SCMOS相机 光束分析仪 DMD 光纤束 合束激光器 共焦 拉曼光谱仪 锁相放大器 无掩膜光刻机 高光谱相机
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像采集。数字CCD(电荷耦合器件)或CMOS(互补金属氧化物半导体)相机直接提供数字化数据流,而视频速率CCD相机的模拟输出必须通过模数转换器进行转换。如果数字CCD相机的帧速率足够快(约10赫兹),可以实现实时成像,那么它就适合克尔显微镜。CCD芯片的冷却提高了信噪比,图像增强器可以进一步提高灵敏度。在实际应用中,需要对图像亮度进行适当调整,以满足摄像机的zui佳动态范围。增大分析仪角度或将光圈开到消光交叉的宽度以外,从而增大背景强度,是实现大信噪比的实用手段。可能的对比度损失并不是一个严重的问题,因为对比度可以通过电子差分成像来增强。为了创建差分图像,首先通过对相同样本状态的重复图像求和来 ...
荷耦合器件(CCD)探测器上。它是一个背面照明的薄CCD。目前的CCD芯片像素为2,048×2,048,像素尺寸为13.5 × 13.5µm2。放大倍率的典型值在1500到2000之间,每个图像的视场约为10 μ m。根据可用光子的通量,对于具有强对比度的样品,每张图像的照明时间约为1-2秒。图2.在Fe L3边缘轨道平面上下圆偏振处观察了非晶GdFe样品的磁畴结构,显示磁对比的反转。为了通过XMCD获得磁对比度,通过CZP前面的一个孔来选择轨道外发射的圆偏振X射线,该孔掩盖了入射辐射的上半部分或下半部分。图2显示了在706 eV的Fe L3边缘记录的非晶GdFe体系的磁畴结构,辐射在存储环轨 ...
sCMOS或CCD相机相结合,或微通道板(MCP)和基于光电阴极的宽视场探测器结合。由于增强器的增益较大,时间门控图像增强器的动态范围较低,且成本昂贵。由于涉及的超高电压,MCP在zui大可实现的全局计数率上是很有限的,且实际使用同样昂贵和复杂。标准CMOS技术中单光子雪崩二极管(SPADs)的发展,以及大型CMOS SPAD阵列的引入,创造了具有并行读出和快速数据处理的多通道单光子计数的潜力。因为CMOS技术支持模块化、可扩展构建,具有大型计数器和快速电子处理能力,其完全集成了的门控选项,因此SPADs可以达到高定时性能,并且没有全局计数限制。直到zui近,兆像素时间分辨SPAD相机的主要问 ...
光纤通向带有CCD相机(Andor)的750毫米光谱仪。采用可调谐连续波光源进行光激发。图1.a)是极化PL设置。在输入端和输出端分别加一个短通(SPass)和长通(LPass)来降低泵浦激光噪声。在收集方面,光纤可以通向光谱仪或单光子计数器。泵浦探针时间分辨装置b)有一个FM(翻转镜),可用于在TR(光电二极管)和TRKR(平衡光电二极管)测量之间切换。S是样本的缩写。所有的时间分辨测量都是在Quantum Design的OptiCool的测试版中完成的(图2)。该系统的温度范围为1.5 - 350k,磁场达到7t。对于光学访问,有七个侧窗和一个顶窗。样品阶段为半径6厘米,而超导磁体内缘之间 ...
,解决了EMCCD或者sCMOS用于流式细胞术速度不足的问题。而FIRE的核心特征在于样品上每个单独点均能够以不同射频激发荧光。在两束移频激光之间干涉所产生的拍频处,数字合成的射频“标记”了荧光发射的各个像素点。这和无线通信系统中的频率多路复用类似,FIRE图像的一行内的每个像素点都被分配了自己的射频。单元光电探测器同时检测多个像素的荧光,并从探测器输出的频率分量中重新构建图像(运用数字域的并行锁相放大来分辨)。样品中每个点能以不同的射频来激发荧光的秘诀在于其中的马赫-曾德尔干涉仪(MZI),并使用声光器件来执行拍频激发多路复用。如上图a所示,MZI一路的光通过声光偏转器(AODF)产生频移( ...
