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光谱指纹与光谱指纹采集者-LIBS技术与调Q纳秒激光器激光诱导击穿光谱(LIBS)是一种成熟的分析原子发射光谱技术，可用于各种样品的元素分析。凭借其精准的检测水平，广泛应用于各行各业，包括食品行业、土壤分析、合金分析等等。其原理为LIBS通过直接测量样品烧蚀产生的等离子体发射来分析样品，提供一个即时的光谱指纹，代表其元素组成。在2017年，S. Moncayo1[1]等人采用一种基于激光诱导击破光谱(LIBS)的快速、低成本的牛奶掺假质量控制、溯源和检测方法。研究了三聚氰胺掺假婴幼儿奶粉中三聚氰胺含量的定量分析。讨论了利用LIBS技术结合化学计量分析在食品工业中进行乳制品质量控制的潜在用途。在 ...
长度与尺寸测量1.干涉法长度测量的基本定律干涉法长度测量的基本规律是用一个机械长度与一个已知的光的波长对比。一般来说，这种光学方法设计光束两次通过所需的长度。因此，测量单位是半波长，被测长度表示为：式中，λ为波长；i为干涉整数级；f是干涉分数级。利用半波长的倍数表示长度的方法取决于两种或者多种光波的干涉强度，在双光束干涉时表示为：此时，γ为干涉率，z1-z2为两个光束通路之间的几何距离差。因此，一个通路长度的改变会以单位λ/2来改变周期性干涉强度。在上式中位相的不同 2Π/λ/2(z1-z2)可以用真空波长表示为2Π/λ0/2(z1-z2)。此时的n是通路中空气的折射率，n(z1-z2)表示两 ...
声光偏转器（AODF）在高速荧光成像中的关键作用：FIRE技术简介在上一篇文章中（https://www.auniontech.com/jishu-1142.html），我们学习了发表在Science上的“High-Speed Fluorescence Image-Enabled Cell Sorting”，其中通过AODF实现了一种基于高速荧光成像的细胞分选技术。而这份速度是由FIRE高速荧光成像系统带来的，即使用射频标记发射的荧光成像系统。zui初是由来自加州大学洛杉矶分校的Eric D. Diebold, Brandon W. Buckley等四位科学家于2013年发表于Nature P ...
声光偏转器（AODF）在高速细胞分选中的关键作用：ICS技术简介快速和选择性地分离具有独特空间和形态特征的单细胞仍然是一个技术挑战。来自Science的这篇文章建立了一种基于高速成像的细胞分选（ICS）技术，借助声光偏转器调制产生的光斑线性阵列和信号分析系统来高速探测细胞的空间特征，使流式细胞术更上一层楼。自从流式细胞术被发明的50多年来，用其进行细胞分选一直是生物学家zui有效的工具之一。让研究人员得以从复杂的混合物中分离出感兴趣的细胞，而这一过程对于了解细胞的功能至关重要。这项技术的大规模升级，要归功于海德堡EMBL和BD Biosciences的研究人员提出的一种高速成像的细胞分选技术（ ...
激光干涉仪是如何测量位移的？激光干涉仪是一种广泛应用于科学研究、工业制造和精密测量领域的仪器。在科学研究领域，激光干涉仪广泛应用于物理学、化学和生物学等多个学科，为研究人员提供了强大的工具。在工业制造中，激光干涉仪在精密加工、质量控制和自动化生产中发挥着关键作用。激光干涉仪的基本原理是利用激光的干涉效应进行测量和分析。在国际上，有多种常用的激光干涉仪技术，如迈克尔逊干涉仪、法布里-珀罗干涉仪和雅各比干涉仪等。它们在不同领域展现出卓越的性能和应用潜力。法布里-珀罗干涉仪是一种常用的干涉仪，其为基于光学谐振腔原理的干涉仪器。核心是由两平行的反射镜构成的腔体，其中的激光通过多次反射形成谐振，从而形成 ...
