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波前分析仪

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SID4-eSWIR 短波红外波前传感器 / 波前分析仪

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SID4-eSWIR 短波红外波前传感器/波前分析仪


【SID4-eSWIR简介】


随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-eSWIR波前传感器将Phasics的四波剪切技术与T2SL探测器结合在一起,提供覆盖1.0至2.35 µm扩展短波红外波段的高分辨率波前传感器。 SID4-eSWIR是一种创新的解决方案,可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。


【关于Phasics】


Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。


 一、 SID4-eSWIR 波前传感器主要特点


  • 1.0至2.35 µm扩展波段全覆盖

  • 80 x 64高相位分辨率

  • 瞬时相位测量,对振动不敏感

  • 可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷


二、SID4-eSWIR 波前传感器产品功能


  • 波前像差测量


基于四波剪切技术,Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合,可提供完整的激光诊断:波前像差、强度分布、激光光束质量参数(M2、束腰尺寸和位置等)。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点,无论光束是准直的还是发散的。SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器,专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。

                


三、SID4--eSWIR 波前传感器应用领域


激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统计量


四、SID4-eSWIR 波前传感器主要规格

波长范围1 - 2.35 µm
靶面尺寸9.60 x 7.68 mm²
空间分辨率120 µm
取样分辨率80 x 64
相位分辨率< 6 nm RMS
绝对精度< 40 nm RMS
实时处理速度10 fps (全分辨率下)*
接口种类USB 2.0



五、更多参数选型