观看研讨会回放，了解基于FPGA的Moku平台在前沿IC芯片验证测试中的应用与优势。使用Moku同时部署运行多仪器功能且同时执行测试，将灵活性与高性能深度融合，显著提升芯片研发与量产测试的效率。
直播回顾：基于可重构FPGA的并行IC测试验证解决方案
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直播亮点回顾
1. IC芯片测试配置方案
IC芯片测试通常是由多种仪器组成的测试矩阵，常用的设备包括波形发生器、频谱分析仪、逻辑分析仪、示波器等。通过这些设备，可以对IGBT、VCO、PLL等器件进行精确的特性测试。例如，使用频率响应分析仪对电源的稳定性进行评估，或者用锁相放大器对相位噪声进行测量。
2. 并行IC测试验证解决方案的优势
传统测试方案通常需要整合多品牌和多种类仪器，分别搭建模拟和数字信号测试平台，结合多套设备、机架以及信号路由配置，花费较高的测试时间和系统成本。因此，并行测试是提高测试效率的有效解决方案，并行测试的主要优势有：
支持混合信号测试： 同时具备模拟和数字测量功能
高精度时间同步： 多个仪器应共享触发器和时钟源，提高系统测量精度
多仪器集成，自动化程度高： 多仪器使用统一编程语言配置，仪器间通过数字信号连接，减少物理接线和噪声
3. 基于可重构FPGA技术的并行IC测试验证平台
Moku 平台延续了“硬件可重构、软件可重配、功能可重组、需求可定义”的核心设计理念，将灵活性与高性能深度融合，为研发与量产测试提供前所未有的效率提升。通过可重构FPGA平台，测试工程师可以快速切换不同的测试功能，优化测试流程，缩短研发周期。Moku是基于FPGA的多功能电子测量平台，通过其可重构硬件架构与软件定义仪器技术，将超过15种仪器功能集成到一台设备中，允许用户在同一平台上同时进行多通道、高速测试，为IC测试提供了一整套灵活、高效且成本可控的并行测试解决方案。
4. 仪器演示
在仪器演示环节，工程师展示了如何使用Moku实现信号生成、数据记录和实时分析，进行VCO本征噪声测量、PLL控制环路的传递函数测量等实验。
精彩问答
Q1:Moku 硬件平台架构如何实现多种测试测量，它如何在并行 IC 测试中脱颖而出？
Q2:Moku 上能支持AI测试吗？ Q3:使用上位机进行二次开发，可以支持什么语言？
答：我们提供丰富的 API 支持，包括 Python、MATLAB 和 LabVIEW，同时也支持 C 语言和 Java 等主流编程语言，实现测试流程自动化、数据处理加速以及与现有软件平台的无缝对接。详细信息请联系上海昊量光电来获取详细信息。
此次研讨会由于时间有限，许多观众提出的问题未能逐一解答。如果您对我们的产品感兴趣，或希望进一步探讨您的具体应用，欢迎点击“阅读原文”填写申请表，或直接联系上海昊量光电！
关于Moku
昊量光电代理的Moku是由Liquid Instruments基于FPGA技术开发的多功能测试测量平台，结合高带宽模数转换器和数模转换器，实现信号生成、调节控制及测试分析等多种仪器功能。凭借其创新的软件定义精密测量技术，Moku将15种不同的测试测量仪器功能集成于一台设备中，包括锁相放大器、激光稳频控制器、高精度相位计、时间间隔分析仪、机器学习神经网络、示波器和任意波形发生器等为IC验证测试提供了一整套灵活、高效且成本可控的解决方案。
更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电
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上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。
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