WLMeter近红外激光波长计/光谱仪(600-1800nm,窄线宽光谱测量)WLMter高精度激光波长计(190-1200nm, 可测线宽,较小范围内光谱信息)光通讯波段超高分辨率光波长计超高分辨光谱分析仪(600nm~1700nm,20pm分辨率)亚皮米波长计(350-1100nm)400-1100nm激光波长计(600MHz)红外波段光谱分析仪(1200nm~2400nm, 50pm分辨率)超高分辨率光谱分析仪(600nm-1700nm,10pm分辨率)光通信C波段1525nm-1565nm精密光谱分析仪2.9万元-微型激光波长计(支持先试后买) 激光波长计(200MHz)
宽波段高性能光谱分析仪
宽波段高分辨光谱分析仪产品简介
高分辨光谱分析仪广泛应用于电信,有源器件开发以及众多使用光源的领域,6362D光谱分析仪(简称:光谱仪)是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪,适用于600nm~1700nm光谱范围的DWDM、光放大器等光系统测试;LED、FP-LD、DFB-LD、光收发器等光有源器件测试;光纤、光纤光栅等光无源器件测试。
宽波段高分辨光谱分析仪主要特点:
● 20pm zui小光谱分辨率
● 600nm~1700nm光谱扫描范围
● 73dB大动态范围
● -90dbm zui高灵敏度
● 支持空间光输入
● 内置光源输出配置可选
● 强大的多应用光谱数据分析功能
● 12.1英寸触控显示、全中文操作
光谱仪显示软件:
分辨率测试
该光谱分析仪支持不同光谱分辨率的设置,多种光谱分辨率设置灵活切换,zui 小光谱分辨率优于20pm。
(光谱分辨率测试 )
峰值检索
该光谱分析仪采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法,峰值检索准确度高,自适应性和鲁棒性强,且运算速度快。
(光谱峰值检索)
单纵模激光光谱分析
该光谱分析仪具备多场景光谱分析功能,针对DFB-LD等单纵模激光光源,仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法,有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。
(DFB-LD边模抑制比测试)
多纵模激光光谱分析
针对FP-LD等多纵模激光光源,该光谱分析仪提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法,多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽。
(ndB损耗法测试中心波长和光谱带宽)
(包络分析法测试中心波长和光谱带宽)
(均方根分析法测试中心波长和光谱带宽 )
多种光电子器件应用分析功能
该光谱分析仪可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析,实现所有测试项目批处理。
除半导体激光光源光谱测量应用外,仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用、光纤放大器应用、波分复用滤波器应用、波分复用光纤放大器应用等光谱应用功能,下图是典型的波分复用应用分析。
宽波段高分辨光谱分析仪技术规格:
项目 | 规格 |
光谱范围 | 600~1700nm |
扫描跨度 | 0.2~1100nm(全范围跨度),0nm |
波长精度 | ±0.02nm(1520~1620nm)、±0.04nm(1450~1520nm)、 ±0.10nm(全波长范围) |
波长线性度 | ±0.01nm(1520~1580nm) |
波长重复性 | ±0.005nm(2 分钟) |
波长分辨率设置 | 0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1、2nm |
蕞小采样分辨率 | 0.001nm |
采样点数 | 101~50001、AUTO |
功率灵敏度设置 | NORMAL、MID、HIGH1、HIGH2 和HIGH3 |
功率灵敏度 | -90dBm(1300~1620nm)、-85dBm(1000~1300nm)、-60dBm(600~1000nm)(灵敏度:HIGH3) |
蕞大输入功率 | +20dBm(每通道、全波长范围) |
