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光学断层成像OCT

光学相干断层成像系统(OCT)OCT-3D高精度成像系统OCT专用光谱仪(Wasatch)1.7MHz高速扫频光源超连续谱激光器(>3000mW, <10ps, 450-2300nm)样机免费试用Aval-data 高速数据采集卡Acqiris 高速数据采集卡OCT用体全息光栅(Wasatch)OCT内窥探头Superlum超辐射发光二极管(SLD)/宽带光源SLD光源OCT专用相机Acqiris SA220P 高速数据采集卡Acqiris SA248P 高速数据采集卡Acqiris SA3 高速数据采集卡Santec HSL 高速扫频光源低成本扫频光源红外光学相干断层成像系统 显示全部
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OCT-3D高精度成像系统

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灵眸OCT分为两大系列:SD-OCT(点扫描谱域OCT)和FF-SS-OCT(全场扫频OCT)

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所属品牌:

产品负责人:

姓名:吴工(Pete)

电话:156 1801 1391(微信同号)

邮箱:ming-wu@auniontech.com

灵眸OCT-3D高精度成像系统

 


目前主流的光学缺陷检测技术主要依赖于获取物体表面的二维信息。然而,在诸多实际应用场中,例如民用电子产品对液晶屏内部缺陷镜头组内部缺陷的检测,以及对药物涂层厚度的精准测量等,都对现有技术提出了更高的要求,迫切需要具备三维成像乃至层析成像的能力。这意味着未来的检测技术必须能够穿透材料表层,深入探测其内部结构和分层信息,以实现更全面、更精准的缺陷识别与分析。

 

技术背景:

光学相干层析成像(OpticalcoherenceTomography,OCT)是一种基于宽带光源的低相干光干涉成像技术,通过利用光的干涉原理,能够精准测量来自样品内部不同深度的散射与反射光信号,实现对样品内部的三维“层析”成像,无需接触或破坏样品,就能清晰地“切片”并重构其内部结构。



灵眸OCT分为两大系列:SD-OCT(点扫描谱域OCT)和FF-SS-OCT(全场扫频OCT)。其搭载的智能检测软件系统,能够快速生成及实时显示物体的三维层析图像,提供XY、YZ、XZ多截面视图,并允许用户实时调整图像对比度。此外,系统还支持原始数据导出,便于进行二次处理和深入分析。




一、灵眸SD-OCT

灵眸SD-OCT(点扫描谱域OCT)是一款专为透明及半透明材料检测而设计的光学层析检测系统。该系统由OCT扫描模块、接收模块、系统控制主机及高分辨率显示器等硬件构成,凭借卓越性能,高精度、高速度、大范围、高灵敏度等多重优势,带来前所未有的3D无损检测体验。

 

•可定制和组合的高分辨率OCT系统

中心波长为840nm的SD-0CT系统(详细规格请参考下表)

-A-扫描速率可达248 kHz

-空气中成像深度可达11 mm

-空气中轴向分辨率从<2.15 um到16 μm

-信噪比可达106 dB(在248 kHz扫描速率下)

•所有配置均包含高性能计算机和LM”OCT软件包

•可自由组合系统和预配置系统

 

主要参数:

系统类型

LMSD211

LMSD214

LMSD222

LMSD233

中心波长

840 nm

840nm

845 nm

870nm

成像深度(空气中)

5mm

5mm

11.3mm

2.15mm

6-dB 滚降(空气中)

2.9mm

3.1mm

6.4mm

1.45mm

轴向分辨率

7.7 μm

7.7 μm

16 μm

3.2 μm

横向分辨率

10 μm

10 μm

10 μm

3.5 μm

横向扫描范围

14.5 x14.5 mm²

28.9 x28.9 mm²

28.9 x28.9 mm²

5 x5 mm²

工作距离

42mm

42mm

94mm

7.5mm

A-Scan速度

                                                     248 kHz

 

二、灵眸FF-SS-OCT

灵眸FF-SS-OCT(全场扫频OCT)搭载了基于可调谐激光器技术的全场-扫频-光学相干层析技术,完美解决了传统点扫描光学相干层析在大范围成像时面临的速度瓶颈,实现对透明或半透明样品的内部缺陷进行大范围、高速度、高空间分辨和高灵敏度的三维成像,获得其精细的内部三维结构信息。

 

•可配置的高分辨率OCT系统

•中心波长为775 nm的FF-SS-0CT系统(详细规格请参考下表)

-面扫速率可达2100 HZ

-空气中成像深度可达4.2 mm

-空气中轴向分辨率小于15 um

•所有配置均包含高性能计算机和LM°OCT软件包

•可自由组合系统和预配置系统

 

主要参数:

系统类型

LMFFSS211

LMFFSS222

中心波长

775 nm

775 nm

成像深度(空气中)

4.2 mm

3.3 mm

6-dB 滚降(空气中)

2.7 mm

2.9 mm

轴向分辨率

14.8 μm

12.4 um

横向分辨率

10 μm

10 μm

横向扫描范围

27 x 27 mm²

17 x 10 mm²

工作距离

125 mm


相机面扫速度

305 Hz

2099 HZ

 

高速光谱仪系列:SD-OCT光谱仪

 

光谱仪系列产品,凭借其出色的光谱分辨率和光谱响应效率,已成功应用于基于SD-OCT的在线质量检测产品中。紧凑型高通量SD-OCT光谱仪能在其他SD-OCT光谱仪难以触及的深度下,提供高分辨的光谱细节。



主要参数:

光谱仪类型

标准版

k-linear(波数线性)

大深度

高轴向分辨率

成像深度(空气中)

5 mm

5 mm

11.3 mm

2.15 mm

6-dB滚降(空气中)

2.9 mm

3.1 mm

6.4 mm

1.45 mm

波长范围

805-875 nm

805-875 nm

829-861 nm

780-960 nm

带宽

70 nm

70 nm

32 nm

180 nm

光谱分辨率

0.035 nm

0.035 nm

0.016 nm

0.09 nm

轴向分辨率

7.7 μm

7.7 μm

16 μm

3.2 μm

线扫速率

20 kHz、80 kHz、130 kHz或250 kHZ

像素

2048

接口

USB 3.0(~130   kHz)或 Camera Link( ~250 kHz)

尺寸

254x195 x100 mm³

212x204x100 mm³

340x220x110 mm³

230x100x100 mm³

重量

4.2kg

3.7kg

6.5kg

2kg

为更好应对多种轴向探测范围(深度)需求,高速光谱仪系列提供多种版本配置探测深度从2.2 mm到11.3 mm,具有出色的6-dB滚降深度,相机线扫描速率可达20 kHz到250 kHz。

●基于透射式体光栅的高灵敏度 SD-OCT 光谱仪设计

●卓越的光谱探测效率和更深处图像的清晰度

●出色的光谱解析能力

●行业线扫描速率,可达 250 kHz很小的偏振依赖性,坚固、紧凑,并可根据需求定制

 

应用方向

工业产品检测:玻璃制品检测;镜片/镜头组检测;屏幕/LED/多层薄膜检测;碳纤维复合材料检测;陶瓷涂层检测;微深孔检测;医疗药物检测等


工业制程检测:涂胶质量检测;焊接质量监测;喷涂镀层检测;半导体工艺检测等


材料检测:艺术品检测;高分子材料检测;隐形眼镜生产检测等


 


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