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激光光束质量分析仪

高性价比!光束分析仪光斑功率测量仪 - CINOGY INSIDE产品解决方案系列全自动近场光束分析仪 - CINOGY INSIDE产品解决方案系列UV-NIR光束分析仪(150-1700nm)- CinCam 系列大口径光束分析仪 - CinCam CMOS系列超小尺寸光束分析仪-CinCam Pico系列紧凑型高精度M2测量仪 (光束质量分析仪) - CinSquare系列高功率焦点光斑分析仪 - CinSpot FBP系列高性价比!焦点光斑分析仪 - CinSpot AUT-1204系列近场光束分析仪 - NFBP系列线性光束测量分析仪 - CinLine系列中红外激光光束分析仪 (1.5~8um)高功率 宽光谱 光束质量分析仪 KLT-UBP (190nm-5000nm)CinAlign-在线调试光束分析仪中性密度滤波片 显示全部
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高性价比!光束分析仪

  • 高性价比!光束分析仪
  • 高性价比!光束分析仪
物美价廉!波段覆盖400~1320nm;强大的光束分析测量功能:直径、能量分布、均匀性、发散角等等;

所属类别:激光量测设备 » 激光光束质量分析仪

所属品牌:德国Cinogy公司

工业市场(南方)

姓名:陈工(Mack)

电话: 131 2257 8250(微信同号)

邮箱:baoyan-chen@auniontech.com

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工业市场(北方)

姓名:刘工(Eric)

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科研市场

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科研(江浙沪)市场

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  高品质激光光束分析仪的价格革命!


  

  让所有需要分析激光光束的客户均能用上专业的激光光束分析仪!





产品简介:

以往激光光束质量分析仪偏高的价位使很多激光生产商及激光使用者望而却步。仔细分析其价格构成不难发现,传统光束质量分析仪提供复杂但不实用的功能,绝大多数用户在使用中可能永远用不到这些功能。但目前各光束分析仪公司均将全部光束分析功能打包集成在一套软件中进行销售,导致客户等于是白白为这些可能永远用不上的功能而付费。


为满足普通用户的需求,德国光束质量分析仪厂商Cinogy公司日前推出了其划时代的 Cost-Effective激光光束分析仪 CinCam cmos系列激光光束分析仪。

  • CinCam CMOS采用1280 x 1024像素高分辨率百万像素高灵敏度CMOS相机,动态范围2500:1,USB2.0高速传输组件,硬件性能上毫不妥协!

  • USB直接供电、体积小巧(40mm x 40mm x 20mm)、重量轻(~46g),使用更轻松!

  • 配套强大的基本版测量分析软件RayCi-Lite,可以满足各种光束分析所需基本分析及测量功能,如:光斑直径、光束位置、椭圆度、X/Y能量分布、光束均匀性、发散角、功率等等测量分析功能,实际可以为客户节省下绝大部分的软件沉默成本;

因此,我们真正做到了让用户在非常低的成本下,可以有一个性能非常强大的激光光束测量分析产品解决方案;

  

此外,为满足不同成本和性能的客户的要求,CinCam CMOS配套软件RayCi提供另外两个版本可供客户选择,分别是多功能的标准版RayCi-Standard及全功能的专业版RayCi-Pro;提供所有光束分析仪应具备的分析测量功能,可以为客户提供全栈式的激光光束实时测量和分析的产品解决方案。


 


主要技术指标:

相机型号:

CinCam CMOS-1201ELCinCam CMOS-1202

口径规格:

1/2’’1/1.8’’

响应波长范围:

400nm~1150nm400nm~1320nm

通光孔径

6.7mm x 5.3mm6.8mm x 5.4mm

像素:

1280 x 10241280 x 1024

像素尺寸:

5.2um x 5.2um5.3um x 5.3um

动态范围:

68dB62dB

激光器模式:

连续和脉冲激光(重频>10KHz)兼容连续和脉冲激光

供电接口:

USB2.0USB2.0

分析软件:

RayCi-LiteRayCi-Lite



主要测量功能:

  • 光斑直径(长轴/短轴,X/Y方向)

  • 椭圆度,高斯拟合度

  • 能量分布,光束位置,发散角

  • 光束均匀性测量,符合行业国标要求

  • Pass/Fail功能,为生产提效

  • 图形化界面,易上手,可自由设置

  • 支持实时测量、数据保存和输出(excel文件和图片格式等)

  • 软件支持二次开发(我司也可提供二次开发及光机电整套解决方案服务)



功能介绍视频:




RayCi-Lite软件:主要测量功能示意图


  • 光斑直径、光束位置、椭圆度、X/Y能量分布


  • 光束均匀性


  • 发散角



CinCam CMOS激光光束分析仪可以被广泛用于:

  • Laser beam analysis of cw and pulsed lasers

  • Quick control of laser modes and adjustment errors

  • Test equipment for scientific research

  • Near-Field and Far-Field analyses of lasers, LED devices and other light sources

  • Integration in optical systems

......


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