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昊量光电拟亮相 OMTA 2026,聚焦微纳器件光电流扫描成像

发布时间:2026-10-22 13:23:26 浏览量:15


昊量光电拟亮相 OMTA 2026,聚焦微纳器件光电流扫描成像


OMTA 2026光电材料、技术与应用大会将于10月29—31日在福州举行。大会围绕低维光电材料、宽禁带半导体、光电材料制造与表征等方向,开展学术交流、成果展示与产学研对接。



上海昊量光电设备有限公司拟携光电材料与器件多维表征方案参会,重点介绍 AUT-XperP-Scan 逐点扫描式光电流系统,围绕空间成像、稳态电学、瞬态响应及多光源激发,为微纳材料与光电器件研究提供测试支持。



光电流扫描成像,观察器件局域响应


光电器件不同区域的响应差异,是分析材料特性、界面效应及器件工作机制的重要线索。AUT-XperP-Scan 通过振镜控制激光激发位置,逐点采集光电流信号,形成二维光响应分布图,并可与器件明场图像对照,帮助研究人员识别局部响应差异。


扫描过程中样品保持静止,有利于减少样品移动对探针接触状态的影响。系统振镜扫描范围为150 × 200 μm,位移步进可细至20 nm;根据光路与物镜配置,可实现约1 μm及以下的聚焦光斑,为微区光电响应研究提供支持。扫描位移参数与实际成像分辨率需结合光学配置分别评估。



结合稳态与瞬态测试,分析器件工作表现



除空间成像外,AUT-XperP-Scan 还支持稳态光电流、瞬态光电流、不同光强下的 I-V 曲线及开关响应等测试,帮助研究人员分析器件在不同激发条件下的电学表现。


通过比较输出曲线、转移曲线及时间响应数据,用户可进一步研究光照对器件导电特性的影响,观察光响应的建立与衰减过程,为光电探测器、低维材料器件及半导体微纳器件的性能评价提供依据。


系统可按需配置不同源表与电学测试链路,兼顾微弱电流测量和瞬态响应研究。具体电流分辨率、电压范围及响应时间以所选配置为准。


多光源与扫谱测试,拓展光响应研究条件




AUT-XperP-Scan 兼容 LED、激光器、氙灯等激发光源,可结合研究需求选择激发波长及照明方式,并通过可变光斑光路满足局域激发与较大区域照明需求。


产品资料展示了恒功率扫谱、硅探测器响应率对照,以及不同激发波长下的 I-V 测试示例。结合相应光源与功率控制配置,系统可用于比较器件在不同波长、光强条件下的响应表现,为光谱响应研究提供实验手段。


灵活配置样品环境与扩展模块




针对不同样品与测试条件,系统提供常温及高低温探针台配置选择。磁吸式探针座支持 XYZ 三轴调节,便于样品扎针与位置微调;高低温方案可进一步满足变温条件下的光电测试需求。


此外,系统还可按需扩展偏振、PL、拉曼、EL及吸收光谱等测试模块,帮助用户围绕同一样品开展多种表征,综合分析材料光学特性与器件电学响应。各模块及功能需根据实际测试目标选配。


多维表征方案,共话光电材料与器件研究


本次拟介绍的方案还包括 AUT-HyperRam 全自动共聚焦拉曼,以及光学膜厚测量、SHG 非线性显微成像、AFM 原子力显微镜和双光子3D打印等,覆盖材料光谱、形貌、光学特性与微纳加工等研究环节。


昊量光电期待借助 OMTA 2026,与高校、科研院所及企业用户深入交流,结合样品特点和实验目标,探讨适合的光电材料与器件测试方案。


会议时间:2026年10月29—31日
会议地点:福州泰禾凯宾斯基酒店
产品咨询:刘经理,13132166691(微信同号)
联系邮箱:ting-liu@auniontech.com
企业官网:www.auniontech.com


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