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波前分析仪

SID4 标准型 波前传感器/波前分析仪SID4-HR 高分辨率 波前传感器/波前分析仪SID4-V 真空兼容 波前分析仪SID4-UHR大口径超高分辨率波前传感器/波前分析仪SID4-UV 紫外 波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR 高分辨率 紫外 波前传感器/ 波前分析仪SID4-SWIR 短波近红外波前传感器SID4-SWIR-HR 高分辨率 短波红外 波前传感器SID4-NIR 近红外 波前传感器 / 波前分析仪SID4-DWIR 中远红外 波前传感器/波前分析仪SID4-eSWIR 短波红外波前传感器 / 波前分析仪R-Cube光源模块高分辨率波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器高分辨率相位成像相机高灵敏度等离子体分析仪超低读出噪声高速波前传感器 显示全部
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SID4-SWIR 短波近红外波前传感器

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高分辨率短波红外波前传感器

所属类别:激光量测设备 » 波前分析仪

所属品牌:法国Phasics公司

产品负责人:

姓名:沈工(Max)

电话:185 1673 5322(微信同号)

邮箱:xin-shen@auniontech.com


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SID4-SWIR  短波近红外波前传感器 / 波前分析仪


SID4-SWIR 简介

随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其高取样分辨率(80 x 64相位取样点)和高灵敏度,它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。


【关于Phasics】

Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器

SID4-SWIR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 SID4-SWIR波前传感器凭借其高取样分辨率(80 x 64相位取样点)和高灵敏度,它提供了从900 nm到1.7μm波段的精准波前测量。 SID4-SWIR波前传感器是一种创新的解决方案,SID4-SWIR波前传感器可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。


一、 SID4-SWIR 波前传感器主要特点


l 80 x 64 高相位分辨率

l 高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试

l 瞬时相位测量,对振动不敏感

l 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷

                 

                                 非准直光入射                                                                                                      消色差


二、SID4-SWIR 前传感器产品应


应用领域:激光行业| 汽车 | 航空航天 | 光学元件


SID4-SWIR是一种创新的解决方案,可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。


三、SID4-SWIR 波前传感器测量案例


| 气体和等离子体密度


  • 高灵敏度(噪声比 Mach-Zehnder 干涉仪低 8 倍)

  • 在低气压下测量精度高

  • 重复测量的均匀性高



自适应光学系统,可适配任何变形镜

  • 望远镜像差消除

  • 3D动态指向


四、SID4-SWIR 波前传感器主要规格


波长范围0.9-1.7 μm
靶面尺寸9.60 x 7.68 mm²
空间分辨率120 µm
取样分辨率80 x 64
相位分辨率<2 nm RMS
绝对精度15 nm RMS
采集速率120 fps
实时处理速度7 fps (全分辨率下)



五、与夏克-哈特曼波前传感器对比


六、更多参数选型