波前表征了光线是如何传播的,在光学中有着非常重要的作用,而如何准确迅速的测得波前就非常的重要了。波前测量技术从1900年的哈特曼小孔掩膜测量法,到1970年的夏克-哈特曼微透镜阵列掩膜法。2000年,Phasics改进了夏克-哈特曼技术,重新设计开发了带有自己的掩膜,得到了Phasics 4波横向剪切波前探测器。
4波横向剪切干涉波前传感器及SID4
一、波前探测技术
波前表征了光线是如何传播的,在光学中有着非常重要的作用,而如何准确迅速的测得波前就非常的重要了
波前测量技术从1900年的哈特曼小孔掩膜测量法,到1970年的夏克-哈特曼微透镜阵列掩膜法。2000年,Phasics改进了夏克-哈特曼技术,重新设计开发了带有自己的掩膜,得到了Phasics 4波横向剪切波前探测器。
二、技术原理
待测光进入到传感器,经过衍射光栅分光,使±1级共4束衍射光通过,用ccd记录干涉条纹。
采集到的干涉条纹,经过傅里叶变换,分别提取到强度图和XY方向的相位梯度,并合成为相位图。这样通过一次采集,就得到了该位置处的强度和相位信息,同时也能推算出其他位置处的强度和相位信息。
一次拍摄,能同时解出强度和相位。
三、优势
1、相比于夏克-哈特曼传感器,采样点更多,具有更高的分辨率。
2、灵活易用,通过简单的设置就能进行测量。
3、消色差,一个传感器就可用于400-1100波长范围内的测量。
四、探测波长
包括从紫外(150nm)到远红外(8.14um)一系列波长范围
五、应用案例
激光测试解决方案
M2、斯特列尔比、Zernike、束腰位置和尺寸、 PSF;
可测试光束质量;
可测量气体和等离子体密度。
a.光束质量
b.自适应光学
c.气体和等离子体测试
气体和等离子体测试方案。探测光束通过等离子体,并经历了相移,由于局部折射率变化;SID4 HR直接测量光束的相位,并将其转换成密度信息。
得益于Phasics的技术,改善了波前测量方法,并适用于许多应用。
关于昊量光电:
上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。
展示全部