宽波段高性能光谱分析仪
宽波段高分辨光谱分析仪产品简介
高分辨光谱分析仪广泛应用于电信，有源器件开发以及众多使用光源的领域，6362D光谱分析仪（简称：光谱仪）是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪，适用于600nm～1700nm光谱范围的DWDM、光放大器等光系统测试；LED、FP-LD、DFB-LD、光收发器等光有源器件测试；光纤、光纤光栅等光无源器件测试。
宽波段高分辨光谱分析仪主要特点：
● 20pm zui小光谱分辨率
● 600nm～1700nm光谱扫描范围
● 73dB大动态范围
● -90dbm zui高灵敏度
● 支持空间光输入
● 内置光源输出配置可选
● 强大的多应用光谱数据分析功能
● 12.1英寸触控显示、全中文操作
光谱仪显示软件：
分辨率测试
该光谱分析仪支持不同光谱分辨率的设置，多种光谱分辨率设置灵活切换，zui 小光谱分辨率优于20pm。
（光谱分辨率测试 ）
峰值检索
该光谱分析仪采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法，峰值检索准确度高，自适应性和鲁棒性强，且运算速度快。
（光谱峰值检索）
单纵模激光光谱分析
该光谱分析仪具备多场景光谱分析功能，针对DFB-LD等单纵模激光光源，仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法，有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。
（DFB-LD边模抑制比测试）
多纵模激光光谱分析
针对FP-LD等多纵模激光光源，该光谱分析仪提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法，多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽。
（ndB损耗法测试中心波长和光谱带宽）
（包络分析法测试中心波长和光谱带宽）
（均方根分析法测试中心波长和光谱带宽 ）
多种光电子器件应用分析功能
该光谱分析仪可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析，实现所有测试项目批处理。
除半导体激光光源光谱测量应用外，仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用、光纤放大器应用、波分复用滤波器应用、波分复用光纤放大器应用等光谱应用功能，下图是典型的波分复用应用分析。
宽波段高分辨光谱分析仪技术规格：
项目 | 规格 |
光谱范围 | 600～1700nm |
扫描跨度 | 0.2～1100nm（全范围跨度），0nm |
波长精度 | ±0.02nm（1520～1620nm）、±0.04nm（1450～1520nm）、 ±0.10nm（全波长范围） |
波长线性度 | ±0.01nm（1520～1580nm） |
波长重复性 | ±0.005nm（2 分钟） |
波长分辨率设置 | 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1、2nm |
蕞小采样分辨率 | 0.001nm |
采样点数 | 101～50001、AUTO |
功率灵敏度设置 | NORMAL、MID、HIGH1、HIGH2 和HIGH3 |
功率灵敏度 | -90dBm（1300～1620nm）、-85dBm（1000～1300nm）、-60dBm（600～1000nm）（灵敏度：HIGH3） |
蕞大输入功率 | +20dBm（每通道、全波长范围） |
蕞大安全输入功率 | +25dBm（总输入功率） |
功率精度 | ±0.4dB(1310/1550nm，输入功率：-20dBm，灵敏度：MID) |
功率线性度 | ±0.05dB(输入功率：-50～+10dBm) |
功率平坦度 | ±0.1dB(1520～1580nm）、±0.2dB(1450～1520nm、1580～1620nm） |
偏振相关性 | ±0.08dB(1550nm） |
