波前表征了光线是如何传播的，在光学中有着非常重要的作用，而如何准确迅速的测得波前就非常的重要了。波前测量技术从1900年的哈特曼小孔掩膜测量法，到1970年的夏克-哈特曼微透镜阵列掩膜法。2000年，Phasics改进了夏克-哈特曼技术，重新设计开发了带有自己专利的掩膜，得到了Phasics 4波横向剪切波前探测器。
4波横向剪切干涉波前传感器及SID4
一、波前探测技术
波前表征了光线是如何传播的，在光学中有着非常重要的作用，而如何准确迅速的测得波前就非常的重要了
波前测量技术从1900年的哈特曼小孔掩膜测量法，到1970年的夏克-哈特曼微透镜阵列掩膜法。2000年，Phasics改进了夏克-哈特曼技术，重新设计开发了带有自己专利的掩膜，得到了Phasics 4波横向剪切波前探测器。
二、技术原理
待测光进入到传感器，经过衍射光栅分光，使±1级共4束衍射光通过，用ccd记录干涉条纹。
采集到的干涉条纹，经过傅里叶变换，分别提取到强度图和XY方向的相位梯度，并合成为相位图。这样通过一次采集，就得到了该位置处的强度和相位信息，同时也能推算出其他位置处的强度和相位信息。
一次拍摄，能同时解出强度和相位。
三、优势
1、相比于夏克-哈特曼传感器，采样点更多，具有更高的分辨率。
2、灵活易用，通过简单的设置就能进行测量。
3、消色差，一个传感器就可用于400-1100波长范围内的测量。
四、探测波长
包括从紫外（150nm）到远红外（8.14um）一系列波长范围
五、应用案例
激光测试解决方案
M2、斯特列尔比、Zernike、束腰位置和尺寸、 PSF；
可测试光束质量；
可测量气体和等离子体密度。
a.光束质量
b.自适应光学
c.气体和等离子体测试
气体和等离子体测试方案。探测光束通过等离子体，并经历了相移，由于局部折射率变化；SID4 HR直接测量光束的相位，并将其转换成密度信息。
得益于Phasics的专利技术，改善了波前测量方法，并适用于许多应用。
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