法国Phasics成立于2003年，提供最先进的光学计量和成像解决方案。PHASICS公司波前传感器采用其获得专利的四波横向剪切干涉测量术(QWLSI)。这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性，从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。
近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉，公司提交申请的高精度红外（3-5um &8-14um）/近红外（900-1700nm）波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外（3-5um &8-14um）和SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器时无需再提供最终用户备案。
下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪：
1. SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器
图1 SID4-SWIR波前分析仪
SID4-SWIR近红外（900-1700nm）波前传感器产品特点：
高相位分辨率：160x128 or 80x64
高重复度：<2nm RMS
高测量精度：15nm RMS
工作波段：900-1700nm
高灵敏度：可适用于低功率红外光源测试
瞬时相位测量，对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷
2. SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪
图2 SID4-DWIR波前分析仪
SID4-DWIR红外（3-5um & 8-14um）波前分析仪产品特点：
宽工作波段：3-5um & 8-14um
高相位分辨率：160x120
高重复度：25nm RMS
高测量精度：75nm RMS
对振动不敏感
可接受非准直光入射，光路搭建简易快捷
3. 近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统
图3 Kaleo Kit红外测试模组
近红外 or 红外光学元器件面型、透射波前、MTF测试系统产品特点：
多波长：266nm, 355nm, 405nm，550nm, 625nm, 780nm, 940nm, 1050 nm，1.55um, 2.0um, 3.39um, 10.6um
大口径：Up to 5.1”(130mm)
高重复度精度：<0.7nm RMS
高测量精度：80nm PV
对震动不敏感
测试案例：
图4 非球面测试结果
图5 平面测试结果
图6 镜头透射波前测试结果
图7 镜头MTF测试结果
上海昊量光电作为Phasics公司在中国大陆地区最大的代理商，为您提供专业的选型以及技术服务。如您对Phasics公司的波前传感器产品或者测试系统感兴趣或者任何问题，都欢迎通过电话、电子邮件或者微信与我们联系。
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