粒子探测器是用于捕获和测量带电粒子（电子、离子）或不带电粒子（中子）的核心器件，广泛应用于质谱、空间物理、核物理、电镜及表面分析等领域。根据探测方式的不同，粒子探测器可清晰地分为直接探测和间接探测两大类。直接探测即带电粒子直接轰击探测器的敏感材料，并在其中产生可测量的物理效应（如电荷、电子-空穴对），信号直接从材料本身读出，如法拉第杯、半导体探测器。间接探测即粒子先轰击闪烁体或荧光屏等转换介质，将粒子信号转换为光子（可见光），再由后续的光学探测器（如相机）来记录光信号，如闪烁体探测器，微通道板探测器。
