全自主国产化皮米级光谱分辨率高端光栅光谱仪
高分辨率光栅光谱仪CM·OS系列产品简介
CM·OS系列高分辨率光栅光谱仪是一 款测量波段包含紫外，可见光和近红外波段（200nm-1700nm）的具有极高分辨率的光谱仪。CM·OS系列扫描快速，分辨率高，软件流畅适配度高，适用范围广，技术可靠，满足大多数应用场景下的测量。
设备采用闭环式光谱扫描反馈架构，波长允许误差低，优于国内同类产品，10ns 超短积分时间，可精准捕捉各类瞬态发光信号。整机元器件 100% 国产化，彻底解决进口光谱设备采购贵、交付慢、售后难、改造受限等痛点，大幅降低科研单位与企业的使用成本。
系列包含CM・OS1000-UV、CM・OS500-UV、CM・OS500-NIR三款型号，主机支持双入口、双出口选配，可搭载300/600/1200/2400线多种光栅，配备手动/电控狭缝，可见光采用制冷型线阵ccd、近红外搭载制冷铟镓砷线阵探测器，兼容FC、ST两类光纤接口，硬件配置灵活适配多样化测试需求，可用于多种场景下的瞬态发光源的光谱测试的测量，如实验室、激光器、火炸药爆炸、发动机尾焰、闪光灯、脉冲激光器、等离子体、同位素发光、电离辉光等瞬态发光源的光谱测试。
高分辨率光栅光谱仪CM·OS系列核心特点
皮米级光谱分辨率
解决高端科研领域超精细光谱识别问题，杜绝精细谱线的误判漏检，测量更稳，更准，更真
波长覆盖范围广
覆盖紫外、可见光和近红外波段（200nm ~1700nm），测量范围全
元器件100%国产化，品质可控、成本更低
解决进口设备“贵、慢、卡、难、险”行业顽疾，缩短售后及定制改造周期，有效降低企业成本
精细光谱测量，位列国际前沿水平
光谱分辨率可达18pm，与白俄罗斯SOL公司、英国安道尔公司同类型产品光谱分辨率技术指标持平
波长允许误差小
采用闭环式光谱扫描反馈模式，实现波长允许误差低于±0.005nm，优于国内同类产品一个数量级
高分辨率光栅光谱仪CM·OS系列参数指标
高分辨率光栅光谱仪 | CM·OS1000-UV | CM·OS500-UV | CM·OS500-NIR |
光谱范围 | 200nm～1050nm | 300nm～1050nm | 900nm～1700nm |
光谱分辨率（典型值） | 0.03nm (@2400l/mm) | 0.05nm (@2400l/mm) | 0.1nm (@1200l/mm) |
光谱分辨率（极限值） | 0.02nm (@2400l/mm) | 0.03nm (@2400l/mm) | — |
波长允许误差（MAX） | ±0.05nm | ±0.1nm | ±0.1nm |
波长测量重复性 | ±0.005nm | ±0.05nm | ±0.05nm |
积分时间（MIN） | 10ns | 10ns | 10ms |
主机结构 | 双入口、双出口可选 | ||
光栅选项 | 2400 线 / 1200 线 / 600 线 / 300 线（根据光谱范围及分辨率选择） | ||
入口狭缝 | 电控狭缝 / 手动狭缝 | ||
探测器类型 | 可见光：线阵 CCD / 制冷型线阵 CCD 近红外：线阵铟镓砷 / 制冷型线阵铟镓砷探测器 | ||
光纤接口 | FC 接口 / ST 接口可选 | ||
高分辨率光栅光谱仪应用场景
高分辨率光栅光谱仪CM·OS系列产品可用于多种场景下的瞬态发光源的光谱测试的测量，如实验室、激光器、火炸药爆炸、发动机尾焰、闪光灯、脉冲激光器、等离子体、同位素发光、电离辉光等瞬态发光源的光谱测试。
问答小贴士
高分辨率光栅光谱仪主要用来做什么？
主要用于测试一些多波段的复合光的波长，能在科研和军工等领域进行精细的测量。
光栅光谱仪与其他类型的光谱仪有什么优点？
光栅光谱仪可以根据需要测量的光选择不同的光栅，谱线区域更广，对瞬态发光源的光谱测试能力更强。
CM·OS系列光谱仪覆盖哪些测量波段？
整机覆盖紫外、可见光和近红外波段（200nm ~1700nm），细分三种型号，不同型号对应不同波段的测量。
波长测量精度怎么样，误差有多大？
CM·OS系列光谱仪采用闭环式光谱扫描反馈模式，波长误差低于±0.005nm。
狭缝支持哪些类型？
入口狭缝支持电控狭缝和手动狭缝两种选择，电动款可以通过软件调节通光宽度，自动化实验更便携。
能不能捕捉瞬态、脉冲类信号？
可以，CM·OS1000-UV积分时间可低至10ns，能采集毫秒和纳秒级的瞬时发光和脉冲光源。
皮米级高分辨率光栅光谱仪，测量更稳，更准，更真。
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