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光量测设备
色度计
荷兰Admesy公司Hyperion 高速、高准度在线测试色度计(显示器、光源测量)
荷兰Admesy公司MSE在线色度检测色度计(显示器、光源测量)
Atlas成像亮度色度计(显示器测量)
Hyperion 高速、高准度四角度色度计(显示器、光源测量)
Prometheus-2.1mm(普罗米修斯色度计)
超低噪声光谱色型度计(可用于各种色度计校准)
PR-788宽动态范围光谱辐射亮度计
Asteria亮度计(亮度、照度,Flicker测量)
Admesy色度计
CS2000分光辐射亮度计
PR-670光谱辐射亮度计
PR-655光谱辐射亮度计
BTS256-EF频闪仪
PROMETHEUS 10mm镜头色度计
NEO系列高端光谱辐射度计
MSC15光谱照度计
Prometheus 内置取景器光谱仪
成像式亮度计
Admesy色度计Prometheus-27mm
光谱色度计(可用于各种色度计校准)
照度计
紫外和蓝光污染测量仪X1-3
光源
多通道光谱可调LED光源(全功能光谱可调光源)
光量测光谱仪
非接触式二维光谱颜色测量系统(成像色彩分析系统)
PR-1050 光谱式亮度计
积分球
积分球均匀光源-连续发射光谱
雾度计
雾度计LCRT-2005H-S
空间光调制产品
振幅型空间光调制器
超高分辨率LCOS微显示
2048x2048高分辨率纯振幅液晶空间光调制器
星模拟器专用液晶LCOS(2048x2048分辨率)
纯相位空间光调制器
超高速液晶空间光调制器
DMD数字微镜
DMD空间光调制器/DLP数字光处理模组
近红外DMD空间光调制器( 高损伤阈值NIR)
紫外高分辨率高速DMD空间光调制器(UV)
超高速DMD数字微镜阵列空间光调制器
ViALUX计算成像用高速大数据吞吐量DMD空间光调制器
场景模拟用DMD空间光调制器
工业级RGB彩色高速DLP光学投影模组
工业级高速DLP光机引擎
DLP光学引擎
磁学测量设备
高斯计/特斯拉计
3轴手持式特斯拉计3MH1-便携式可触摸显示
高精度三轴数字工业用高斯计/特斯拉计3MH3
核磁共振设备
Metrolab PT2026核磁共振高斯计
磁场相机(磁场映射)
Metrolab 核磁共振(MRI)磁场相机MFC2046
磁通门计
Metrolab TFM1186 三轴磁通门计
连续激光器(CW)
单频 | 单纵模激光器
Stable Laser System超窄线宽稳频激光器(典型1530-1565nm,500-2050nm可选)
稳频激光器
3Hz超窄线宽稳频激光器
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生物成像用超快激光器
950-1150nm宽谱、超短脉宽飞秒激光器(15-20fs, 多色双光子)
科学研究用飞秒激光器
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亚纳秒激光器
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可调谐激光器 | 光源
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高功率 宽光谱 光束质量分析仪 KLT-UBP (190nm-5000nm)
波前分析仪/波前传感器
高灵敏度等离子体分析仪
偏振态测量仪
超宽带偏振态测量仪
小尺寸宽带偏振态测量仪
光纤偏振态测量仪-广泛用于保偏光纤偏振测量及对准
校准用标准偏振态发生器
光束位置测量
PSD位置敏感探测器
ACT-25B电子自准直仪
超短激光脉冲测量系统
超短脉冲测量仪-FROG脉冲测量系统 (FROGscan)
中红外FROG超短脉冲测量仪 (FROGscan)
通用自相关仪FR-103XL
高功率自相关仪FR-103HP
AA-DD扫描自相关仪(450-3200nm)
自相关仪-双光子显微专用(450-2000nm)
高达10亿帧/秒!超快时间拉伸光谱仪
单发瞬态光谱仪-超快动力学
APE自相关仪-PulseCheck
激光波长计
400-1100nm激光波长计(600MHz)
亚皮米波长计(350-1100nm)
2.9万元-微型激光波长计(支持先试后买)
功率计/能量计
积分球光功率计
高功率激光功率计
超高功率激光功率计(>1KW)
功率计
能量计
调制器 | 偏转器 | 滤波器
电光调制器 | 普克尔盒
用于光纤传感BOTDA/BOTDR的铌酸锂调制器
铌酸锂相位调制器(相干合成应用)
声光调制器 | AOTF
多通道声光调制器(AOMC)
声光可调谐滤波器 (AOTF)
延迟线 | 光纤拉伸器
ADL-200可编程光学延迟线
光弹调制器
偏振分析专用锁相放大器
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再生放大器专用调制及控制模块
电子学测试仪器
锁相放大器
Moku:Lab锁相放大器
多频锁相放大器 MLA
多通道锁相放大器-同步采样测量
MFLI 系列500k/5M锁相放大器
Boxcar平均器/Boxcar积分器
信号发生器|AWG
高速脉冲发生器-Pulse Rider
100MHz~40GHz 微波信号发生器
皮秒脉冲发生器Rider Series PG-1000
高振幅脉冲发生器Rider Series PG-1500
阻抗分析与断层成像
VC-CC ePatch微流孔放大器—膜片钳
MFIA阻抗分析仪
示波器与频谱分析仪
