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膜厚测量仪

膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)Mprobe 20-台式膜厚测量仪手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70激光干涉膜厚测量仪多波长椭偏仪/膜厚测量仪半导体/薄膜无损检测仪 显示全部
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手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)

  • 手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
手持式,大件,弯曲表面膜厚测量——更简单,更可靠!

所属类别:光学检测设备 » 膜厚测量仪

所属品牌:美国Semiconsoft公司

工业应用负责人

姓名:兰工(Hector)

电话:130 6160 8524(微信同号)

邮箱:haige-lan@auniontech.com

微信:点击扫描添加

科研应用负责人

姓名:刘工(Glenn)

电话:185 0177 0670(微信同号)

邮箱:haoan-liu@auniontech.com

微信:点击扫描添加

手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)

 

 

手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)基于MProbe 20 平台可以轻松测量曲面和大型零件的薄膜厚度,MProbe 20 具有专为单层和双层应用优化的数据分析算法。它还使用手动探针代替样品台。手动探头通过光纤电缆连接到测量单元。这为在任何位置的弯曲和大表面上测量厚度提供了灵活性。一些应用实例包括:抗紫外线和头灯,保险杠,尾灯盖的硬涂层,防雾涂层上的透镜和其他表面在汽车制造在眼镜镜片上进行加工和镀膜。标准手动探头用于测量 20mm 或更大的零件。可以使用定制探头测量小至 10mm 区域的涂层厚度。对于较小或圆形/圆柱形零件的厚度测量,我们推荐MProbe 40 MSP系统


 


手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)
测量特点:

1.支持底漆或界面 (IPL) 层;

2.曲面和/或大型零件的厚度测量;

3.可以测量有色产品,校正背面反射;

4.材料:500多种扩展材料数据库;

5.一键可靠测量。 


 手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)规格指标:

精度

0.01nm0.01%

准确度

0.2%1nm

稳定性

0.02nm0.03%

聚焦点尺寸

0.2mm0.4mm

样品尺寸

>20mm

厚度范围

0.05-70um

波长范围

400-1000nm

*可根据要求设计定制探头



关于昊量光电:

昊量光电,您的光电超市!

上海昊量光电设备有限公司专注于光电领域的技术服务和产品销售。致力于引进国外优质的光电器件制造商的技术与产品,为国内客户提供优质的产品与服务。我们力争在原产厂商与客户之间搭建起沟通的桥梁与合作的平台。

您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。


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产品标签:膜厚测量,车灯镀膜测量,椭偏仪,光谱反射仪,膜层厚度测量仪,膜层厚度,F20,F10-HC,弯曲表面厚度测量,薄膜厚度,膜厚测量仪,多层薄膜,手持式厚度测量