直线度测量1定义及参考规范直线度被认为是两维的特性参数。也就是说，在平面的两维方向上，偏离直线的误差。直线度轮廓定义为理想平面和与之垂直的直线度平面的交线。局部直线度误差指的是直线度轮廓上的点到基面上直线之间的距离。基线可通过zui小二乘线性回归法或zui小包容区域法来计算。总的直线度误差STRt是偏离基线的zui大值之和，即轮廓线峰谷值。对于产品的直线度表示为STRt，物体运动的直线度表示为Txy,Txz。图1.1直线度相关示意图式中，S(x)为沿着X坐标方向的直线度误差。2直线度测量的主要方法（1）直线度基准比较直线度测量是以直线为参考基准，通过机械方法(直尺、直线等)或光学基准(瞄准线、 ...
椭偏仪与偏振相位（十一）-斯托克斯椭偏仪的偏振定标测量实验1实验装置根据上述原理建立的实验装置示意图如图1所示。将配有高精度稳压电源的溴钨灯作为入射光源，出射光束经过光纤耦合器转化为准直度小于0.3°、光斑小于5mm的准直光束，并通过定标单元被斯托克斯椭偏仪调制和接收。定标单元中起偏器的消光比大于10000：1，波片1在中心波长532.4nm处为近1／4波片，由步进电机控制两元件旋转，转动精度优于2′，由计算机控制360°自由旋转。图1 斯托克斯椭偏仪仪器矩阵测量装置示意图实验中，被测量的斯托克斯椭偏仪由两个KD*P电光晶体KD*P1和KD*P2、波片2、检偏器和光纤光谱仪组成。高压调制器以倍 ...
非偏振分光镜对椭偏仪的影响（三）-NPBS1与NPBS1引入的误差分析NPBS1引入的误差分析根据式(14)，用图2描述了NPBS1的方位角θ对椭偏参数测量误差的影响。(a)幅值比误差(b)相位差误差图2 NPBS1方位角对椭偏参数误差的影响由图2可知，NPBS1的对准误差对相位差测量的影响很小。当一0．1。时，椭偏参数误差约为：假设经过充分调节，NPBS1不存在方位角误差，即θ=0°，根据式(14)标定之后，NPBS1的退偏效应对椭偏参数误差的影响可以表示为：由上式可知，通过标定可以消除退偏效应对测量的影响；但是退偏效应的不稳定，即NPBS的p，s分量透射比、反射比K、反射相移、透射相移的波 ...
光束匀化在荧光成像平场照明中的应用荧光显微镜荧光显微镜属于光学显微镜家族，基于荧光的物理效应。利用了所谓的荧光染料的颜色特性，它们被特定波长的光激发，并以不同的波长再次反射吸收的光。荧光显微镜的应用 荧光显微镜可以进行形态学研究、纳米范围内的测量值分析以及实时可见的大多数不同文化的过程。无论是在生物化学、生物物理学还是医学领域：快速、详细地检测明亮、多彩的荧光有助于荧光显微镜的测量过程，并为新发现奠定基础。zui佳测量结果和zui佳分辨率需要zui精确的光学器件——无论是通过光束路径的优化和聚焦、精确安装的滤光片还是高质量的镀膜。荧光显微镜的结构和功能原理 允许个别波长通过的特殊滤光片可确保荧 ...
一篇文章看懂：什么是SENIS完全集成3轴磁传感器？为了测量电磁铁和永久磁铁产生的从10-6到 102T 的非均匀磁通密度，通常使用带霍尔探头的特斯拉计。为了同时测量磁通密度的三个正交分量，需要使用三轴霍尔探头。根据目前传统的的技术水平，三轴霍尔探头由三个霍尔板组成，这三个霍尔板分别位于一个小立方体的三个相互正交的面上。单个霍尔板的尺寸及其定位公差严重限制了可实现的空间分辨率和测量磁通密度矢量的角度精度。此外，连接霍尔装置的导线中的电磁感应也限制了这种霍尔探头的有用带宽。此外，平面霍尔效应通常会产生额外的误差。在基于量子阱的霍尔板中，平面霍尔效应很弱，但问题依然存在。为了解决这个问题，在一个点 ...
