金属线栅偏振片(大口径)
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Specim-IQ手持式高光谱成像仪
微偏振片阵列
超宽带偏振态测量仪
超精密光学应力测量设备-硫系玻璃及Si,SiC,GaN等应力测量
LCOS芯片的一种相位分析方法简介——白光干涉法
光弹调制器以及偏振态测量仪在测量原油水面泄漏的应用
半导体PN结及其单向导电性
偏振相机介绍
材料表面反射光的偏振状态
如何快速构造磁光克尔效应显微镜
铁磁体和反铁磁体的异质结构
磁光克尔效应(MOKE)装置
磁阻设备
COMS-Magview-磁场相机背后的秘密-磁光传感器!
磁性材料的分类
二维电子系统中砷化镓的磁光克尔效应
畴壁的形成
用于空间和时间分辨研究的克尔-法拉第显微镜的系统
用于薄膜的远场和近场磁光学显微镜的多功能特高压系统
磁光克尔效应
磁光克尔效应的近期发展历程
微型激光测振仪在超声领域的应用
时间分辨克尔显微镜中三种动态磁畴成像模式
COMS-Magview磁场相机-让看不见摸不着的磁场高分辨率可视化成为可能!
磁光学显微镜中的Köhler照明技术
单个铁磁点的时间分辨磁光显微镜
磁光显微镜之宽视场(“常规”)显微镜
用于观察静态和动态磁畴行为的扫描激光显微镜系统
铟硒样品制备及多型表征
利用磁光克尔效应可视化氢在磁膜中的扩散
单层MX二维材料的能带结构和一般光学自旋性质
绘制样品的杂散磁场的技术对比
基于自旋电子学的磁化技术
成像与mapping在微纳米磁学中的应用
常见的磁测量技术
扫描克尔显微镜系统
磁偶极子的初认识
磁光效应
深入浅出带你了解磁共振成像(MRI)基本原理
磁化方向的光学对比读出方法
磁光效应的应用和拓展
传统磁光薄膜的特性
不同磁畴成像技术的优缺点
激光位移传感技术的发展和创新!
时间分辨磁光学显微镜成像的不同需求与相关技术
扫描近场光学显微镜反射模式局部磁光克尔效应成像
磁光克尔显微镜深度灵敏度的实验证明
磁畴成像的四种传统磁光效应
磁光显微镜中宽视场反射显微镜的设置和图像处理
激发光偏振对磁光克尔显微系统测试的影响
新型光自旋应用的二维材料
利用NV自旋的磁光成像技术
磁光技术研究半导体中的光自旋动力学
磁光克尔效应显微镜
基于Electromagnet-Based特点的VSM
M-axis永磁体特性全新表征方法-高精度磁偏角磁矩快速确定!
铁磁材料的磁畴划分过程
块体砷化镓中的磁光克尔效应
磁场强度、磁通密度、磁化率和磁导率
常见的观测磁畴的方法
一篇文章看懂:什么是SENIS完全集成3轴磁传感器?
磁光克尔效应系统的构造与应用
磁光克尔效应的早期发展历程
COMS-Magview-磁光传感器技术为磁材料测量领域提供了全新的视角!
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M-axis永磁体特性测量表征磁偏角测量方法对比研究!
克尔显微镜使用中的法拉第干扰效应
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半导体中的光诱导自旋取向及其自旋电子学应用
磁透射软x射线显微术的基本装置
纳米多孔薄膜的可调谐磁光克尔效应
实现磁光技术研究InSe光自旋动力学
单次事件立体偏振压缩超快摄影系统简介
椭偏成像技术(五)光谱椭偏成像的发展(第三部分)
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十三)- 形貌及成分
椭偏成像技术(二)- 从单波长椭偏成像到光谱椭偏成像
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十)- 研究内容和意义
光谱型椭偏仪的校准(六)-样片的均匀性考核
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(七)- 当前在位监测装置设计
光谱型椭偏仪的校准(三)-空气测量法
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(四)-电化学沉积及原理
椭偏仪(五)-椭偏仪数据处理模型-第1部分
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(一)-基本原理
椭偏仪(八)-椭偏仪测量薄膜的优点和特点
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(三)-NPBS1与NPBS1引入的误差分析
椭偏仪(三)-椭偏测量原理
椭偏仪与偏振相位(十)- 仪器矩阵的非线性小二乘拟合定标原理
蓝宝石和石英石板小双折射的测量
椭偏仪与偏振相位(七)- 波片相位延迟量测量误差分析
椭偏仪与偏振相位(四)-光强测量法的原理及误差分析
椭偏仪与偏振相位(一)-几种波片相位延迟测量的实验搭建
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十八)- Pb薄膜沉积实验
椭偏成像技术(七)椭偏成像技术在生物学的应用以及数据处理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十五)- 弧形电解池的设计
椭偏成像技术(四)光谱椭偏成像的发展(第二部分)
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十二)- 光学常数的提取与COMSOL Multiphysics
椭偏成像技术(一)-椭偏成像的发展
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(九)- 光学模型的建立与数据的提取
光谱型椭偏仪的校准(五)-样片的制备与稳定性考核
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(六)- 在位监测电化学沉积
光谱型椭偏仪的校准(二)-椭偏仪的基本原理
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(三)-应用案例
椭偏仪(六)-椭偏仪数据处理模型-第二部分
椭偏仪与偏振相位(十二)-斯托克斯椭偏仪的偏振定标实验结果与结论
椭偏仪(九)-椭偏光谱技术的应用
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(二)-NPBS引入的椭偏参数误差
椭偏仪(二)-光在各向同性且均匀的界面反射原理
椭偏仪与偏振相位(九)- 传统的仪器偏振定标的误差
椭偏仪与偏振相位(六)- 精确测量波片相位延迟量的原理
椭偏仪与偏振相位(三)-补偿法的原理及误差分析
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二十)- 长方形流动微腔
偏振测量技术介绍
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十七)- 系统误差与醋酸铅实验
椭偏成像技术(六)椭偏成像技术在材料学和半导体的应用
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十四)- 在位监控装置的设计
椭偏成像技术(三)- 光谱椭偏成像的发展
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十一)- 工作电极的制备与椭偏仪在位监控
光谱型椭偏仪的校准(七)-椭偏仪校准方案
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(八)- 溶液的影响和固液界面的影响
光谱型椭偏仪的校准(四)-样片测量法
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(五)-Pb和Cu2O薄膜的电化学沉积
光谱型椭偏仪的校准(一)-椭偏仪校准思路
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(二)-在位监控原理
椭偏仪(七)-椭偏仪数据处理模型-第三部分
椭偏仪与偏振相位(十一)-斯托克斯椭偏仪的偏振定标测量实验
椭偏仪(四)-系统成像原理
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(一)-系统原理
椭偏仪(一)-椭偏成像技术简介
椭偏仪与偏振相位(八)- 利用消光式椭偏仪测量波片相位延迟量实验
椭偏仪与偏振相位(五)-相位延迟量测量的实验数据
椭偏仪与偏振相位(二)-光谱扫描法的原理及误差分析
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十九)- 圆形微流腔体
椭偏成像技术(八)椭偏成像技术的未来展望
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(十六)- 可行性分析
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