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asics SID4相位成像相机进行表面测量Phasics SID4相位成像相机,可以集成在商业或者自制的光学显微镜装置上。为了提高样品的整体性能,测量物体表面特性是一种有效的方法。对于此类应用,Phasics的软件可以分析光程差,并且实时转化为物体表面的形貌。硬件方面,Phasics相机体积小、结构紧凑,并且易于使用。事实上,Phasics的波前分析仪能够与实验室常用的相机一样易于集成。整个相机可以轻松集成到生产线或者实验室中。表面测量结构Phasic SID4相位相机利用的是一种四波横向剪切技术,将入射光分成剪切的4束,然后再互相干涉形成干涉图,通过傅立叶逆变换可以得到入射光的相位谱和强度 ...
波前传感器及SID4一、波前探测技术波前表征了光线是如何传播的,在光学中有着非常重要的作用,而如何准确迅速的测得波前就非常的重要了波前测量技术从1900年的哈特曼小孔掩膜测量法,到1970年的夏克-哈特曼微透镜阵列掩膜法。2000年,Phasics改进了夏克-哈特曼技术,重新设计开发了带有自己专利的掩膜,得到了Phasics 4波横向剪切波前探测器。二、技术原理待测光进入到传感器,经过衍射光栅分光,使±1级共4束衍射光通过,用CCD记录干涉条纹。采集到的干涉条纹,经过傅里叶变换,分别提取到强度图和XY方向的相位梯度,并合成为相位图。这样通过一次采集,就得到了该位置处的强度和相位信息,同时也能推 ...
势。AUT-SID4-UV-HR紫外波前分析仪由高分辨率的相机和二维衍射光栅构成,激光通过光栅后,待检测的激光波前分成四束,两两进行干涉,对干涉条纹进行傅里叶变换,提取一激光的信息和零级光的信息,利用傅立叶变换进行相关的计算,计算出待测波前的相位分布,以及强度分布等。波前分析仪在半导体领域的应用:半导体行业的光刻系统依赖于ji其复杂的激光源和光学系统。Phasics公司SID4 系列波前传感器涵盖从紫外线(UV,190nm)到长波红外(LWIR,14um)的范围,已被证明在半导体行业中非常有价值,可用于鉴定此类光学系统的设计波长。越来越多的研发或制造工程师将SID4 波前传感器用于激光源和光学 ...
相位解包裹相位展开是通过消除包裹相位中的歧义来检索真正展开相位的过程,这通常由反正切函数生成。它是许多干涉测量应用的基本程序,例如干涉测量、数字全息 、合成孔径雷达成像 (SAR) 、磁共振成像 (MRI) 和轮廓测量。然而,在实际应用中,相位展开很难在存在噪声或孤立区域的情况下实现。在过去的几十年中,已经开发了许多相位展开方法。通常,这些方法可分为路径跟踪方法 、最小范数方法 和其他方法。路径跟踪方法利用相位残差或相位质量图来搜索合适的路径,然后沿所选路径对模 2π映射的包裹相位差进行线积分,以避免误差累积 。基于这一原理,已经提出了许多具有不同路径选择策略的相位展开方法,例如分支切割算法、 ...
Phasics波前分析仪生物学家关注显微镜时最重要的问题之一是大多数生物标本的振幅对比度差。 因此,生物学家经常采用相衬光学技术,该技术依靠光学机制将样本中的微小折射率变化转换为实际图像中相应的幅度变化。 这种技术的主要优点是活细胞可以在其自然状态下进行检查,而无需事先被杀死、固定和/或染色。 Zernike contrast 允许样品界面的可视化,但横向分辨率相对较差,并且伪影的出现妨碍了任何正确的定量相位测量。Nomarski 对比(或 DIC 用于微分干涉对比)显微镜是一种更流行的相位成像技术,可在一个方向上提供样品相位梯度。图像呈现的输出强度是振幅和相位梯度对比与对样本中光路长度梯度的 ...
折射率分布。SID4成像系统适用于测量光纤或激光写入波导。集成在光学显微镜Phascis定量相位成像(QPI)相机安装在经典明场显微镜上,并且无需修改显微镜。Phasics输出的相位图可以轻易的转化为折射率,如下所示,OPD=(n2-n1)*d,其中n2和n1分别是周围材料的折射率,并且波导和d是折射率变化区的厚度。光波导测量结构波导成像可以在两种不同装置中完成:在XY或者正交平面。Phascis定量相位相机测量波导产生的光程差(OPD)。知道波导的机械尺寸后,就可以直接检索折射率值。OPD(nm)=(n波导-n称底)*机械厚度(mm)光波导测量结构(正交)上图显示,波导在正交配置中被切片和测 ...
系。如果您对SID4系列波前传感器产品有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/details-1631.html欢迎继续关注上海昊量光电的各大媒体平台,我们将不定期推出各种产品介绍与技术新闻。关于昊量光电昊量光电 您的光电超市!上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外先进性与创新性的光电技术与可靠产品!与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为 ...