Tektronix TBS1000B 系列 数字示波器
电流源表
快速霍尔效应测量系统RTM2-制样无需复杂光刻
时间测量与频率分析
高精度时间间隔测量仪与频率计数器(2ps)
高精度时间频率分析仪/时间间隔分析仪
超高精度时间间隔测量仪/模块
超高精度时间间隔测量模块
光谱仪器
拉曼光谱仪 | 拉曼显微成像仪
XperRam Photocurrent光电流成像光谱系统
滑动式二硫化钼CVD制备设备
高光谱成像仪
Specim-IQ手持式高光谱成像仪
短波红外高光谱相机SPECIM SWIR(1000-2500nm)
太阳能电池专用光谱成像及特性分析系统
高分辨率光谱仪
高速、超高分辨率光谱仪(8pm)
相机系列
科研相机
Prime系列背照式科学级sCMOS相机
高速像增强器 - HiCATT
时间相关单光子计数相机—TCSPC FLIM
高速高分辨率的PCI Express摄像头
高帧频时间分辨相机(1.6ns)
中红外相机 | 热红外相机
固定式高分辨率热成像仪(310万像素)
FLIR热红外成像仪(在线式、手持式体温筛查)
菲力尔 FLIR无人机用热成像仪
偏振相机
全斯托克斯相机(偏振相机)
CameraLink图像采集卡
多光谱相机
PIX4D软件
Dualex便携式氮平衡-叶绿素-花青素-黄酮醇测量仪
遥感 | 安防 | 夜视相机
超低光照夜视相机/安防相机
测绘级机载激光雷达
Zenmuse XT 2 双光相机(高清+热红外相机)
光学器件
非球面镜
非球面镜|高数值孔径(S-LAH64)
非球面镜|低数值孔径(N-BK7)
非球面镜|熔融石英(FusedSilica)
a|锥透镜
a|非球面柱面镜
a|已安装的非球面镜/锥透镜/非球面柱面镜
场镜 | 扩束镜
平场聚焦镜(f-theta镜)
YAG激光高性能扩束镜
非球面扩束(缩束)镜
红外观察仪
高灵敏红外观察仪-长续航(350-1550 nm)
光束整形器件
非球面光束匀化镜- a|TopShape
非球面光束匀化镜- a|AiryShape & a|SqAiryShape
光栅 | 晶体 | 玻璃
体布拉格光栅(VBG)
Wasatch Photonics透射式体相全息衍射光栅(VPH)
透射式脉冲压缩光栅 (fs/ps 脉宽压缩)
体相全息光栅 (VPG)
超高衍射效率全息光栅-(高灵敏度光谱仪用)
Wasatch Photonics光学相干断层扫描(OCT)用体全息光栅
体相全息衍射光栅-天文用
体相全息衍射光栅-可调谐激光器用
周期极化晶体
晶体配套附件(温控设备)
MgO Doped PPLN
光纤 | 光纤器件
光缆 | 跳线 | 光纤束
高分辨传像纳米波导
光纤光栅(FBG)器件
超窄带带通滤波器模块 (1~4GHz)
位移台 | 偏转镜 | 旋转台
变焦模块 | 物镜扫描台
液体可变焦透镜
快反镜 | 扫描镜
MEMS扫描镜
MEMS扫描镜开发套件
精密定位平台 | 显微载物台
美国ASI公司高精度显微镜载物台/位移台
冷原子 | 量子光学产品
外腔半导体激光器
外腔半导体激光器控制器
TDC | TCSPC
时间相关符合计数器TCSPC
稳频控制 | 频率参考
激光波长调谐与稳频器-iScan
量子光学实验教学系统
小型量子纠缠源实验系统
材料分析设备
光电测试系统
高速荧光寿命显微成像系统 - LIFA
定制化荧光寿命成像系统
热学性能测量
ASOPS 成像系统/ 异步光采样 成像系统-neta Jax
近场热成像模块
模态分析
自动模态脉冲力锤(可试用)
线性功率放大器BAA 500 BEAK
声学检测设备
Eta450 Ultra 光学麦克风(50KHz-2MHz)
Eta250 Ultra 光学麦克风(10Hz-1MHz)
Eta100 Ultra 光学麦克风(10Hz-1MHz)
Eta450 Ultra 阵列多通道光学麦克风(10Hz-1MHz)
Eta100 L Ultra 光纤水听器(50KHz-10MHz)
LEAsys超声无损检测系统
Eta250 L Ultra光纤水听器(10Hz-2MHz)
磁学测量
Matesy磁场相机—磁光成像MOI
3轴手持式USB特斯拉计
手持式磁场相机mageye
M-axis磁偏角磁矩测试仪
Matesy-STT系列轴扭纹光学测量仪
可调谐磁场源-用于激光实验或显微镜集成
Metrolab THM1176 三轴便携式USB高斯计
核磁分析
小型多功能核磁波谱仪
原子力显微镜
NT-MDT原子力显微镜
光学检测设备
MTF测量仪/传函仪
Kaleo MTF测量工作站
偏振 | 双折射成像设备
定量双折射成像系统
双折射显微成像系统(abrio替代产品)
反射率测量
双向散射分布函数测量仪
光谱透过率测量系统
应力测量系统
超精密光学应力测量设备-硫系玻璃及Si,SiC,GaN等应力测量
二维应力成像仪
冲压应变分析仪AutoGrid®comsmart
Hinds液晶面板应力分布测量系统
光弹性系数测量仪
激光干涉仪
高分辨率激光干涉仪
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膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)
薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)
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显微成像相机及组件
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