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膜厚测量仪

昊量光电提供膜厚测量仪、激光干涉膜厚测量仪、激光干涉薄膜测量系统等。其中Semiconsoft高性价比光学干涉膜厚测量仪,Semiconsoft膜厚测量仪简单一键式操作,膜厚测量仪测量厚度从1nm到1.8mm,重复性0.001nm,膜厚测量仪波长范围200nm-1700nm,Semiconsoft膜厚测量仪适用于单层、多层、光刻胶、氧化物、氮化物、高聚物、透明膜、光学膜厚度折射率的测量。