型光栅和线阵CCD,可以同时得到多个波长处的光强值,可测光谱为300~1100nm。整个测量系统由Labview软件编程实现自动化控制。一般情况下,入射光的斯托克斯参数、波片的方位角误调和相位延迟随波长变化。由于这些参数的不确定性,单一波长处的仪器矩阵定标可能无法比较和分析非线性zui小二乘拟合方法和传统方法的差异。为了克服这一困难,实验中利用斯托克斯椭偏仪中光纤光谱仪的优势同时定标500~700nm波段的仪器矩阵。实验中分别使用非线性zui小二乘拟合定标方法、四点定标法和E-P定标法测量了KD*P型椭偏仪的仪器矩阵X,测量结果如图2所示。图2 斯托克斯椭偏仪的仪器矩阵x定标结果通过分析发现, ...
果直观,通过CCD成像,可以直观地看到样品形貌,排除测量中的伪信号,从而使测量更加准确。现在的椭偏成像技术在波长范围、测量面积、精确度、测量速度等方面得到很大程度的改进,可以获得样品包含整个视场的大面积区域内的测量信息,实时观测样品的状态,实现大视场宽光谱测量,在纳米薄膜、生物医学等方面具有极大的应用价值。如果您对椭偏仪相关产品有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-56.html相关文献:1薛利军, 李自田, 李长乐, 等 . 光谱成像仪 CCD 焦平 面组件非均匀性校正技术研究[J]. 光子学报, 2006, 35 ...
偏成像技术与CCD相机的结合,克服了机械扫描成像速度慢的问题,使得实时检测成为可能,推动了该技术与生物芯片技术的组合,能够用于研究各种生物分子特异性结合反应,并能实时观察分子间相互作用过程,从 而进行有关表面实时吸附的动力学行为的研究。椭偏成像系统能够通过检测抗原和抗体复合膜层,检测到各种抗体和抗原。除了与生物芯片技术组合,椭偏成像生物传感器(IEB)以高灵敏度和对被测生物分子的干扰和破坏zui小而得到广泛应用。靳刚教授课题组在成功研制成像椭偏仪后致力于将该技术与生物医学结合,极大推动IEB 技术的发展。如今,IEB 已被广泛应用于肿瘤早期诊断 、临床治疗标志物检测 、生物分子相互作用分析,已 ...
光谱成像仪 CCD 焦平 面组件非均匀性校正技术研究[J]. 光子学报, 2006, 35(5): 693-696.2游海洋, 贾建虎, 陈剑科, 等 . 面阵 CCD 探测的全自 动椭圆偏振光谱系统研究[J]. 红外与毫米波学报, 2003, 22(1): 45-50.3陈修国, 袁奎, 杜卫超, 等 . 基于 Mueller 矩阵成像椭 偏仪的纳米结构几何参数大面积测量[J]. 物理学报, 2016, 65(7): 070703.4王战会, 靳刚 . 光学椭偏成像技术在生物分子研究中 的应用[J]. 生物工程学报, 2000, 16(4): 429-432.5包学诚 . 椭偏仪的结构原理与 ...
系统采用彩色CCD摄像机,将来自样品表面的反射光的每个偏振转换为强度分布,该强度分布是膜厚度和折射率的函数;并且将强度 分布显示为颜色分布,当样品的折射率均匀时,样品的厚度变化就可以快速表现为颜色的差异。该系统虽然利用不同滤光片产生三种波长的单色光,可以进行三波长测量,但是无法得到样品的宽光谱信息。2004 年,法国的 Boher 等设计出一种光谱椭偏成像系统,采用白光源和四个滤光片分别得到不同波长的单色光波,横向空间分辨率也已经优于10μm。德国的Nanofilm公司研制了一种通过更换滤光片来获取多个波长下样品参数的光谱椭偏成像系统,该系统可以对样品进行更多波长下的特性研究,但仍然无法提供连 ...
的局限,使用CCD相机采集椭偏图像,将成像技术与椭偏技术相结合,研发出成像椭偏仪,该椭偏仪可以观测油滴在云母基地上的扩散过程,极大提高了测量效率。20 世纪 90 年代,基于椭偏测量技术的椭偏光学显微成像发展开来。1996年,中科院靳刚教授与瑞典林雪平大学的Jansson和Arwin以起偏器-补偿器-样品-检偏器(PCSA)椭偏仪为基础,采用准直扩展光束为入射光,CCD 相机作为探测器,如下图所示,对硅基层透明薄膜进行可视化,横向分辨率达到5μm。该技术在由起偏器、补偿器、样品和检 偏器组成的消光式椭偏仪中使用光度式,在衬底裸露部分进行消光调节,然后在保持补偿器方位角、偏振器方位角不变的情况下 ...
