PHOTON RT 7514 是一款专用于长波红外（LWIR，7.5–14 μm）波段的色散型分光光度计。该仪器以 Czerny‑Turner 光栅单色器为核心，采用金镜和 ZnSe 透镜光学元件，主要用于平面光学元件及镀膜样品的绝对透射率与反射率测量。PHOTON RT 7514 支持 0～60° 变角度入射测量，并内置高对比度偏振片，可自动完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光谱采集。其突出的自动光束位移补偿技术（40 mm）确保了高角度下偏振测量的精度与速度。借助低噪声制冷 MCT 探测器和优化的背景辐射管理，仪器具备非常好的基线稳定性（±0.3%/h）和重复性（光度重复精度 ±0.1%），杂散光水平低于 0.2%。整机全自动运行，适用于国防、军工、航空航天及高端红外光学制造领域中的镀膜表征、材料筛选、镀膜均匀性分析和质量认证。
参数规格：
| 参数 | 指标 |
| 有效波长范围 | 7.5 – 14.0 μm |
| 光学配置 | 透过率%T、反射率%R |
| 内置偏振片范围 | 7.5 – 14.0 μm |
| 单色器光学方案 | Czerny-Turner |
| 光学元件 | 金镜、ZnSe透镜（带增透膜） |
| 透过率测量入射角 | 0 – 60°可变 |
| 反射率测量入射角 | 10°、30°、45°、60°（可更换样品台） |
| 参考样品 | 金镜 |
| 样品台转角精度 | 0.01° |
| 光束位移补偿 | 40 mm |
| 偏振测量方式 | S、P、(S+P)/2 |
| 波长采样间隔 | 5 – 100 nm |
| 光斑尺寸（非偏振光） | 2.0 × 6.0 mm（宽×高） |
| 极限光谱分辨率（非偏振光） | 15 nm |
| 波长准确度 | ±4.0 nm |
| 波长重复精度 | ±2.0 nm |
| 光度精度（47% T, λ0=10.6μm, AOI=4°, 样品厚度3.0 mm） | ±0.2% |
| 光度重复精度 | ±0.1% |
| 基线稳定性（7.8 – 13.0 μm） | ±0.3%/小时 |
| 杂散光水平（7.5 – 12.0 μm） | <0.2% |
| 光源 | 红外灯、HgAr波长校准验证灯 |
| 样品尺寸 | 150 × 200 mm |
| 样品厚度 | 40 mm |
| 操作方式 | 全自动 |
| 接口 | USB 2.0 |
| 功耗 | 110 W |
| 电源 | 110 – 220 V，AC，50 – 60 Hz |
| 外形尺寸（宽×深×高） | 760 × 380 × 350 mm |
| 净重 | 51 kg |
产品特点：
专为长波红外波段设计：有效波长范围覆盖 7.5–14 μm，满足红外光学镀膜的高精度检测需求。
变角度与偏振测量：支持 0–60° 变角度入射，内置高对比度宽带偏振片，可自动完成 S 偏振、P 偏振及平均偏振光谱采集，无需外部附件。
自动光束位移补偿：内置光束位移补偿技术（补偿量 40 mm），自动校正高角度测量时的光束偏移，确保偏振测量的精度与效率。
高精度与高稳定性：采用低噪声制冷 MCT 探测器，结合优化的背景辐射管理，基线稳定性 ≤±0.3%/h，连续 60 次扫描信号偏差 <0.2%；光度精度 ±0.2%，光度重复精度 ±0.1% 。
低杂散光水平：杂散光 <0.2%，确保测量数据的可靠性。
全自动化操作：支持无人值守的预设测量序列，大幅降低人工误差。
灵活的样品兼容性：样品尺寸可达 150×200 mm，厚度可达 40 mm，适配多种平面光学元件。
可靠的光学系统：Czerny-Turner 光栅单色器，金镜和 ZnSe 透镜（带增透膜），保证优异的光学性能。
内置校准光源：配备红外灯和 HgAr 波长校准验证灯，确保波长精度。
坚固耐用的整机设计：尺寸 760×380×350 mm，净重 51 kg，结构稳定，适用于研发与生产环境。
应用领域：
国防、军工、航空航天：高端红外光学元件的计量与检测。
红外光学镀膜表征：测量平面光学元件和镀膜反射镜在长波红外波段的绝对透射率与反射率，支持变角度（0‑60°）和偏振控制（S、P偏振及其平均），为增透膜、高反膜等镀膜工艺优化提供数据支撑。
红外光学材料与元件检测：适用于 ZnSe、Ge、硫系玻璃等材料的透过率和反射率测试，服务于红外热成像、红外制导、红外探测等系统的光学元件筛选。
镀膜均匀性与光谱均匀性分析：结合电动 XY 样品台选件，进行二维扫描测绘，评估镀膜在平面上的空间均匀性。
红外光学系统研发与质量控制：为光学系统设计提供镀膜元件的精确光谱数据，支持从光学仿真到装调的全链条验证；同时用于批量生产中的 QA/QC 检测、入库检验和出厂认证。
产品标签：PHOTON RT 7514, 长波红外分光光度计, 色散型分光光度计, 红外光学镀膜检测, 变角度偏振测量, 光束位移补偿, 高精度, 低杂散光, 全自动操作, LWIR
