星朗浩宇拟亮相2026深圳国际全触与显示展，聚焦真空成膜实时膜厚监测（展位号：16B66）
2026深圳国际全触与显示展将于10月27—29日在深圳国际会展中心（宝安新馆）举行。展会聚焦新型显示、智慧触控及终端应用，为材料、设备与制造企业搭建技术交流和供需对接平台。
星朗浩宇光电科技（上海）有限公司拟携薄膜检测与光谱表征方案参展，展位号：16B66，重点介绍 Semiconsoft MProbe50 真空原位实时膜厚测量系统及 UVVisF 门控配置，面向 OLED、显示功能薄膜及半导体成膜工艺，展示实时光学监测的应用价值。
在显示薄膜研发与制造中，膜厚和光学常数是影响薄膜光学表现及器件性能的重要因素。将测量引入沉积过程，可以帮助研究人员与工艺工程师及时了解薄膜生长变化，分析工艺条件与成膜结果之间的关系。
MProbe50 支持真空环境下的薄膜厚度监测，并可结合光学模型分析折射率 n、消光系数 k。针对具有适当透光性的膜层，系统能够连续获取测量数据，为沉积趋势分析、工艺参数比较及膜系优化提供依据。
针对成膜设备中可能存在的环境光干扰，MProbe50 采用高强度脉冲氙灯与门控数据采集技术，通过控制采集时序，支持在较强环境光条件下开展光学测量。
本次介绍的 UVVisF 门控配置覆盖200–1000 nm光谱范围，膜厚测量范围为1 nm–20 μm，典型测量频率为10–20 Hz，可用于跟踪成膜过程中的膜厚变化。具体测量范围与性能取决于材料、膜系结构、光学模型及工况，以实际样品验证为准。
MProbe50 可根据沉积腔体结构、光学窗口及样品位置定制测量配置，支持正入射或斜入射，以及聚焦或准直光路。测量探头既可布置在真空窗口外，也可通过光纤馈通方式连接腔体内部，为现有设备集成提供多种选择。
系统采用无运动部件设计，并提供500余种材料数据库作为光学建模参考，便于用户结合实际膜层与测试目标开展配置评估。
围绕 OLED 与功能镀膜应用，星朗浩宇将与用户交流 ITO 及 OLED 功能膜层等样品的原位测厚需求，探讨沉积过程监测与成膜后膜厚、光学常数分析的配合方式。
除 MProbe50 外，本次拟介绍的方案还包括多波长椭偏、光谱椭偏、显微分光测厚、超高速测厚、共聚焦拉曼成像，以及在线颜色与透射率测量，覆盖微区厚度、面内均匀性和材料光谱等检测需求。
星朗浩宇期待借助本届展会，与显示、触控及薄膜制造领域的用户深入交流，结合具体材料、膜系与设备条件，探讨适合的薄膜检测与工艺监测方案。
展会时间：2026年10月27—29日
展会地点：深圳国际会展中心（宝安新馆）
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