如何使用Moku进行阻抗测量？频率响应分析仪Moku的频率响应分析仪(FRA)在Moku输出上驱动扫描正弦波，并同时测量Moku输入接口接收到的信号幅度（或功率）。FRA可以测量系统或被测设备(DUT)的传递函数，从而创建幅度和相位与频率的关系图，通常称为波特图。图1 波特图示例为了测量被测设备的阻抗(Zdut)，我们需要了解 FRA 的功率图。FRA 图使用dBm或相对于一毫瓦(1 mW)的分贝为单位；在这种情况下，一个方便的计量单位。定义为：Moku FRA扫描正弦输出可以以伏特（峰峰值）为单位进行设置。对于正弦曲线：将上式带入(2)式，可得：以dBm表示，换算为mW，并且我们已知Moku ...
光的传播1.麦克斯韦方程组光是一种电磁波，麦克斯韦方程的特性可以用四个方程来描述。上式，E和H分别为电场和磁场矢量；p为自由电荷密度；J为自由电流密度；矢量场D和B分别为电位移和磁感应强度。方程1是自由空间电场的高斯定理：通过一个封闭曲面的电通量正比于封闭曲面内的净电荷量。方程2是自由空间磁场的高斯定理：通过封闭曲面的磁通量为零。方程3是自由空间的法拉第感应定理的数学表达式：随时间变化的磁场产生电场。方程4是自由空间的安培定理，指出随时间变化的电场产生磁场。这4个方程在时间变化的情况下是相互影响的，电场和磁场相互作用构成电磁波，电场和磁场是由电荷和电流产生的。洛伦兹定理指出，当电荷q在电磁场( ...
FLIM系统是如何进行工作的？荧光寿命显微成像(fluorescence lifetime imaging microscopy, FLIM)是一种用于研究和测量生物分子的荧光寿命的技术，因其可以用于无标记成像，具有快速响应时间，可通过高分辨率成像技术（如共聚焦显微镜或双光子显微镜）结合使用等特点，近年来已经广泛应用于生物学、医学研究和生命科学等相关领域。那么，FLIM是如何实现如此强大的功能呢？FLIM的首要任务就在于测量荧光寿命(Fluorescence lifetime, FL)，待测物体被一束激光激发后，该物体吸收能量后，从基态跃迁到某一激发态上，再以辐射跃迁的形式发出荧光并回到基态。 ...
提高分辨率和速度：声光组件如何改变共聚焦显微镜Lars Sandström在这篇文章中讨论了如何在共聚焦显微镜中使用声光偏转器（AOD）来解决传统共聚焦和多光子显微镜技术的的一些局限。老鼠海马体中的位置细胞(青色)及其中间神经元的局部回路(深蓝色)。由Tristan Geiller/Losonczy实验室/哥伦比亚的Zuckerman研究所提供。共聚焦显微镜使用CW激光束，将其聚焦到含有荧光染料或蛋白质的组织样本内的一个小束腰上(微米级宽度)。所产生的荧光穿过显微镜物镜，然后聚焦在位于高增益光电探测器前面的针孔上。这个共聚焦孔阻挡了任何不是来自激光束腰的xyz位置的光。通过扫描束腰和/或移动样 ...
数字锁相环技术原理数字锁相环（DigitalPhase-LockedLoop，简称DPLL）是一种基于反馈控制的技术，用于实现精确的时序控制和相位同步。通过相位比较、频率差计算、频率控制、滤波和循环控制，它能够完成两个信号相位同步、频率自动跟踪的功能。数字锁相环不仅具有可靠性好、精度高、环路带宽和中心频率编程可调等优点，还解决了模拟锁相环的直流零点漂移、器件饱和及易受电源和环境温度变化等缺点，此外还具有对离散样值的实时处理能力。数字锁相环广泛应用于物理和工程领域，包括用于测量和跟踪信号频率、提取原始信号的给定频率分量并在同时消除噪声和杂散分量，或者基于输入信号合成新信号。此外，数字锁相环在调制 ...
