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高精度波片相位延迟测量系统

  • 高精度波片相位延迟测量系统
  • 高精度波片相位延迟测量系统
0.005λ 高精度波片/相位延迟检测系统!

所属类别:光学检测设备 » 偏振 | 双折射成像设备

所属品牌:美国Meadowlark optics公司

产品负责人:

姓名:陈工(Jack)

电话:186 2116 1680(微信同号)

邮箱:changying-chen@auniontech.com

高精度波片相位延迟测量系统

 

高精度波片相位延迟测量系统产品简介:

         Meadowlark Optics公司新推出的延迟测量站TB1000型是市面上首款用于高精度测量波片的商业产品。高精度波片该交钥匙、全封闭的系统可以用于测量多阶波片和同材料复合零阶波片(蓝宝石、氟化镁和石英)的相位延迟

        高精度波片相位延迟测量系统十分方便客户现场进行延迟测量,能够在几秒钟内测量多阶石英、蓝宝石和氟化镁波片等待测件的相位延迟。系统配备630nm光源,系统的相位延迟检测精度可达0.005λ以内。

        高精度波片相位延迟测量系统用途广泛且便携,可以用于R&D实验室或生产车间等环境。

  

 

高精度波片相位延迟测量系统产品特点:

  • 一键式高速延迟测量(<2s)

  • 高度可重复测量

  • 快轴对准检查

  • 自动明暗参考

  • 用户友好的软件界面

  • 包含参考延迟器(标准件)

 

高精度波片相位延迟测量系统产品参数:

 

高精度波片相位延迟测量系统测试案例:

 


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产品标签:波片,相位延迟,零级波片,多级波片,消色差波片,四分之一波片,半波片,方解石(CaCO3),氟化镁(MgF2),蓝宝石(Al2O3),云母