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膜厚测量仪

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薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)

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薄膜厚度精准定位小点测量

所属类别:光学检测设备 » 膜厚测量仪

所属品牌:美国Semiconsoft公司

工业应用负责人

姓名:兰工(Hector)

电话:130 6160 8524(微信同号)

邮箱:haige-lan@auniontech.com

微信:点击扫描添加

科研应用负责人

姓名:刘工(Glenn)

电话:185 0177 0670(微信同号)

邮箱:haoan-liu@auniontech.com

微信:点击扫描添加

薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(精确定位测量)


 


MProbe 60 是一站式系统,专为研发中心和小型制造而设计。它结合了测量厚度/n&k 与自动化小点测量的能力。MProbe 60 已应用于研发纳米技术中心。可以快速可靠地测量 1 nm至 2 mm的厚度,包括多层薄膜堆叠。不同的MProbe 60 型号主要受光谱的波长范围和分辨率影响,进而决定了可测量的厚度范围。

 

薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60的优势:

1.具有灵活和模块化的映射自动化的一站式系统

2.无与伦比的精度 <0.01nm 或 0.01%

3.500+ 扩展材料数据库

4.软件:用户友好且功能丰富的 TFCompanion 软件甚至可以处理zui复杂的应用程序。层数没有限制,支持背面反射、表面粗糙度、暗度等等。集成的相机和成像软件允许精确定位测量位置并直接在图像上显示结果

 

薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60选型列表:

MProbe 60

波长范围

厚度范围

VISLX

400nm -1000nm

10nm – 75μm

UVVisSR

200nm-1000nm

1nm-75μm

UVVisF

200nm-900nm

1nm – 5μm

VISHR

700nm -1100nm

1μm – 400μm

NIR

900nm-1700nm

50nm -100μm

VISNIR

400nm -1700nm

10nm-100μm

UVVISNIR

200nm-1700nm

1nm-100μm

NIRHR

1530nm-1580nm

25μm-2000μm




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产品标签:薄膜厚度测量,光学测量,无接触薄膜厚度测量,精准定位,自动化,多层薄膜厚度测量