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光在溶液中的光程,再结合后面电极的放置,设计了一个半径为15mm,池体壁厚为2mm的半圆体。在材料选取上,考虑到通常使用的椭偏仪入射波长是300nm到800nm波段,且要减小池体壁对光的损耗,所以观察窗口选用石英玻璃制作。两边长方体的尺寸设计如图3-2(b)所示,考虑的长度以及溶液的体积,长方体的长宽高分别为60mm、60mm及80mm。由于两边的池体设计主要起到增加溶液体积的作用,所以其制作材质没有特别的要求,这里选用5mm厚的亚克力板。图3-2池体模型图及尺寸设计图对于工作电极载体的设计如图3-2(d)所示,考虑到观察窗口的大小及电极的大小,其尺寸为20mm×55mm×5mm,材质选用5m ...
溶液中经过的光程是25px、50px、75px、100px、125px和150px,则要向对应培养皿中加入18.9cm3、33.5cm3、48.0cm3、62.5cm3、77.1cm3和91.6cm3的溶液。在培养皿中先后加入上述体积的溶液,进行入射角度为70°,波长范围为300nm-800nm的椭偏测量,测试得到的椭偏参数如图3-1所示。图3-1不同溶液厚度的椭偏仪测试(a)Psi;(b)Delta从图3-1(a)可知,随着溶液的加入,溶液中的光程从0变化到150px。其中光程为25px、75px时测得的结果比0时要小,且曲线趋势也不同;光程为50px、100px、125px、150px时测 ...
同步传播,其光程差是波长的整数倍。一部分入射光的偏转角度是2θ,会在衍射图案中产生反射点。通过已知波长X射线测量出的θ角,得到晶面间距d,从而可分解析出材料的内部原子、或分子结构。由衍射峰的强度可得出晶体结晶度,再利用谢乐公式(Scherrer)即能计算出晶粒平均尺寸。谢乐公式(Scherrer):式中K是Scherrer常数,如果β是衍射峰的半高宽,那么K=0.89,如果β是衍射峰的积分高宽,则K=1;D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度(nm);θ为布拉格衍射角;λ为X射线波长,λ=0.154056nm。图2-5X射线的晶体衍射图2.6实验主要化学试剂及设备本小节主要对涉及到的化学试剂进行陈述 ...
同的照明度,光程差为mλ/2时是亮条纹,光程差是(m+1/2)λ时为暗条纹,此时m是一个整数。当一个平面镜倾斜时这种情况也将改变。此时,直条纹出现在观察区域,条纹的数目和方向严格依赖于倾斜度。当被测对象不是完全平面时,条纹弯曲而且不在空间均匀分布。这样的条纹图像可以用于表面品质的测试,也可以用于地形表面的分析.分束镜的二次反射可采用镀制减反射膜来抑制,很小的杂散反射也可导致不利的干扰,对zui终干涉造成影响。另一种消除二次反射的有效方法是利用楔形分束镜。这样使得二次反射的方向与主射方向不同,导致聚焦透镜的焦平面上的二次反射点能被一个合适的孔挡住,这样就避免了反射光对zui终的干涉光束的影响。分 ...
面与测量面间光程差引起的初位相.为了从干涉条纹函数中获得位相分布函数φ(x,y),采用了相移法。相移时,条纹位相随着光程或波长变化而发生移动。当给定附加相移φi,干涉条纹函数I(x,y)为:理论上,为了计算位相分布函数φ(x,y),要求i>3。对于标准的相移法,位相步长为2Π/j,j≥3,是个整数,如φi-φi-1,=2Π/j。为了获得精确的位相分布,要求高的位相步长精度。多种位相步长的相移算法已经纯在,如五步和七步算法。对于五步算法,位相分布函数φ(x,y)可按如下计算:位相的步长可通过改变光程或波长来实现。压电传感器(PZT)能改变光程,但是在大孔径上很难得到空间均匀的位相步长。相移 ...
需考虑溶液的光程,原则上越小越好,这样可以减小光的衰减,更易得到沉积薄膜的信息。因此需要根据系统进行设计。4.4光学模型的建立与数据的提取在位椭偏仪测试的另外一个挑战在于数据的分析。通过椭偏光谱的在位监测可以获得(ψ,Δ)值,利用这些光谱,需要进行建模从而获取其光学参数。表1-1总结了在位椭偏仪数据分析常用的分析方法。线性回归分析(LRA)全局误差zui小化(GEM)虚拟衬底近似(VSA)解析条件介电函数是已知介电函数与厚度无关薄膜和衬底吸光难易程度容易困难中等介电函数必要非必要必要透明材料分析可以可以不可以梯度层分析困难困难可行实时控制可以不可以可以表1-1在位椭偏仪数据分析方法表1-1所示 ...
