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高光谱成像技术简介

发布时间:2022-08-03 11:20:40 浏览量:3362 作者:Zen

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高光谱成像技术简介


高光谱成像的目标是获得场图像中每个像素的光谱,目的是发现物体、识别材料或检测过程。光谱成像仪一般有三个分类,有推扫扫描仪和相关的扫扫式扫描仪(空间扫描),可以随时间读取图像,带序列扫描仪(光谱扫描),可以获取不同波长区域的图像,以及快照高光谱成像,使用凝视阵列在瞬间生成图像。


工程师们为天文学、农业、分子生物学、生物医学成像、地球科学、物理学和监视等领域的应用构建高光谱传感器和处理系统。高光谱传感器使用宽光谱观察物体。某些物体在光谱中留下独特的反射或透射峰。通过这些光谱特征能够识别构成扫描物体的物质。例如,石油的光谱特征有助于地质学家发现新油田。



形象地说,高光谱传感器将信息收集为一组“图像”。每个图像代表电磁频谱的一个狭窄波长范围,也称为光谱带。这些“图像”被组合成三维(x,y,λ)高光谱数据立方体,用于处理和分析,其中x和y表示场景的两个空间维度,λ表示光谱维度(包括一系列波长)。高光谱图像的采集和处理也称为成像光谱学,或参考高光谱立方体,称为3D光谱学。



有许多参数可以表征获得的数据:


空间分辨率,可以用整个图像的像素数或表面上可分辨的最小平方面积来描述。如果像素太大,则在同一像素中捕获多个对象,并且难以识别。如果像素太小,则每个传感器单元捕获的强度较低,降低的信噪比会降低测量特征的可靠性。通常,它取决于照相相机的百万像素数。


光谱分辨率,定义系统能够区分的最小光谱变化。对于设备来说,它是所捕获光谱的每个频带的宽度。如果扫描仪检测到大量相当窄的频带,即使仅在少数像素中捕捉到物体,也可以识别物体。


辐射测量精度,即系统测量光谱反射率百分比的精度。


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