斑尺寸,并且SID4传感器位于变形镜的成像面上。SASys软件通过测量变形镜的每个驱动响应函数后,执行校准过程,并且使自适应系统趋向于收敛。先进的自适应光学结构基于上述的光路可以进一步改善激光光斑聚焦,这种光路拥有更加良好的改善效果。首先在一个真空的环境中搭建自适应光路,如图中1所示,打开闭环令波前呈现一个完美的曲面,AO软件很容易实现这个功能。然后将这个将这个波前,作为光路2中的AO loop的参考波前。这个过程将到达聚焦光斑之前的所有像差都考虑进来了。另外,激光随时间的抖动也能被测量到,并且仍旧保持一个完美的聚焦。SID-V能够兼容真空的环境,在光路1的真空环境下完成测量。您可以通过我们昊 ...
asics SID4HR波前传感器可以搭建一套自适应系统;并可以使用Phasics的自适应软件OAsys来进行控制闭环;本文描述如何使用二者来搭建一个自适应系统。一、所需配件1.1变形镜,用于校正波前。1.2波前传感器,用于采集波前。1.3电脑和控制软件OAsys,用于显示DM和WFS信息并控制闭环。二、光路调整2.1光路调整的核心就是要把DM的表面成像到WFS探测面上,即使用DM和WFS搭建一个4F系统,DM和WFS处在共轭的位置上。实验中可以使用一个边缘清晰的物品(例如直尺,纸张)挡住DM表面,当能在WFS上观察到清晰像时,就说明共轭位置调整好了。2.2 对准,包括3个方面的对准;第1个是 ...
量光电代理)SID4系列等离子体分析仪(Plasma Diagnosis)是一款便携式、高灵敏度、高精度的等离子体分析仪。该产品基于波前分析的四波剪切干涉技术,可实时检测激光产生的等离子体的电子密度、模式及传播方式。可实时的监测等离子体的产生、扩散过程,以及等离子体的品质因数。可以更好地为客户在喷嘴设计、激光脉冲的照度、气压、均匀性等方面提供最优化的数据支持。除此之外,波前分析仪还被广泛的应用于红外、近红外探测;平行光管/望远镜系统的检测与装调;卫星遥感成像、生物成像、热成像领域;球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜);虹膜定位像差引导;大口径高精度光学元器件检测;激光通信领域; ...
味着客户采购SID4-DWIR红外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器时无需再提供最终用户备案。下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪:1.SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器图1SID4-SWIR波前分析仪SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器产品特点:高相位分辨率:160x128 or 80x64高重复度:<2nm RMS高测量精度:15nmRMS 工作波段:900-1700nm高灵敏度:可适用于低功率红外光源测试瞬时相位测量,对振动不敏感可接受非准直光入射,光路搭建简易快捷 ...
法国Phasics与先进红外光学设备生产商HGH联合录制了关于大口径离轴平行光管的波前检测演示。该演示将于12月8日下午进行网络直播。报名即可获得精美礼品一份,昊量诚邀您关注收看!○研讨会主题:大口径离轴平行光管的高分辨率波前检测○研讨会时间:2022年12月08日(星期四) 北京时间 17:00○研讨会主讲嘉宾:○研讨会流程:① Phasics 波前计量解决方案概述;② 检测光路介绍;③ 400 mm 口径离轴平行光管对准演示;④ HGH产品应用;⑤ 总结及问答。○研讨会报名方式:扫描下方二维码填表报名(同时也可以免费预约试用)*报名成功后,可获得精美礼品一份!更多详情请联系昊量光电/欢迎直 ...
SID4-UV-HR 紫外波前传感器/波前分析仪【SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感 ...
SID4-SWIR-HR 短波近红外波前传感器 / 波前分析仪【SID4-SWIR-HR波前传感器 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;SID4-SWIR-HR波前传感器结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传 ...
SID4-UV 紫外波前传感器/波前分析仪【SID4-UV波前分析仪简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。SID4-UV波前分析仪是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-UV波前分析仪 ...
SID4-SWIR 短波近红外波前传感器 / 波前分析仪【SID4-SWIR 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-SWIR波前传感器将Pha ...
SID4-UHR 大口径超高分辨率波前传感器【SID4-UHR 简介】SID4-UHR超高分辨率波前传感器可用于光学计量需求。 它结合了SID4的易于光路搭建的特点,并拥有超高分辨率及相位精度。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器的大口径传感器靶面可以实现对整个被测样品的实时波前测量。 SID4-UHR的产品特性使其非常适用于表面面型的检查(表面粗糙度、高频率波前像差及表面缺陷检测等)和光学组件的表征(镜头、物镜、非球面和自由曲面光学等)。 SID4-UHR超高分辨率波前传感器搭载高性能相机,也可提供无与伦比的激光表征精度。 高达512 x 512(可选高至666 x 666)相位取样分辨率 ...
SID4-HR 波前传感器 / 波前分析仪【SID4-HR 简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。SID4-HR为要求苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨 ...
SID4 波前传感器/波前分析仪【SID4简介】随着光波波前探测技术的发展,各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类:一类是根据几何光学原理,测定波前几何像差或面型误差,主要有Shack-Hartmann 波前传感器,曲率传感器和Pyramid 波前传感器等;另一类是基于干涉测量原理,探测波前不同部分的干涉性,来获取波前信息,主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜;它们结构简单,抗干扰能力强,条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为入门级的高分辨率波前传感器,SID4覆盖可见光和近红外范围,是适用于 ...
率波前分析仪SID4-V。SID4-V波前传感器的独特设计使其可在真空环境下(10-6mbar)实现激光波前/激光等离子体/电子密度等的测量,获得更准确的测量结果。波前分析仪产品特点:1)真空环境兼容:>10-6mbar2)分辨率高:160x1203)宽波段:400-1100nm4)软件功能:包含激光波前和Plasma检测模块5)可直接测量发射光束:NA值0.2波前分析仪指标参数: ...
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