延迟探测器
延迟探测器（delayline Detectors）具有出色的时间分辨率、高达几十MHz采样和动态1D/2D /3D直方图，将微观粒子分析提升到高速测量的新水平。如上图，微通道板探测器（MCP）提供了高性能电子、离子及光子成像。如果应用程序进行单事件分析，则MCP的延迟探测器（Delayline Detectors）读出是很好的选择，因为Delayline检测器（DLD）能够实现真正的单事件计数，具有高信噪比和高时间分辨率。
延迟探测器（Delayline Detectors）读出在所有时间分辨MCP读出系统中具有优势，因为它们提供的时间切片图像具有很高强度线性，时间窗口低至100ps以下。
延迟探测器（Delayline Detectors）关键参数
| Active Diameters | 10mm - 120mm |
| Lateral Resolution | down to 50µm |
| Imaging Countrate (Permanent Random) | > 5 million counts/s |
| Imaging Countrate (Special Layouts) | > 20 million counts/s |
| Max. Burst Rate | up to 100 million counts/s equivalent |
| Multi-Hit Designs | >= 4 hits |
| High Voltage Floating Capability | up to 10kV |
| Time Bin Resolution | 6.8ps |
| Typical Time Resolution (Position Integrated) | < 200ps |
| Start Repetition Rate | max. 9MHz |
| Standard COMS | USB 3.0 & GBit LAN |
延迟探测器（Delayline Detectors）配置示意图
延迟探测器（Delayline Detectors）应用领域：
电子和离子的飞行时间分析（TOF）
时间相关或时间符合光子和粒子成像
用于X射线和电子能谱的门控成像
检测尺寸达120mm的大面积计数成像(XPS, UPS, EELS)
电子能量和飞行时间分析仪(XPS, UPS, EELS)
飞行时间光电电子显微镜(ToF PEEM)
中能离子散射与飞行时间分析(MEIS - ToF)
原子探针断层扫描/显微镜(APT, 3D-AP)
X射线吸收/发射光谱(XAS, XES)
门控对比增强X射线皮秒成像
荧光寿命成像(FLIM, FLIM- FRET)
* 可根据要求提供部分订制，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司
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