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—线性双折射偏振测量仪下图展示了一个利用PEM,基于双折射原理,测试样品延迟大小和方向的装置结构图。2.1线性双折射偏振测量仪结构包含了一个偏振调制模块(光源,偏光片和一个PEM)、一个安装在机控X-Y位移台上的样品安装架以及双通道探测组件。每个探测通道包含一个检偏器和探测器。通道1(交叉起偏器)测量和PEM(0°)光轴平行的线性延迟分量,通道2测量和PEM光轴成45°方向的线性延迟分量。接下来使用Mueller矩阵来分析装置,到达两个探测器的光强可表示为:利用贝塞尔函数展开,并提取直流信号与一次谐波信号,zui终可得到样品的延迟大小和方向可表示为:zui后值得注意的是,我们应该考虑一个问题, ...
椭偏仪在位表征电化学沉积的系统搭建(七)- 当前在位监测装置设计3当前在位监测装置设计3.1真空镀膜系统集成在位椭偏仪测试装置可分为两类,一类是把设计的装置直接和椭偏仪的两个臂连接,另外就是把设计好的装置放置在两臂之间,不改变椭偏仪原始的任何设计。后者设计使用更方便简洁,有利于装置的更换。如图1-12所示,是报道过的椭偏仪在位测试的装置图。图1-12(a)是M.Magnozzi等设计一个实时在位光谱椭偏测量的高真装置。该装置是基于一个圆柱型管,在其两端有两个KF100法兰(见图1-12(a),左)。底部为KF100法兰(a)作为支撑样品的支架,安装有加热器和两个双动电偶;主体(b)容纳几个焊接 ...
非偏振分光镜对椭偏仪的影响(一)-系统原理Hazebroek等人于1973年首次提出了干涉式椭偏测量的概念,针对其中存在的问题,有人提出了使用塞曼激光和声光调制器的系统设计,还有人提出采用电光调制和波长调制半导体激光器的方案。Watkins采用压电晶体振荡的方法产生拍频,实验测量了SiO2膜,zui佳测量不确定度可达360pm。以上理论研究和实验表明,干涉式椭偏测量技术对于实时、快速薄膜测量有很好的应用价值与市场潜力,但外差干涉测量中存在的非线性误差是阻碍该技术实际应用的主要原因。外差干涉测量系统中的非线性误差一直是国内外研究热点,研究人员对激光源、偏振分光镜、波片、反射镜等误差源开展了很多研 ...
全偏振态的产生1.基本方程所有的电磁辐射,其电场和磁场的振动方向互相垂直,传播方向相同。由于放射物的磁场矢量是由其电场矢量明确定义的,因此偏振分析也只需考虑一个即可。假设角频率为w的平面简谐波以速度c在z方向上传播,λ为波长。 电场矢量含有两部分Ex(z,t)和Ey(z,t),它可以表示为:式中,Eox和Eoy为波振幅;δx和δy为任意相位;t为时间。这两部分的相位差可以表示成δ=δx-δy,,其中0≤δ≤2Π。2.椭圆偏振态一般情况下,相互垂直的两束正弦振荡的电磁波具有相同的频率和稳定的相位差,此时所形成的李萨如图形是一个椭圆,因此,线偏振光和圆偏振光都可以认为是椭圆偏振光的特例。对上面的两 ...
椭偏仪与偏振相位(九)- 传统的仪器偏振定标的误差斯托克斯椭偏仪是一种高速测量光波偏振态的仪器,能够近似实时地测量出描述入射光波偏振态的全部斯托克斯参数。在太阳物理研究领域,人们就是通过斯托克斯椭偏仪测量太阳光斯托克斯偏振分量来实现太阳磁场的测量,然后根据塞曼分裂原理得到太阳磁场与被测偏振态的关系,进而研究黑子、耀斑及日冕物质抛射等与磁场有关的太阳活动现象的。随着太阳物理研究的日益深入,天文学家对太阳磁场望远镜的偏振测量精度提出了更高的要求,例如美国的先jin技术太阳望远镜(ATST)要求其达到5*10-4,我国在研的深空太阳望远镜(DSO)和巨型太阳望远镜(CGST)则要求达到2*10-4。 ...