动态范围 (分辨率：0.02nm) | 63dB(峰值±0.2nm，Typ.66dB）、46dB(峰值±0.1nm， Typ.50dB） |
动态范围 (分辨率：0.05nm) | 73dB(峰值±1.0nm，Typ.76dB）、70dB(峰值±0.4nm，Typ.73dB）、63dB(峰值±0.2nm，Typ.66dB） |
动态范围 (分辨率：0.1nm) | 67dB(峰值±0.4nm，Typ.70dB）、57dB(峰值±0.2nm，Typ.60dB） |
杂散光抑制率 | 76dB |
光回波损耗 | 35dB（使用APC 连接器时） |
适用光纤 | SM(9.5/125um）、GI(50/125um、62.5、125um）、大芯径光纤（蕞大200um） |
光源输出 | 出厂安装标配：DFB光源(1550±5nm)； 可更换光源：详见选件 |
显示 | 12.1英寸触摸屏 |
存储 | 128GB |
接口 | USB/以太网/RS232C/VGA |
工作条件 | 环境温度：0℃～40℃；湿度：≤80% 性能保证温度：18~28℃ |
外形尺寸 | 宽×高×深=426mm×221mm×450mm |
重量 | 约19kg |
电源 | 100~240VAC、50\60Hz |
蕞大功耗 | 约100W |
预热时间 | 至少1h(预热后，需要内置光源进行内置光源校准。) |
宽波段高分辨光谱分析仪典型应用：
光材料：薄膜透过率、材料损耗、材料光谱响应等
光器件：DFB、vcsel、光纤、FP、LED等
光模块：TOSA、BOSA、电光调制器等
光系统：密集波分系统、EDFA、SCS、大型激光设备等
关于昊量光电：
上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。
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隐藏在光谱分析仪中的那些好用功能
在光学参数测试测量领域中，光谱测试分析是一项重要的工作，能够帮助我们评估产品的性能和品质。6362D光谱分析仪适用于600nm～1700nm波长范围的DWDM、光放大器、LED、FP LD、DFB LD、光收发器等光有源器件和光无源器件测试分析，经常面临被测件的光谱参数分析、多曲线操作、长期使用后仪器精度降低的使用困惑，其实这些用户惦记的好用功能恰恰“隐藏”在光谱仪的具体功能菜单中。 一、内置多种光谱的自动分析功能:6362D作为新一代光谱分析仪，充分分析相关用户的使用场景和需求，设计开发了多种一键测试分析功能，包括EDFA（光放大器，如图2所示），DFB-LD，FP-LD，LED，WDM（波分复用），FILTER-PEAK（带通滤波器）、FILTER-BOTTOM（带阻滤波器）、WDM-FILTER-PEAK（波分复用-带通滤波器）、WDM-FILTER-BOTTOM（波分复用-带阻滤波器）等应用分析功能。 仪器自带分析功能极大方便用户对产品的测试及分析，适用多种光通信相关产品；对产线生产人员更加友好，一键操作即可实现展示所有分析结果。 二、支持多种曲线自由标记、运算:6362D光谱分析仪配备了12.1寸高清可触控屏幕，光谱数据一览无余。自由标记功能可以快速标记光谱关键点并记录，简单高效。波长标记线A、B可以轻松截取光谱片段,一键设置ZOOM范围，用于后续精细扫描或单独分析。功率标记线C、D可以快速获取光谱功率信息，高效便捷（如图3所示）。 三、支持仪器的自校准:仪器自带内置光源，用户可以轻松方便的进行光谱分析的波长校准及光轴对准操作，不用再为找不到校准光源而发愁，确保您能够充分发挥仪器的性能，取得更好的研究和工作成果，保障您的使用体验。 下面为大家介绍内置光源校准流程： 进入仪器软件的校准界面，设置波长和功率的偏移、校准和端面类型（如图4所示），点击【偏移】选项设置波长和功率的偏移值，点击【内置光源】连接内置光源接口，点击【执行】完成校准。仪器也支持【外置光源】校准，按照提示连接外置光源，设置后点击【执行】完成校准。 6362D光谱分析仪好用功能可不仅仅这些，还包括波峰分析（次峰等）、阈值分析、损耗分析、边模分析、包络分析、均方根、光功率分析、陷波分析、峰值均方根分析以及偏振模色散分析等分析功能，基本涵盖了光谱曲线需要的分析类型。而且6362D外置接口丰富，包含了常见的DP、HDMI、USB（6个）、LAN（2个）、GPIB等多种接口，用户可以根据测试需求快速搭建自动化测试系统。
