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光学断层成像

1.7MHz高速扫频光源OCT光谱仪OCT采集卡光学相干断层成像系统(OCT)红外光学相干断层成像系统 显示全部
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红外光学相干断层成像系统

  • 红外光学相干断层成像系统
中红外相干断层成像,独特的研究视角!穿透深,分辨率高!

所属类别:显微成像系统及组件 » 光学断层成像

所属品牌:

产品负责人:

姓名:吴工(Pete)

电话:156 1801 1391(微信同号)

邮箱:ming-wu@auniontech.com

中红外光学断层相干成像系统(MIR OCT



中红外OCT利用红外光对特定材料的穿透性能,比如工业膜,陶瓷,纸张,纤维、聚合物等,可用于无损检测、厚度测量、亚表面缺陷检测等。


参数指标:


中心波长

4.1

um

带宽

1.1

um

轴向分辨率(in air)

<9

um

横向分辨率

<16

um

成像深度(in air, 6dB roll off)

2.3

mm

线扫速度

3.3

kHz

B-Scan采样时间(1,000 point)

0.3

s

扫描面积(mirror scan)

3×3

mm

扫描面积(mechanical stages)

75×75, 100×100, or 200×200

mm

设备尺寸(L×H×W)

65×65×170

cm

设备重量(Plastic/MDF/steel carbinet)

65 /80 /100

Kg

Maximum样品尺寸

75×75, 100×100,   or 200×200

mm


应用图例:


                   信用卡内部芯片成像                                                        氧化铝陶瓷亚表面结构


  


*** 其他详细应用信息可咨询上海昊量光电设备有限公司。

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产品标签:中红外光学相干断层成像系统,中红外光学相干断层成像显微镜,MIR OCT,红外OCT,中红外OCT