半导体IC测试与验证的复杂性不断增加。Moku一台设备可完成信号生成、测试分析和控制调节，15+仪器功能，全方位应对复杂的测试需求。Moku支持多DUT并行测试，降低成本，易于维护，加速IC测试验证流程，开放免费样机申请，市场活动更新。
Moku:Delta开放样机试用！助力加速半导体器件测试验证流程
半导体技术飞速发展，IC测试与验证的复杂性不断增加。如今被测设备（DUT）涉及模拟、数字和混合信号领域，高度集成 ADC/DAC、运放、控制环路和 DSP 等，使测试任务在精度、时序控制和功能覆盖上变得更加复杂且要求更高。因此，传统测试系统的配置不断扩大，包含示波器、波形发生器、频谱分析仪、频率响应分析仪、逻辑分析仪等多个仪器，这些设备通常来自不同供应商，自动化程度和配置要求差异较大，工程师需要额外编写程序并通过电缆连接它们。虽然这种传统的分立式测试方案能够满足当前的测试需求，但也意味着需要投入大量配置时间、维护校准精力和经济成本。
Moku凭借其强大的可重构测试技术，集成了15+种仪器功能于一台设备中。通过多仪器并行模式，用户可以灵活组合不同的测试功能，支持多DUT并行测试，大大加速产品验证和测试流程。新型号 Moku:Delta拥有8个输入/输出通道，2GHz带宽和超低底噪，兼具灵活性与高性能，为半导体IC测试与验证提供更精准、更高效的解决方案。
Moku在半导体器件与IC测试验证中的优势
1. 高度集成，简化测试系统
多种仪器功能（波形发生器、任意波形发生器、码型发生器、频率响应分析仪、示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪等）在单一 FPGA 平台上运行；
无需多台独立仪器即可完成复杂测试，减少设备采购、布线、参考同步及长期维护与校准成本；
内置专业仪器功能（锁相放大器、相位表、时间间隔与频率分析仪等），满足复杂 DUT 测试需求。
2. 优化信号保真度与抗干扰能力
多通道 ADC/DAC（高达 8 路）实现 DUT 信号的高保真采集与激励；
多仪器并行模式（MiM）支持zui多 8 个仪器同时运行，仪器间数字互联和时钟总线设计减少物理线缆，降低噪声、相位和时序偏差；
支持外部参考源输入，兼顾系统同步灵活性。
3. 提升测试效率与自动化能力
单一硬件平台运行统一时钟，减少跨设备参考同步和触发复杂度；
高度统一的 GUI 和 API 规范，简化自动化测试流程，降低学习成本和开发周期；
灵活快速部署不同仪器功能组合，减少人为错误，提高测试效率。
4. 可重构与自定义能力
FPGA 可编程性允许自定义信号处理算法，与其他仪器功能无缝结合；
随需求迭代，可快速更新测试测量系统配置，适应不同 DUT 类型和测试场景；
支持实时分析与反馈控制（PID 控制器、数字滤波器等），提升精度和系统稳定性。
5. 面向未来的多通道与高通量测试
支持多通道并行测量，满足高通量测试需求；
降低测试时间和成本，同时保持高保真度和数据可靠性；
系统化解决复杂 DUT 测试和混合信号交互的挑战。
市场活动预告
随着半导体行业对更高性能、更灵活测试仪器的需求不断增长，无论是设计开发还是生产测试，都需要更加紧凑和高效的测试工具来提高效率。Moku一台设备集成全面的信号生成、测试分析和控制调节功能，支持云编译与多仪器并行，客户可以根据需要自定义测试方案，轻松应对复杂的测试挑战。
我们即将参加以下展会，诚邀您莅临现场亲身体验Moku的强大功能，昊量光电的应用工程师将为您提供一对一的技术交流，帮助您更好地理解和应用Moku。
第二十五届全国半导体物理学术会议
时间：2025年10月16-19日
地点：长沙市北辰国际会议中心
展位号：42
免费样机试用
欢迎您申请在线演示或Moku样机试用，更多详情请联系昊量光电。
关于昊量光电：
上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。
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