的透射光束的光程差为:由此引起的相位差为:若第1束透射光的初相位为零,因此各光束的相位依次为透射光的振动可以用复数进行表示:我们计算其和振动,其中利用了等比求和公式:其中因此可得:求合振动强度时,针对分式项需要用到他与共轭复数的乘积:因此合振幅的平方为:其中 称为艾里函数,称为精细度,体现出干涉条纹的精细程度。当P为固定值时,A2与相关。当时为zui大,时为zui小。因此越大时,可P见度越显著。图4 不同精细度的艾里函数图目前,激光干涉仪技术正处于不断创新和发展的阶段。随着激光技术、光学器件和信号处理技术的不断进步,激光干涉仪在精密测量、光学成像和光学通信等领域展现出更高的性能和应用潜力。激光 ...
振光束之间的光程差,并在干涉相位中引入线性变化。因此,棱镜相当于移动靶标。图3.6直线度干涉仪了解更多详情,请访问上海昊量光电的官方网页https://www.auniontech.com/three-level-45.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站www. ...
化或振动而使光程波动,zui终使测量结果产生误差。如果您对位移测量有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-55.html更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站www.auniontech.com了解 ...
路具有相同的光程长度。若用激光作为光源,相对于普通光源的斐索干涉仪而言,它不仅可以测量整个光学系统,而且可以提高测量效率,但需要用到较多的光学元件,同时要求分光镜的两个表面以及参考镜都必须非常平整,此外,准直激光束所用的元件和将光束投影到摄像机所用的元件,必须具有相同的精度。(3)马赫泽德干涉仪3.5马赫泽德干涉仪优点:不需要试光路和参考光路的光程差必须相同。其是单通道干涉仪,两束光在测试光路后合成为一束,然后再通过被测系统。相对于双通道干涉仪,其优点是由孔径引起的衍射光只会通过一次,因此,很容易通过处理衍射孔径来消除衍射效应对系统的影响。缺点:不适用于微透镜等衍射很重要的测量中。如果您对干涉 ...
态的变化,在光程中放置了一对近交叉的偏振器。入射光束上的线性偏振器将偏振限制在一个方向上。通过光与磁化表面的相互作用,产生与入射光束垂直的偏振分量。反射光束通过与入射光偏振器近交叉的分析器。这样,光与磁化表面相互作用后保持其原始偏振态的分量被衰减,而通过磁光(Kerr)相互作用产生的分量则被允许通过检测器。zui大衰减的入射光是实现当偏振光完全交叉,但克尔分量的光是非常弱的,将需要一个非常敏感的探测器。通过允许一些入射光到达探测器,克尔信号和背景(入射)信号被允许相干地增加,从而形成一个更高的信号,这很容易被传统探测器记录。应用磁畴研究在许多电气应用中都是有用的,包括磁存储设备、变压器和电机。 ...
,因而满足等光程条件,轴上点成像是完善的。该系统对物体成倒像,焦距长而筒长短。图12.格利果里系统如下图2所示,由抛物面主镜和椭球面副镜组成。抛物面的焦点与椭球面的di一焦点重合,对于轴上点也满足等光程,成像也是完善的。该系统对物体成正像,筒长比同焦距的卡塞格林系统长些。图2以上二种反射物镜虽对轴上点完善成像,但近轴点却有彗差,使视场只能很小。若适当降低对轴上点的像质要求,采用双球面系统,可同时兼顾球差和彗差,既使加工方便,又能使视场内有均匀的像质。二、折反射式望远镜物镜以球面反射镜为基础,再加入用于校正像差的折射元件,可避免困难的大型非球面加工,又能获得良好的像质。这就是折反射物镜。比较zh ...
光陀螺仪利用光程差来测量旋转角速度,具有良好的标度因数稳定性,但由于激光陀螺仪采用激斗消除锁闭问题,采集到的测量信息需进行激斗滤波,滤波时造成系统的导航信息实时性不尽如人意。作战使用需求的增长促进了惯性导航系统技术的发展,光纤陀螺的快速发展开创了惯性导航系统的新局面,特别是光纤陀螺纯固态无运动部件、工艺简单、精度覆盖广、动态范围大、启动快、寿命长等优点,使其在诸多领域中获得应用,但由于其标度因数稳定性稍差,在高精度航海领域收到一定限制。近几年,随着材料、工艺的不断改进,其标度因数稳定性得到大幅度提升,并且在随机误差方面表现出ji佳的性能优势,并不断向超高精度方向发展。实际上,光纤陀螺惯性导航系 ...
的两光束之间光程差,而分析泵浦脉冲之后的温度场随时间的响应,同时泵浦光束的脉冲在一个或多个频率上施加调制,以便于通过锁相检测同频信号,而且TDTR中锁相放大器获得信号的振幅、相位或同相X与失相Y分量的比值都可以作为可观测参数。FDTR和TDTR的相位数据测试曲线如图2中所示。一般FDTR实验探测样品在kHz到MHz范围内温度频率响应,而TDTR则可以探测到GHz频率的温度响应。图2:左-频域热反射(FDTR)测得的频率-相位数据示意图;右-时域热反射(TDTR)测得的时间-相位数据示意图;其中TDTR的优点由超快的皮秒级时间分辨率,能处理载流子之间的非平衡动力学,提高了对热界面导和薄膜热性能的 ...