蕞大安全输入功率 | +25dBm(总输入功率) |
功率精度 | ±0.4dB(1310/1550nm,输入功率:-20dBm,灵敏度:MID) |
功率线性度 | ±0.05dB(输入功率:-50~+10dBm) |
功率平坦度 | ±0.1dB(1520~1580nm)、±0.2dB(1450~1520nm、1580~1620nm) |
偏振相关性 | ±0.08dB(1550nm) |
动态范围 (分辨率:0.02nm) | 63dB(峰值±0.2nm,Typ.66dB)、46dB(峰值±0.1nm, Typ.50dB) |
动态范围 (分辨率:0.05nm) | 73dB(峰值±1.0nm,Typ.76dB)、70dB(峰值±0.4nm,Typ.73dB)、63dB(峰值±0.2nm,Typ.66dB) |
动态范围 (分辨率:0.1nm) | 67dB(峰值±0.4nm,Typ.70dB)、57dB(峰值±0.2nm,Typ.60dB) |
杂散光抑制率 | 76dB |
光回波损耗 | 35dB(使用APC 连接器时) |
适用光纤 | SM(9.5/125um)、GI(50/125um、62.5、125um)、大芯径光纤(蕞大200um) |
光源输出 | 出厂安装标配:DFB光源(1550±5nm); 可更换光源:详见选件 |
显示 | 12.1英寸触摸屏 |
存储 | 128GB |
接口 | USB/以太网/RS232C/VGA |
工作条件 | 环境温度:0℃~40℃;湿度:≤80% 性能保证温度:18~28℃ |
外形尺寸 | 宽×高×深=426mm×221mm×450mm |
重量 | 约19kg |
电源 | 100~240VAC、50\60Hz |
蕞大功耗 | 约100W |
预热时间 | 至少1h(预热后,需要内置光源进行内置光源校准。) |
宽波段高分辨光谱分析仪典型应用:
光材料:薄膜透过率、材料损耗、材料光谱响应等
光器件:DFB、vcsel、光纤、FP、LED等
光模块:TOSA、BOSA、电光调制器等
光系统:密集波分系统、EDFA、SCS、大型激光设备等
关于昊量光电:
上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。
隐藏在光谱分析仪中的那些好用功能
在光学参数测试测量领域中,光谱测试分析是一项重要的工作,能够帮助我们评估产品的性能和品质。6362D光谱分析仪适用于600nm~1700nm波长范围的DWDM、光放大器、LED、FP LD、DFB LD、光收发器等光有源器件和光无源器件测试分析,经常面临被测件的光谱参数分析、多曲线操作、长期使用后仪器精度降低的使用困惑,其实这些用户惦记的好用功能恰恰“隐藏”在光谱仪的具体功能菜单中。 一、内置多种光谱的自动分析功能:6362D作为新一代光谱分析仪,充分分析相关用户的使用场景和需求,设计开发了多种一键测试分析功能,包括EDFA(光放大器,如图2所示),DFB-LD,FP-LD,LED,WDM(波分复用),FILTER-PEAK(带通滤波器)、FILTER-BOTTOM(带阻滤波器)、WDM-FILTER-PEAK(波分复用-带通滤波器)、WDM-FILTER-BOTTOM(波分复用-带阻滤波器)等应用分析功能。 仪器自带分析功能极大方便用户对产品的测试及分析,适用多种光通信相关产品;对产线生产人员更加友好,一键操作即可实现展示所有分析结果。 二、支持多种曲线自由标记、运算:6362D光谱分析仪配备了12.1寸高清可触控屏幕,光谱数据一览无余。自由标记功能可以快速标记光谱关键点并记录,简单高效。波长标记线A、B可以轻松截取光谱片段,一键设置ZOOM范围,用于后续精细扫描或单独分析。功率标记线C、D可以快速获取光谱功率信息,高效便捷(如图3所示)。 三、支持仪器的自校准:仪器自带内置光源,用户可以轻松方便的进行光谱分析的波长校准及光轴对准操作,不用再为找不到校准光源而发愁,确保您能够充分发挥仪器的性能,取得更好的研究和工作成果,保障您的使用体验。 下面为大家介绍内置光源校准流程: 进入仪器软件的校准界面,设置波长和功率的偏移、校准和端面类型(如图4所示),点击【偏移】选项设置波长和功率的偏移值,点击【内置光源】连接内置光源接口,点击【执行】完成校准。仪器也支持【外置光源】校准,按照提示连接外置光源,设置后点击【执行】完成校准。 6362D光谱分析仪好用功能可不仅仅这些,还包括波峰分析(次峰等)、阈值分析、损耗分析、边模分析、包络分析、均方根、光功率分析、陷波分析、峰值均方根分析以及偏振模色散分析等分析功能,基本涵盖了光谱曲线需要的分析类型。而且6362D外置接口丰富,包含了常见的DP、HDMI、USB(6个)、LAN(2个)、GPIB等多种接口,用户可以根据测试需求快速搭建自动化测试系统。光源研发和测试的“好伙伴”
