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阻抗分析与断层成像

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日置阻抗分析仪IM3570

  • 日置阻抗分析仪IM3570
1台集成,双重高速: 0.5ms实现LCR与扫频连续测量,效率倍增。

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产品负责人:

姓名:李工(Lucas)

电话:131 6719 0195(微信同号)

邮箱:chenyang-li@auniontech.com

阻抗分析仪IM3570

阻抗分析仪IM3570为测量频率4Hz~5MHz,测试电平5mV~5V的LCR电桥与阻抗分析 仪合二为一的仪器。可以用交流信号测量LCR、直流信号测量电阻(DCR)、测量频率和 电平能连续和变化的情况下进行扫描测量等。 因为能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量,仅用一台IM3570就能 取代现在用在生产线上的众多仪器。


日置阻抗分析仪的概要:

 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下 zui快 1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
搭配4ch扫描模块机架,更能实现2MHz阻抗的4ch测量


日置阻抗分析仪基本参数

测量模式LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q
测量量程100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)
显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示绝对值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)
基本精度Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源AC90~264V,50/60Hz,zui大150VA
打印拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
电源AC90~264V,50/60Hz,zui大150VA
体积和重量330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件电源线×1,使用说明书×1


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产品标签:阻抗分析仪IM3570,日置,HIOKI,LCR测量,阻抗分析仪,高速测量,高精度测量,扫频测量,压电元件,共振特性,功能性高分子电容,ESR测量,电感器,DCR测量,L-Q测量,无线充电评价系统,TS2400,4ch扫描模块,测量频率4Hz~5MHz,基本精度±0.08%,测量参数Z,θ,Rdc,直流电阻,电池阻抗解析,Multi-plot软件,等效回路分析