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膜厚测量仪

膜厚测量仪(厚度范围1nm~10mm)Filmetrics F20单点薄膜透明膜半透明膜厚度测量仪膜厚仪多波长椭偏仪/膜厚测量仪半导体/薄膜无损检测仪 显示全部
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Filmetrics F20单点薄膜透明膜半透明膜厚度测量仪膜厚仪

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只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。

所属类别:光学检测设备 » 膜厚测量仪

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产品负责人:

姓名:李工(Maple)

电话:130 2028 5269(微信同号)

邮箱:qiang-li@auniontech.com

Filmetrics F20单点薄膜透明膜半透明膜厚度测量仪膜厚仪


Filmetrics F20 膜厚测量仪-测量厚度从 1nm 到 10mm 的膜厚测量系统

您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,Filmetrics F20 膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,Filmetrics F20 膜厚测量仪适用于各种应用。



Filmetrics F20 膜厚测量仪-我们能测量什么?

  • 薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等

  • 薄膜种类:透明及半透明薄膜,常见如氧化物、聚合物甚至空气

  • 薄膜状态:固态、液态和气态薄膜都可以测量

  • 薄膜结构:单层膜、多层膜;平面、曲面


Filmetrics F20 膜厚测量仪-膜层范例

基本上光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜可以测量。

这包括电介质与半导体材料,例如:


SiNXTiO2DLC
光刻胶SU-8聚合物有机电致发光器AIQ材料
非晶硅ITO硒化铜铟镓CIGS



Filmetrics F20-膜厚测量范围




Filmetrics F20-膜厚测量仪选型表:

型号厚度范围*波长范围
F2015nm - 70µm380-1050nm
F20-EXR15nm - 250µm380-1700nm
F20-NIR100nm - 250µm950-1700nm
F20-UV1nm - 40µm190-1100nm
F20-UVX1nm - 250µm190-1700nm
F20-XT0.2µm - 450µm1440-1690nm
F3-sX 系列10µm - 3mm960-1580nm

*取决于薄膜种类

Filmetrics F20-膜厚测量仪测试原理:


Filmetrics F20-膜厚测量仪常见应用:

半导体膜层液晶显示器
光刻胶     OLED
加工膜层玻璃厚度
介电层ITO和TCOs
光学镀层生物医学
硬涂层   聚对二甲苯
抗反射层医疗器械



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