定时间,使用CCD相机和反射光(来自脉冲激光束)同时实时成像到光电探测器上。进一步的工作将使用扫描近场模块对磁性结构随时间的变化进行成像,其空间分辨率将大大提高,即低于衍射极限。静态磁图像是由三种克尔磁光效应中的任何一种产生的。偏振入射光由快速脉冲(2-3纳秒)氮化染料激光器产生,照亮整个观察场,或者由氩离子激光器产生,在衍射限制的扫描点共聚焦模式下工作。两种激光器都是波长可调的。在第二种情况下,通过对被成像的样品在激光光斑下进行光栅扫描,或者使用伺服安装的镜子对激光束本身进行扫描。然后用象限光电探测器检测返回的光,其中有许多成像模式是可能的。冷却CCD相机允许对样品进行全方位低电平直接成像, ...
状透镜聚焦到CCD上。与第1个偏振器几乎垂直交叉的第二个偏振器与偏振分束器结合在一起,对从样品反射而不改变偏振的光起滤光器的作用。极化的旋转角度非常低(0.01度或更低,取决于观察的样品),因此克尔影响光的信号非常弱。这个微弱的信号通过第二个偏振器——也被称为分析器——通过管状透镜进入照相机,并在计算机界面中进行图像处理以增强。偏振光的入射角是我们研究的一个因素。上面的光路图显示,垂直调整到光纤的尖端有利于改变入射角。如磁光克尔效应部分所述,纵向和横向克尔效应在正常入射下消失。因此,一个大而明确的入射角是至关重要的克尔显微镜。虽然很难定量测量设计的实际入射角,但这个角度的定义取决于光学元件和设 ...
将光束引导到CCD相机。无限共轭透镜FL2和SFL将样品表面投射到CCD相机上。分析后的样品放置在固定在手动x - y平移台(LINOS XY 85-16-S)上的样品架上。该平台配备了一个自制的高精度定位系统,由一个计算机控制的3通道高压源(Thorlabs MDT693A)驱动,总行程范围为9 μm。电磁铁EM在样品体积中产生磁场。放置在样品附近的定制霍尔传感器H测量施加磁场的值。可编程双极电流源(DANFYSIK DF7000-75-20),zui大输出电流为±20 A,为电磁铁产生所需的电流。如果您对磁学测量相关产品有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auni ...
椭偏成像在 CCD 相机等图像传感器上;摄像机采集的模拟信号通过视频显示器显示,并进一步经图像采集卡进行A/D转换,转变成数字图像文件进入到计算机。通过计算机,对数字图像文件进行分析获得样品的信息。一束单色光投射在一各向同性且材质均匀的界面上,上半部分折射率为n1,下半部分折射率为n2,光会在界面处发生反射和折射,如下图所示。示意图 单色光在各向同性且材质均匀的界面上的反射和折射其中Eip、Erp和Etp分别为p光的入射、反射和折射电矢量,Eis、Ers和Ets分别为s光的入射、反射和折射电矢量,θ1和θ2为入射角和折射角。光波电矢量可以分解为振动方向平行于入射面的p光和振动方向垂直于入射面的 ...
vice (CCD)或 complementary metal-oxide-semiconductor transistor(CMOS)为探测器实现高横向分辨率的椭偏测量技术。随着各种技术的发展,传统椭偏测量技术已经无法满足测量要求。从根本的测量原理来看,传统椭偏测量技术测量时采用的是光斑照射区平均测试方法,分析的数据是全部光斑照射区域内样品待测参数的平均值,这不仅难以准确地检测分析小于光斑照射区域内待测对象的微小变化,对于待测参数分布不均匀的样品也会得到错误的结果,无法 满足对样品性能的表征要求。另外,传统椭偏仪横向分辨率主要取决于光斑直径和样品台位移精度,其光斑直径一般为 3-25 mm, ...
、光谱仪、ICCD(强化电荷耦合装置)和控制系统组成。激光照射爆炸材料,受激拉曼散射光通过采集光路进入探测器,在激光、光谱仪、探测器等的控制下成像、采集光谱信息。在普通方式下,发射光路和收集光路是同一条,从而减少了能量的损失。激发波长和目标表面接收到的光能影响拉曼光谱的质量。拉曼散射强度与入射光波长的四次方成反比,荧光等杂散光的影响,在不同的激发波长下获得不同质量的拉曼光谱。在隔离拉曼系统中应用的激光源通常是紫外、可见光和近红外。在532nm激发下,样品本身或背景的荧光可能会干扰拉曼信号,而在355nm和266nm激发下,干扰减弱,且266nm的信噪比优于355nm。但也有例外,对于RDX, ...
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