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BS1引入的误差分析NPBS1引入的误差分析根据式(14),用图2描述了NPBS1的方位角θ对椭偏参数测量误差的影响。(a)幅值比误差(b)相位差误差图2 NPBS1方位角对椭偏参数误差的影响由图2可知,NPBS1的对准误差对相位差测量的影响很小。当一0.1。时,椭偏参数误差约为:假设经过充分调节,NPBS1不存在方位角误差,即θ=0°,根据式(14)标定之后,NPBS1的退偏效应对椭偏参数误差的影响可以表示为:由上式可知,通过标定可以消除退偏效应对测量的影响;但是退偏效应的不稳定,即NPBS的p,s分量透射比、反射比K、反射相移、透射相移的波动,对椭偏测量精度影响很大,且无法通过标定来消除。 ...
位延迟量测量误差分析影响波片相位延迟量测量准确度的因素主要有:标准1/4波片的偏差及待测波片快轴与入射面夹角θ的误差等,下面从公式(4)出发,讨论两者误差对波片测量延迟量的影响:(一)当标准1/4波片和待测1/4波片的相位延迟量都是理想的90°时,得到δ与θ的关系如图1所示,θ的变化范围是-4°至+4°。可见,当标准1/4波片和待测1/4波片在理想情况下,待测1/4波片的方位角θ不影响其相位延迟量测量。图1当标准1/4波片理想时待测波片δ与其方位的角θ的关系(二)实际上,由于波片受温度,及制作工艺的影响,其相位延迟量不可能是理想的90°。若待测1/4波片的相位延迟量为88.8°,标准1/4波片 ...
量法的原理及误差分析光强测量法1.测量原理所谓光强测量法是通过测量测试系统透过的光强值,利用透过光强与待测元件位相延迟关系计算出待测元件延迟值。测试系统构成与光谱扫描法相同,系统出射光强表达式也相同。式中Ω和θ是两个zui活跃的量,容易改变并准确测量。因此理论上讲,为避开对的测量,可任意测定两组不同的Ω和θ的光强值及,即可求出待测元件的延迟,其结果可以表示为:式(1)是光强法的通解。当保持θ不变,改变波片方位角Ω进行测量的方法为旋转待测波片法;而当保持Ω不变,改变θ的测量方法为旋转检偏器法。下面简述这两种常用方法的原理。(1)旋转待测波片法:旋转波片法通常采用读取旋转过程中光强的zui大值和z ...
偿法的原理及误差分析补偿法1.测量原理补偿法是利用位相补偿器件将由待测元件产生的位相延迟补偿为0(或2π),从而测量波片位相延迟。通常有λ/4波片补偿法(Senamont法和Tardy法)和Soleil补偿器法。λ/4波片补偿法由于需要已知某波长处精确的λ/4波片,而且测不同波长的位相延迟需要不同波长的λ/4波片,所以此方法在高精度测量中并不可取,这里不再赘述。而Soleil补偿器的位相延迟连续可调,适用于不同波长延迟的测量,下面讨论这种方法。测试系统由起偏器、检偏器、待测元件和Soleil补偿器构成。通常起偏器和检偏器正交放置,Soleil补偿器的光轴与待测元件的光轴垂直且与起偏器的夹角为4 ...
描法的原理及误差分析光谱扫描法1.测量原理光谱扫描法是利用波片延迟与入射波长的函数关系,通过改变系统入射光波长,记录不同波长系统透过光强从而测得位相延迟的方法。测试系统由起偏器和检偏器及置于其间的待测元件等构成。若以起偏器透振方向沿x轴,双折射器光轴方位角为Ω,延迟为φ,检偏器透振方向为θ方向,则系统Jones矩阵可表示为:若以强度为的自然光入射,则系统出射光强可表示为:因此,测得Ω、θ、I(λ)及值即可计算出该波长所对应的延迟值。这种方法便于测量不同波长对应的位相延迟,若辅以精密的单色仪便可以方便快捷地获得大量数据。但考虑到系统表面反射及吸收损失,不易准确测得,所以该方法只适于找到光强随波长 ...
可以表示为:误差分析与讨论NPBS的玻璃基片折射率为1.5416,交错镀4层折射率分别为2.OO和1.45的分光介质膜系,每层厚度均为1.5λ。NPBS的光学参数如表1所示。偏振分量RTs0.93410.3571-0.85962.2255p0.20640.9785-1.70341.4758 表1 NPBS的光学参数注:=0.3649,K=4.5257,=0.8438,=0.7497;符号定义见式(8)~(10)。后面我们将对NPBS1与NPBS2引入的误差分别进行分析。了解更多详情,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniont ...
扫描曲线前面误差分析表明,光谱法测量λ/2波片的误差zui小,因而可以作为参考标准,其它方法测量结果可以与之相比较。由测量结果可见,光谱法与Soleil补偿器法测得结果的偏差约为0.19%,两种方法在误差范围内符合很好,得到了相互印证。而两种光强法的测量结果比照光谱法及Soleil补偿器法测量结果差异较大。而且按照之前推导的公式无法判断λ/2波片的延迟是小于还是>180°,因此在括号中给出了>180°的情况。特别值得注意的是,由于Glan棱镜及光路缺陷对旋转检偏器法影响非常严重,导致λ/4波片的测量出现错误,表明本测试系统不适用旋转检偏器法。表1 用不同方法测量630.2am附近g ...
