昊量光电深耕 X 射线光谱检测技术，打造 hardLIGHT 系列高性能 X 射线光谱仪产品矩阵，覆盖 2-30 keV 宽能段，针对等离子体扩展源、同步辐射 / FEL 束线源、中能台式 X 射线源三大典型应用场景，推出三款差异化产品：hardLIGHT plasma、hardLIGHT beams与hardLIGHT TXS。
全系列采用高精度晶体色散架构，支持多种光学构型与探测器定制，兼顾高能量分辨率、高光子效率与场景适配性，为聚变研究、材料科学、加速器物理、激光等离子体等领域提供可靠的光谱表征方案。
hardLIGHT plasma 等离子体 X 射线光谱仪
hardLIGHT plasma 是面向扩展型 X 射线源的定制化晶体 X 射线光谱仪，专为核聚变研究、等离子体物理实验打造，可对大尺寸分布的 X 射线源实现精准的能谱诊断。
能量覆盖范围宽，支持 2–30 keV 光子能段
双光学构型可选：扫描 Johann 型 / 色散 von Hamos 型
晶体与探测器配置灵活，支持 HAPG 等高阶晶体选型
全参数可定制，适配不同等离子体实验的诊断需求
hardLIGHT beams 束线型 X 射线光谱仪
hardLIGHT beams 是面向束线型点光源的 X 射线光谱仪，专为激光驱动等离子体加速器、同步辐射、FEL 光束线等准直点型 X 射线源打造，可实现高精度的 X 射线光谱表征。
针对点型 X 射线源优化光路，适配各类专业束线实验场景
宽能段覆盖，支持 2–30 keV 光子能量范围
提供丰富的定制化选项
hardLIGHT TXS 中能 X 射线光谱仪
hardLIGHT TXS 是 hardLIGHT 系列中聚焦2-4 keV 中能（Tender）X 射线段的紧凑型一体化光谱仪，创新集成在线束流诊断与X 射线发射光谱（XES）双工作模式，兼顾束流表征与材料谱学分析能力，是 HHG 光束线、台式 X 射线激光站的高性价比检测设备。
诊断模式：非侵入式在线束流表征。采用背散射探针的无干扰光路架构，主光束透射率＞90%，光束经过光谱仪后几乎无损耗，可直接用于下游实验，实现真正的非侵入式在线监测。支持单发（single-shot）光谱测量，可实时获取脉冲 X 射线源的光子能量、光谱分布等关键参数，完美匹配脉冲型 X 射线源的测试需求。
XES 模式：高分辨材料发射光谱分析。仅需将背散射探针替换为待测样品，即可快速切换至 X 射线发射光谱测试模式。仪器集成一体化样品台，支持原位 XES 测量，可灵敏捕捉元素化学位移，精准解析材料的电子结构与化学价态，为电池、催化等领域的材料研究提供核心数据支撑。
双模一体：背散射式非侵入束流诊断（透射率＞90%），可快速切换 XES 材料测试模式
2–4 keV 能段专属优化，能量分辨率达 0.3 eV，精准分辨化学态差异
采用 von Hamos 光学架构，电动闭环晶体调节，运行稳定可靠
机身紧凑便携，可灵活转移部署于不同实验站点
支持探测器、真空等级、滤光单元等多种定制选配
应用领域：
核聚变研究
激光等离子体物理
等离子体放电实验
同步辐射光束线
X 射线自由电子激光（XFEL）
激光驱动等离子体加速器
高次谐波产生（HHG）光束线
原位谱学实验
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