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拉曼光谱成像系统

免费测试!Nanobase拉曼光谱成像/光电流成像/荧光寿命成像测试服务NT-MDT原子力显微镜惊爆价!50万RMB!高速大面积共聚焦拉曼成像系统Ultimate多功能(光电流+荧光寿命+拉曼光谱)成像系统超高灵敏度共聚焦拉曼成像系统超高速显微拉曼成像光谱仪XperRam Photocurrent光电流成像光谱系统滑动式二硫化钼CVD制备设备石墨烯CVD制备设备 显示全部
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NT-MDT原子力显微镜

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NT-MDT 原子力显微镜,精度高,可拓展性强!

所属类别:材料分析设备 » 拉曼光谱成像系统

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电话:156 0161 2521(微信同号)

邮箱:hanqiao-liu@auniontech.com

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自1998年以来,NT-MDT已成功地将AFM与光学显微镜和光谱技术相集成。支持包括HybriD ModeTM在内的30多种基本和高级AFM模式,可提供有关样品表面物理性质的广泛信息。 AFM与共焦拉曼/荧光显微镜的集成提供了有关样品的更多信息。


完全相同的样品区域同时测量的AFM和拉曼图可提供有关样品物理性质(AFM)和化学成分(Raman)的补充信息。


NTEGRA Spectra II借助尖端增强拉曼散射(TERS),可以进行纳米级分辨率的光谱学/显微术。特制的AFM探针(纳米天线)可用于TERS,以增强和定位尖端顶端附近纳米级区域的光。


这种纳米天线充当光的“纳米源”,从而提供了光学成像的可能性,其分辨率小于衍射极限(max〜10 nm)。扫描近场光学显微镜(SNOM)是获得旋光性样品的光学和光谱图像的另一种方法,其分辨率受探针孔径大小(〜100 nm)限制。

NT-MDT 原子力显微镜系统光路图


所有可能的激发/检测和TERS的解决方案

应用

CdS纳米线通过导电聚合物纳米线与金属电极连接。 AFM探针借助观察显微镜定位在结构上。 由于AFM探针的形状,激光可以直接定位在尖端顶点上。

高分辨率AFM图像可提供有关样品形貌的信息。 从同一区域获取的拉曼图和发光图显示出纳米线化学成分的差异。


光学图片

                                          

                原子力显微镜扫描图                       拉曼扫描图                                荧光扫描图                                    拉曼谱


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产品标签:原子力显微镜,TERS,二维材料,半导体,晶圆,纳米材料,纳米器件,NT,MDT,原子力显微镜,针尖增强拉曼散射,原位AFM,TERS,AFM+Raman,NT,MDT