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热物性分析

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芯片热测试与冷却验证系统

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  • 芯片热测试与冷却验证系统
通过可编程芯片热负载,验证冷板、导热界面材料与封装散热设计

所属类别:材料分析设备 » 热物性分析

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产品负责人:

姓名:吕工( Klein)

电话: 156 0165 6079(微信同号)

邮箱:qiongkun-lv@auniontech.com

芯片热测试与冷却验证系统

面向芯片、封装与数据中心冷却研发的可编程热测试平台

芯片热测试与冷却验证系统产品简介

芯片热测试与冷却验证系统采用台式集成结构,通过热测试载体(Thermal Test Vehicle,TTV)模拟集成电路的热行为。TTV中的热测试芯片(Thermal Test Chip,TTC)集成加热阵列与温度传感器,可以依据输入的功率分布图建立空间非均匀热负载。研发人员能够在获得实际功能芯片之前开展冷却方案评估,并观察不同功率分布及动态负载下的温度变化。

系统适用于冷板、导热界面材料(TIM)及芯片封装相关的散热验证。测试时,将待评估的冷却装置安装在所选TTV上,通过显示与控制单元设置实验,读取局部温度并记录数据。冷却装置及其配套循环条件需根据测试对象另行配置。

芯片热测试与冷却验证系统产品特点

可编程空间热负载:系统按照功率分布图控制热测试芯片上的加热阵列,用于模拟芯片中不同位置的发热差异,帮助分析局部热点对冷却效果的影响。

支持稳态与瞬态实验:可加载多个功率分布图并设置运行时间,开展固定热负载、功率切换与功率循环等实验,比较冷却方案在不同运行条件下的表现。

集成温度采集与数据展示:通过热测试芯片内置的电阻温度传感器读取局部温度,支持选择多个测温点进行实时曲线比较,并保存实验记录。

实验数据便于后续分析:测试结果可导出为CSV格式,便于与仿真结果及其他实验数据进行整理、比较和分析。

按芯片结构选择TTV:Chinook采用单芯片布局;Blizzard采用模拟XPU与HBM结构的多芯片布局,可根据研究对象、热分布和机械安装要求选择。

芯片热测试与冷却验证系统主机技术参数

参数描述
产品形式台式热测试与冷却验证系统
直流功率容量2000 W
输出电压/电流48 V/50 A(数据单标称)
输入电压90–264 V AC
主机尺寸(长×宽×高)428 mm×300 mm×143 mm
重量11 kg
显示屏13.3英寸IPS触控屏,1920×1080
操作系统Linux
实验控制功率分布图加载、运行时序设置、稳态与瞬态实验
数据展示与导出多测温点曲线比较、实验数据保存、CSV导出

芯片热测试与冷却验证系统TTV配置与选型

Chinook TTV采用单颗热测试芯片,适合单芯片热分布模拟及冷却方案研究。其热测试芯片尺寸为34 mm×26 mm,加热区尺寸为2 mm×2 mm。

Blizzard TTV采用10颗硅热测试芯片,分别模拟2颗XPU与8颗HBM,面向多芯片封装结构的热管理研究。XPU与HBM采用不同的加热区配置,选型时应结合热点位置、区域功率和总功率要求进行确认。

参数Chinook TTVBlizzard TTV
布局单颗热测试芯片2颗XPU+8颗HBM热模拟芯片
TTV外形尺寸165 mm×102 mm×16 mm165 mm×102 mm×16 mm
热测试芯片尺寸34 mm×26 mmXPU:30 mm×26 mm;HBM:10 mm×12 mm
加热区尺寸2 mm×2 mmXPU:2 mm×4 mm;内侧HBM:2 mm×12 mm;外侧HBM:4 mm×12 mm
局部功率密度上限10 W/mm²,单区40 WXPU:10 W/mm²,单区80 W;内侧HBM:2.9 W/mm²,单区70 W;外侧HBM:0.7 W/mm²,单区34 W
推荐连续工作温度上限100℃100℃
峰值温度上限120℃120℃
温度检测热测试芯片内置电阻温度传感器热测试芯片内置电阻温度传感器
系统兼容性与Therminator兼容与Therminator兼容

参数依据Corintis《Therminator Datasheet 2026》。温度参数指所列TTV的工作温度,不代表主机环境温度。局部功率密度适用于对应加热区域,实际可用功率取决于主机、TTV配置及冷却条件。TTV为可选择的配置,具体配置请咨询。

芯片热测试与冷却验证系统典型应用

冷板与液冷方案验证:比较不同功率分布、局部热点及动态负载条件下的温度响应,为冷板和冷却结构设计提供实验数据。

导热界面材料评估:在选定的封装与装配条件下,观察不同TIM方案及功率循环过程中的热表现,辅助材料筛选和应用验证。

多芯片封装热管理:使用对应TTV布局模拟多个热源的相互影响,研究XPU与HBM等组件组合下的散热问题。

热模型校准:将实测温度分布及时间响应与计算模型比较,为热仿真参数调整和模型验证提供依据。

芯片热测试与冷却验证系统选型说明

Therminator芯片热测试与冷却验证系统的可用热负载受主机总功率、所选TTV各加热区域限值及实际冷却条件共同约束。表中局部功率密度不表示整片芯片可以同时达到该数值。TTV用于模拟热行为,具体布局及安装适配需结合测试对象确认。

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