椭偏仪与偏振相位(一)-几种波片相位延迟测量的实验搭建波片是偏振光学技术中的重要元件,被广泛应用于光弹力学、现代光通讯技术、医疗诊断和物理学研究等诸多领域。在太阳物理研究领域,通过观测和分析太阳光的偏振状态可以得到太阳大气中磁场分布和演化等信息,以此可研究黑子、耀斑及日冕物质抛射(CME)等与磁场有关的太阳活动现象。现代太阳物理对磁场偏振测量精度要求甚高(10-3以上),而由于在太阳磁场测量设备的偏振分析器和滤光器中使用了大量波片,因而波片位相延迟精度将直接影响太阳磁场望远镜偏光系统的测量精度。随着研究的日益深入,人们对偏振测量精度提出了更高的要求,有些仪器,例如我国研制的大型空间太阳观测设备 ...
位移台的倾斜、轴向和径向误差运动倾斜、轴向和径向误差运动测量设置:当载物台旋转时,它不会围绕垂直 Z 轴完运动,在其他 5 个自由度中存在额外的误差运动:• 垂直方向运动:轴向误差运动• 在垂直于旋转轴的平面上的运动:径向误差运动。总是有 2 个线性分量 X 和 Y• 轴围绕 X 轴和 Y 轴的倾斜。倾斜是通过用已知 Z 轴方向间距的分开的 2 个探头进行测量得到的测量量。根据两个探头之间的差异,我们计算倾斜角。总径向误差是径向平移和轴倾斜的组合。我们测量转子表面正上方的径向误差。平台上越高的位置,径向误差越大,因为“倾斜”的贡献不断增加。两个轴承之间的总径向误差最小,但该位置实际不可接近。下 ...
二,快轴准直误差分析在FAC的装调过程中,如图1-1所示,除了位置误差Δx对快轴准直没有影响以外,其他的位置误差Δy、Δz以及角度误差βx、βy、βz对准直光束发散角都有影响。图1-1 FAC装调示意图1,位置误差ΔyFAC 在平行于出光腔面,即垂直于光束传播方向的面上有一个垂直位移Δy时,经准直柱透镜准直后的光束将发生方向偏转,如图1-2所示,这个偏转角为 δ 就是指向性误差。偏转角 δ 与垂直位移Δy之间存在如下关系:δ = Δy/ fFAC其中fFAC为快轴准直镜焦距图1-2 位置误差Δy给光束准直带来的影响图1-3表示的是单路激光光束准直后发散角与Δy变化的曲线关系,可以看出虽然垂直位 ...
像系统的装调误差分析,我们对图像信息质量影响因素有进一步认识。建立此种分析方法有利于类似实验系统搭建。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006-888-532。 ...
超高精度时间间隔测量模块时间间隔测量仪可用于测量时间间隔、脉宽和频率信号。可根据需要定制时间协议信号(PTP、NTP等)间隔测量。测量仪性能可靠,功能齐全,测量精度高,测量范围宽,灵敏度高,动态范围大,性价比高,使用方便。且有仪表版和模块版供您选择。超高精度时间间隔测量模块主要功能1. 具备时间信号比对测量功能,可以比对待测信号和参考信号的时间间隔2. 具备初始化清零功能,设备可以设置按键或者使用上位机,来完成消除测量通道和参考通道间的固定时延功能3. 实时显示测量结果并绘制数据曲线,显示当前数据zui大值、zui小值、平均值、峰峰值和标准差,计算当前数据时间方差并绘制时间方差曲线超高精度时间 ...
超高精度时间间隔测量仪时间间隔测量仪可用于测量时间间隔、脉宽和频率信号。可根据需要定制时间协议信号(PTP、NTP等)间隔测量。测量仪性能可靠,功能齐全,测量精度高,测量范围宽,灵敏度高,动态范围大,性价比高,使用方便。且有仪表版和模块版供您选择。可根据你的具体需求定制!!超高精度时间间隔测量仪主要功能1. 具备时间信号比对测量功能,可以比对待测信号和参考信号的时间间隔2. 具备初始化清零功能,设备可以设置按键或者使用上位机,来完成消除测量通道和参考通道间的固定时延功能3. 实时显示测量结果并绘制数据曲线,显示当前数据zui大值、zui小值、平均值、峰峰值和标准差,计算当前数据时间方差并绘制时 ...
高精度时间频率分析仪时间间隔与频率计数器是强大的时间测量仪器。除了传统的“频率计数器”、“时间间隔计数器”和“通用计数器”所提供的功能外,时间间隔与频率计数器包含了一些新功能,以更高的速度运行,提供连续的测量能力,并报告结果及其发生的时间。这些功能使您能够更深入地了解信号的动态特性和获得更高的吞吐量。这种性能上的差异类似于电压表和示波器之间的差异。虽然电压表和示波器都可以测量信号的电压,但是示波器可以提供更快的采样速度,并显示随时间变化的结果。例如,电压表可以每秒测量1000次,你可以用电脑记录下来。您还可以记录每次测量发生的时间,并显示电压与时间的关系图。这幅图看起来很像一个示波器,但它只适 ...
高精度时间间隔测量仪与频率计数器时间间隔与频率计数器NK732是一款高性能时频测量仪器。时间间隔与频率计数器的高分辨率和吞吐量,以及连续测量能力,可以执行传统时间间隔计数器无法进行的测量。例如,时间间隔与频率计数器可以将事件(输入脉冲序列的边缘)以每秒2000万次的速度连续地标记到机载内存中,而每条边缘测量分辨率为2 ps。这使它能够分析脉冲定时、脉冲宽度或频率的动态变化。换句话说,时间间隔分析仪和传统计数器/定时器之间的区别类似于电压表和示波器之间的区别。测量还可以在PXIe接口上实时连续流,允许以高速率进行无限制的采集。产品特点脉冲序列的直接时间测量测量抖动、频率、时间间隔、脉冲宽度、上升 ...
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