-LL-K1-SMA-500塑料光纤（直径1 mm）及LWL-A-D-12,5扩散器；III范围基于直径0.75 mm塑料光纤。光路配置改变时需重新确认适用范围。
电子组件与指示灯检测：用于PCB指示灯、按钮背光及多LED组件的颜色与相对强度检查，可结合工装定位，减少测试位置变化对结果的影响。
低亮度与调光测试：关注微弱可见光信号或PWM调光LED时，可优先评估HG-II；应提供实际调光频率、占空比及光信号条件进行适配确认。
紧凑工位与近红外LED：III适合对体积和测点数量有要求的测试夹具。涉及近红外发光器件时，应进一步确认目标波长、可用输出及相应校准方式。
选择eFLAT系列多通道LED分析仪时，建议提供LED类型、波长、光强水平、测点数量、目标节拍及控制接口。III的200通道能力需要多机连接；以太网与串行通信应按订货版本选配。HG-II的PWM应用定位不能直接等同于III的功能，也不代表提供完整波形或频闪分析。
建立测试方案时，应同时考虑光纤与发光面的距离、角度、环境杂散光和工装重复定位。比较不同通道或不同批次的相对强度，应采用一致的光路与校准条件，并依据合格样品和实际质量要求设置判定范围。
近红外响应范围不等于近红外色度测量能力，色坐标和相关色温仅在适用的可见光条件下有意义。系统不用于安全关键部件或医疗用途。参数依据厂家2021年4月数据单：eFLAT-HG-II V2.6、eFLAT-III V1.14，具体配置以厂家确认资料为准。
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使用说明：本系统用于工业过程测量，不适用于安全关键控制或医疗用途；安装、维护应由受过培训的人员完成。
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