光源研发和测试的“好伙伴”
光源作为一种基础的设备，在光通信、激光雷达、激光切割、激光医疗等各行各业广泛使用。在光源的研发、生产和测试过程中，面临测试速度慢、边模小信号寻找难、测试效率低等突出的问题。6362D光谱分析仪开发了针对性的测试功能。1.解决测试速度的问题:对于光源生产过程，往往需要更快的测试速度，来提高测试，生产效率，通常通过改变采样点数，灵敏度，扫描速度等操作，当6362D在“X2”速度模式下，单次扫描时间最快可达200ms，保证测试精度的同时，可以满足光源生产线的高速测试需求，节省工时成本。2.解决精准测试问题 :在研发过程中，需要更精准的测试，6362D在“HIGH3”灵敏度下，动态范围最高可达78dB，可测得-90dBm的光谱，能够探测到功率更低的光信号，从而分辨出被淹没的边摸等小信号。3.提升测试效率的途径:6362D提供多种自动分析功能，例如DFB光源分析功能（如下图中所示）、LED光源分析功能、FP光源分析功能等，一次自动分析就可以得到多项激光器指标。同时，相关参数和测试结果也支持通过LAN、GPIB远程控制，可以大大提高测试效率。作为新一代、高性能近红外光谱分析仪，6362D在大幅度提升测试效率的同时，测试分辨率、动态范围得到大幅度提升，更加满足各类光源的测试分析需求，为用户提供更好的测试体验。
解开EDFA关键参数的测试之谜
掺铒光放大器（EDFA）在长距离光纤通信中广泛使用，与波分复用技术紧密组合，可以同时放大多个波长光信号，如图1所示，常用于C波段和L波段，覆盖1530nm至1565nm范围。EDFA不仅解决了损耗对光网络传输速率与距离的限制问题，还因为实时、高增益、低噪声、低损耗的特点成为新一代光纤通信系统中不可或缺的关键器件。在EDFA研制生产过程中，增益和噪声系数是反映EDFA性能的关键指标，那么如何测试这两项参数呢？ 我们先来看一下两个指标的测试标准：根据IEC规范，增益（G:GAIN）是指输出与输入信号光功率之比（不包括泵光和ASE光），即增益G为：图2。噪声系数（NF：Noise Figure）是放大器输入信噪比和输出信噪比之比，即噪声系数NF为：图3。由此可知：能否准确计算出增益和噪声系数取决于每个信道的输入信号功率、输出信号功率和自发辐射噪声功率的测量分析精度，并且与信号光谱的分布相关联。因此，选择高分辨率、大动态范围的光谱分析仪至关重要，6362D光谱分析仪0.02nm的最高分辨率以及大于78dB的动态范围，可以有效保证EDFA系统中相关参数的准确测量。使用6362D测量EDFA相关参数的典型测试光路如上图所示，将EDFA模块接入光路中，通过光开关切换EDFA输入信号和输出信号，利用6362D实现相关参数的自动分析。要获得EDFA参数的测试结果，首先切换光路将输入光放大器的信号光输入到6362D光谱分析仪，选择曲线A进入写入模式，根据符合信号光波形的测量条件测量信号光波形；接着切换光路，将光放大器的输出光输入到6362D光谱分析仪，选择曲线B进入写入模式，以信号光波形相同的测量条件测量输出光的波形。由此可得到EDFA参数的测试结果（如图4所示），并以列表的形式展示在仪器下方区域，准确高效地获取了全部不同波长下的EDFA增益、噪声系数等指标。6362D光谱分析仪还提供了友好的EDFA分析参数设置界面，用户可以根据EDFA特点匹配设置信号光的截至功率、功率测试类型、输入输出偏移量，以及噪声的拟合类型等参数，以保障测试结果的精确性。 作为新推出的新一代近红外光谱分析仪，6362D光谱分析仪已经可以满足当前光通信技术中，对EDFA增益和噪声系数等参数的测试需求，一键测试功能，可以大大地提升对EDFA模块的测试效率，降低测试成本，内置的丰富的EDFA分析参数，可以满足用户不同的测试需求。同时，6362D光谱分析仪也可以根据用户需求，对包括EDFA一键测试功能在内的内置功能进行改进和定制，为用户提供更好的测试体验，与用户一同前行。展示全部 
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