必须穿过一条光程长度,该光程长度相对于路径的变化是静止的。根据费马原理,我们可以得出一个重要的结论:对于光学系统中任意两个非共轭点P和P ',都有且只有一条光线通过这两点。如果P和P '是共轭点,这个结论是无效的,因为所有穿过共轭点的光线都具有相同的光程长度。这一结论的理论重要性在于,对于任何来自物体平面上的一点并经过系统光阑面上的一点的光线,这条光线将完全由这两点定义,因此这条唯一光线的每一个参数都可以写成物体和光阑坐标的函数,并可以利用这四个变量进一步表示为幂级数展开。现在让我们假设P(x ,y ,z)和P ' ( x', y', z')是变 ...
部分反射光的光程差,光程差又是由薄膜厚度,光学常数,和光波长决定的。当薄膜内光程等于光波长的整数倍时,两组反射光相位相同,因而干涉相长。当光重直人射到透明薄膜时就是这种情形,即2nd =iλ,这里d薄膜厚度,i是整数(系数2是因为光穿过薄膜两次)。相反,薄膜内光程是波长整数倍加半时,即 2nd=(i+1/2)λ时,两组反射光相位相反,因而干涉相消。反射率可以合成一个简单公式:从公式看出,薄膜反射率随波长的倒数周期性地变化,如下图所示。在相同的波长下,较厚的薄膜产生更多的振荡,较薄的薄膜产生较少的振荡,并且常常只有一个振荡的一部分。如果您对膜厚测量有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https ...
制,通过改变光程来控制泵浦脉冲和探测脉冲间的延迟时间,由于热反射效应导致照射至其上的探测光脉冲受温度偏移的影响(如图2中所示),其中包含样品的热物性信息。图2:横轴为时间轴其中(a)经过调制器调整后的泵浦脉冲;(b)为样品收到泵浦影响的表面温度变化;(c)探测光脉冲,与泵浦光脉冲之间有一延迟;(d)由样品反射的探测光的信号[2]此外针对于测量面内热导率的空间域热反射率(SDTR)可以测量1到2000 W/(m·K)范围内小尺度横向各向异性的热导率张量。与其他的泵浦探针技术相比,这种新的SDTR方法不需要表征各种非热相移,因此更容易实现,也更不容易在采集的信号中出现误差。与TDTR和FDTR不同 ...
但它可以通过光程长度的抵消来降低。[43]得到了平均时间为1s时的分数不稳定性为重叠的Allan偏差达到的不稳定性,在平均大于1000 s时没有明显的频偏。将锁模激光器的和固定在一定的频率上,降低锁模激光器的相位噪声,是提高锁模激光器精密度的关键。为了改善系统的相位噪声性能,采用了大带宽驱动器与最佳净腔色散和泵浦电流相结合的方法。请注意,由射频参考信号直接稳定的OFC会随着光模式数量的增加而出现相位噪声退化,导致光线宽度变宽,也是高频抖动引起的。在我们的系统中,从梳状模与光学基准之间的拍频信号中提取出梳状模的相位波动。为了抑制快速的相位波动(>10kHz),同时获得长期稳定,通常都需要宽 ...
须具有准确的光程。所以,傅里叶变换透镜必须使无穷远入射的平行光束在后焦面上完善地成像;第二对必须控制像差的共轭乎面是以输入面作为物体,对应的像在像方无穷远,如下图3所示。图3为了减少杂散光和保证所需要的直径,宜在输入面与频谱面上放置光阑,以控制输入面与频谱面的大小,而且不能使傅里叶变换透镜本身的外径起拦光作用。输入面和频谱面中的任一个都可以视为孔径光阑,而另一个视为视场光阑,与此对应有两种处理方法,一种是物在无穷远,孔阑在前焦面,为像方远心光路;另一种是物在前焦面,孔阑是后焦面,为物方远心光路。两种处理方法的几何光路与最终效果完全相同。无论用何种方法都必须同时控制物面像差和光阑像差,即对两对共 ...
。这个元件在光程中被望远镜跟随,这是确保从DOE出现的小束也在检镜处重新连接在一起所必需的,允许每个单独的小束保持准直,并微调-小束传播的角度。当使用偶数量的波束时,我们通过机械阻塞消除了零级波束。虽然从DOE发射出的每个小束都与射入DOE上的激光束的直径相同,但随后的望远镜产生了一个副作用,即每个小束的大小与望远镜的功率成正比。因此,我们用另一台望远镜预先缩小或预先扩大入射激光。由于我们的系统已经在光路的早期使用了望远镜,使光束通过针孔(一个空间滤波器,确保光束截面轮廓的圆度;图1B,元素3),我们利用同样的望远镜,通过简单地改变该望远镜的焦距和第二个透镜的位置来预补偿光束的大小(图1A)。 ...
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