光源作为一种基础的设备,在光通信、激光雷达、激光切割、激光医疗等各行各业广泛使用。在光源的研发、生产和测试过程中,面临测试速度慢、边模小信号寻找难、测试效率低等突出的问题。6362D光谱分析仪开发了针对性的测试功能。1.解决测试速度的问题:对于光源生产过程,往往需要更快的测试速度,来提高测试,生产效率,通常通过改变采样点数,灵敏度,扫描速度等操作,当6362D在“X2”速度模式下,单次扫描时间最快可达200ms,保证测试精度的同时,可以满足光源生产线的高速测试需求,节省工时成本。2.解决精准测试问题 :在研发过程中,需要更精准的测试,6362D在“HIGH3”灵敏度下,动态范围最高可达78dB,可测得-90dBm的光谱,能够探测到功率更低的光信号,从而分辨出被淹没的边摸等小信号。3.提升测试效率的途径:6362D提供多种自动分析功能,例如DFB光源分析功能(如下图中所示)、LED光源分析功能、FP光源分析功能等,一次自动分析就可以得到多项激光器指标。同时,相关参数和测试结果也支持通过LAN、GPIB远程控制,可以大大提高测试效率。作为新一代、高性能近红外光谱分析仪,6362D在大幅度提升测试效率的同时,测试分辨率、动态范围得到大幅度提升,更加满足各类光源的测试分析需求,为用户提供更好的测试体验。解开EDFA关键参数的测试之谜
掺铒光放大器(EDFA)在长距离光纤通信中广泛使用,与波分复用技术紧密组合,可以同时放大多个波长光信号,如图1所示,常用于C波段和L波段,覆盖1530nm至1565nm范围。EDFA不仅解决了损耗对光网络传输速率与距离的限制问题,还因为实时、高增益、低噪声、低损耗的特点成为新一代光纤通信系统中不可或缺的关键器件。在EDFA研制生产过程中,增益和噪声系数是反映EDFA性能的关键指标,那么如何测试这两项参数呢? 我们先来看一下两个指标的测试标准:根据IEC规范,增益(G:GAIN)是指输出与输入信号光功率之比(不包括泵光和ASE光),即增益G为:图2。噪声系数(NF:Noise Figure)是放大器输入信噪比和输出信噪比之比,即噪声系数NF为:图3。由此可知:能否准确计算出增益和噪声系数取决于每个信道的输入信号功率、输出信号功率和自发辐射噪声功率的测量分析精度,并且与信号光谱的分布相关联。因此,选择高分辨率、大动态范围的光谱分析仪至关重要,6362D光谱分析仪0.02nm的最高分辨率以及大于78dB的动态范围,可以有效保证EDFA系统中相关参数的准确测量。使用6362D测量EDFA相关参数的典型测试光路如上图所示,将EDFA模块接入光路中,通过光开关切换EDFA输入信号和输出信号,利用6362D实现相关参数的自动分析。要获得EDFA参数的测试结果,首先切换光路将输入光放大器的信号光输入到6362D光谱分析仪,选择曲线A进入写入模式,根据符合信号光波形的测量条件测量信号光波形;接着切换光路,将光放大器的输出光输入到6362D光谱分析仪,选择曲线B进入写入模式,以信号光波形相同的测量条件测量输出光的波形。由此可得到EDFA参数的测试结果(如图4所示),并以列表的形式展示在仪器下方区域,准确高效地获取了全部不同波长下的EDFA增益、噪声系数等指标。6362D光谱分析仪还提供了友好的EDFA分析参数设置界面,用户可以根据EDFA特点匹配设置信号光的截至功率、功率测试类型、输入输出偏移量,以及噪声的拟合类型等参数,以保障测试结果的精确性。 作为新推出的新一代近红外光谱分析仪,6362D光谱分析仪已经可以满足当前光通信技术中,对EDFA增益和噪声系数等参数的测试需求,一键测试功能,可以大大地提升对EDFA模块的测试效率,降低测试成本,内置的丰富的EDFA分析参数,可以满足用户不同的测试需求。同时,6362D光谱分析仪也可以根据用户需求,对包括EDFA一键测试功能在内的内置功能进行改进和定制,为用户提供更好的测试体验,与用户一同前行。展示全部
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