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伤的在位椭圆偏振法来监测CsPbI3薄膜在室温至340℃热变色过程中三个显著相变的光学性质演变等。除了上述椭偏仪常规薄膜的研究以外,椭偏仪还用于自组装单层膜(SAMs)厚度的研究。自早期实验以来,椭圆偏振谱已被广泛应用于自组装单层膜的厚度测定。利用椭偏仪测量得到SAMs表面光谱特性,可以得到SAMs的光学性质以及形态结构,如界面形态等。随着自组装单层膜(SAMs)监测表征技术的发展,红外椭圆偏振光谱(IRSE)作为表征纳米结构的一种强有力的工具,特别是自组装单分子膜(SAMs)的表征上,已得到极大的发展。与传统的傅里叶变换红外反射吸收光谱(FT-IRRAS)相比,IRSE在测定高反射率波长区域 ...
监控原理椭圆偏振法在位监控是指在材料生长或表面吸附过程中进行在位测量。标准的椭圆偏振装置可以实现样品的实时监测和控制过程。在位监控原理如1-2所示,在位测试的搭建过程中,需要注意测试装置、椭偏仪的匹配。监测窗口要位于测试沉积基底较远的地方,以避免沉积在窗口上。此外,监测窗口会影响光的偏振状态,因此必须对其进行表征。图1-2利用椭偏仪测量的示意图反射椭偏仪是研究薄膜生长和表面吸附的一种有力工具。在位椭偏谱测量中,应用zui广泛的仪器是旋转偏振片椭偏仪。在旋转偏振片椭偏仪中,仪器的起偏器或检偏器(RPE)、分析仪(RAE)或补偿器(RCE)随时间连续旋转。另外一种相位调制椭偏仪(PME),没有活动 ...
蓝宝石和石英石板小双折射的测量摘要:测量了石英和蓝宝石板在632.8 nm处的双折射。观察到的双折射被认为是由光轴相对于平板几何结构的倾斜引起的。用两种仪器方法进行了测量。空军研究实验室使用了穆勒矩阵激光旋光计,Hinds使用了exicor系统。介绍了测量技术,并给出了测量结果。简介及背景石英和蓝宝石是单轴晶体,当晶体定向时,使光束经历非凡和普通的指数,就可以很容易地观察到这些材料的双折射。如果晶体的光轴与光学系统的轴对齐,则不会观察到本征双折射。然而,如果这两个轴没有对齐,一个起源于这两个轴之间的角度的双折射将被观察到。得到了石英和蓝宝石的平板,经过切割和抛光,使晶体光轴从平板的法线向表面倾 ...
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