显微镜的分辨率和有效放大率由于衍射现象的存在，即使是理想光学系统对一个几何点成像时，也只能得到一个具有一定能量分布的衍射图形。按瑞利判据，一个点的衍射像中心正好与另一点的衍射像的第1暗环重合时，是光学系统刚好能分辨开这二点的zui小界限。从波动光学原理可知，自身发光的点被理想系统所成的衍射像，其第1暗环半径对出瞳中心所张的角度，即正好能被此系统分辨得开的二个点的极限分辨角。 D为系统入瞳直径。该式虽得自远场衍射，但在物距与光瞳直径相比大得多时也能适用。显微物镜的像空间是符合此条件的。显微镜的分辨率以物面上能被物镜分辨开的二点之间的zui小离表示。如下图1所示，对应的两像点之间的距离应等于其中任 ...
反射式与折反射式望远镜物镜一般说，望远镜物镜的视场较小，例如大地测量仪器中的望远镜，视场仅 1~2度；天文望远镜的视场则是以分计的；而一般低倍率的观察用望远镜，视场也只在10 度以下。但物镜的焦距和相对孔径相对较大，这是为保证分辨率和主观亮度所必需的，可认为是长焦距、小视场中等孔径系统。因此，望远镜物镜只需对轴上点校正色差、球差和对近轴点校正彗差，轴外像差可不予考虑，其结构相对比较简单，一般有折射式望远镜物镜、反射式望远镜物镜、折反射式望远镜物镜，这篇文章主要介绍反射式与折反射式望远镜物镜。一、反射式望远镜物镜反射式物镜主要用于天文望远镜中，因天文望远镜需要很大的口径，而大口径的折射物镜无论在 ...
M-axis永磁体特性全新表征方法-高精度磁偏角磁矩快速确定！永磁体广泛用于传感器和电机应用。除此之外，磁场还用于信息存储和文件欺诈保护等应用。随着关键应用程序数量的持续增加，开发商和生产商越来越被迫满足安全要求，并提高技术的整体效率。为了确保zui终用户要求的高质量，全面的质量控制是必要的。根据应用，测量远场和近场的磁铁是可能的，而且通常是必要的。在这篇文章中，我将介绍一种新的创新测量技术，通过杂散场测量和偶极子近似来表征远场中的磁体。昊量光电全新推出的M-axis磁偏角磁矩测试仪就是这种测量技术的方法。对于所谓的远场测量，源物体和测量位置之间存在很大的距离。从这个意义上讲，大距离意味着与物 ...
针对于小尺度薄膜样品三维热导率测量的光热反射法简介小尺度薄膜样品的热导率(包括纵向热导、面内和界面热导)难以测量，特别是对于低导电性样品和各向异性材料。而基于光学的热反射法的发展使得小尺寸样品的热导率测量变得容易。如今发展较为成熟的光热反射技术有基于超快泵浦探测的时域热反射法(TDTR)和基于连续波激光的频域热反射法(FDTR)。此外，还有新开发的稳态温升热反射法(SSTR)和空间域热反射法(SDTR)等。这些热反射法的特点是采用一束经调制的激光周期性加热样品，采用另一束激光作为探测光，通过被加热样品表面的反射率随温度的线性变化来测量样品表面的局部温度变化，从而确定样品相关的热物性(例如图1中 ...
望远系统及其物镜的光学成像特性1.望远系统的工作原理望远系统是用来观测远距离物体的光学系统，由物镜和目镜组成。其特点是：物镜的焦距大于目镜的焦距，且光学间隔 Δ=0。从无限远物体 AB 发出的平行光线经望运物镜后，在物镜的像方焦平面上成一个实像 A'B'，它正好位于目镜的物方焦平面上，经目镜成像在无限远处，供人眼观察。该系统中，物镜框是孔径光阑，设在一次实像面处的分划板是视场光阑，目镜往往是渐晕光阑，其大小影响轴外点成像的渐晕系数。若图像接收器不是人眼，而是光电器件（如 CCD 及 CMOS 器件等），则可将它置于实像平面 A'B' 处。望远系统的视觉放大率 Γ ...
或 投递简历至: hr@auniontech.com
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