椭偏仪与偏振相位(一)-几种波片相位延迟测量的实验搭建波片是偏振光学技术中的重要元件,被广泛应用于光弹力学、现代光通讯技术、医疗诊断和物理学研究等诸多领域。在太阳物理研究领域,通过观测和分析太阳光的偏振状态可以得到太阳大气中磁场分布和演化等信息,以此可研究黑子、耀斑及日冕物质抛射(CME)等与磁场有关的太阳活动现象。现代太阳物理对磁场偏振测量精度要求甚高(10-3以上),而由于在太阳磁场测量设备的偏振分析器和滤光器中使用了大量波片,因而波片位相延迟精度将直接影响太阳磁场望远镜偏光系统的测量精度。随着研究的日益深入,人们对偏振测量精度提出了更高的要求,有些仪器,例如我国研制的大型空间太阳观测设备 ...
扫描近场光学显微镜反射模式局部磁光克尔效应成像洛伦兹模式透射电子显微镜(TEM)和带极化分析的扫描电子显微镜(SEMPA)可用于高分辨率探测磁畴和磁化。然而,这种方法需要昂贵的电子光学器件和真空条件,这限制了应用范围。在原子力显微镜(atomic force microscopy, AFM)广泛应用于纳米尺度研究的基础上,磁力显微镜(magnetic force microscopy, MFM)可用于磁成像。然而,MFM不能直接测量材料的磁化强度,只能检测表面附近的磁杂散场。此外,为了避免影响TEM和SEMPA中的电子运动,几乎没有施加外磁场。在MFM技术中,外磁场下的测量应谨慎处理,以免磁化 ...
椭偏仪(五)-椭偏仪数据处理模型-第1部分采用光学方法可以对许多固体材料的宏观和微观物理性质进行深入研究,其中zui直接的方法就是测量材料的光学常数随光子能量或波长的变化关系,从而与微观机理相联系,来认识和理解光与物质相互作用的本质.椭偏光谱不直接测算光强,而是从相位空间寻找材料的光学信息.椭圆偏振测量法由于其测量精度高、非破坏性而被广泛应用于薄膜的各种特性的测量。偏振光波通过介质时与介质发生相互作用,这种相互作用将改变光波的偏振态,测出这种偏振态的变化,进而进行分析拟合,得出我们想要的信息。用薄膜的椭圆函数ρ表示薄膜反射线形成椭圆偏振光的特性,即式中:tanψ表示反射光的两个偏振分量的振幅系 ...
膜厚测量原理(四)-膜厚测量的方法可变量的个数,光谱反射法的局限光谱反射法可以测量多种类型薄膜的厚度,粗糙度和光学常数。但是,如果只有不到一个周期的反射率振荡(如:薄膜太薄),那么就不会产生足够的信息来确定模型的可变量。这样,对于非常薄的薄膜,可确定的薄膜特性的数量就会减少。如果试图解决太多的变量,不可能找到唯一的解答;这种情况下待求变量的多种组合都可能使得反射率计算值与测量值匹配。取决于薄膜和测量的波长范围,光谱反射法测量的单层薄膜的最小厚度为1纳米到30纳米。如果还要测量光学常数,除非使用最少变量模型,可测最小厚度增加为10纳米到200纳米。如果测量超过一层的薄膜的光学特性,最小厚度将进一 ...
2018 Nature Photonics:单像素成像的原理和前景技术背景:(1)像素数对于成像用的相机是很重要的。你的相机有多少像素?真正应该问的问题是你的相机需要多少像素?用于数字图像采集的硅基电荷耦合器件 (CCD) 和互补金属氧化物半导体 (CMOS) 像素化传感器的发展是一个快速变化的领域。从手机到专业数码单反相机,构成传感器芯片的像素数量既是性能指标,也是营销必不可少的话题。(2)在不适合硅基阵列图像传感器应用的场景,使用单像素探测器二维光栅扫描(raster-scanned)的成像效率与图像像素数成反比。现代扫描技术通常采用一对振镜,用于将光引导到单像素探测器上。光栅扫描系统通常 ...
单次事件立体偏振压缩超快摄影系统简介高维光学成像对于最大限度地提取不同光子参数携带的信息是必不可少的手段。获取的高维光学数据广泛用于众多研究领域,包括生物医学、农业和电子学。作为高维光学成像的一个分支,单次事件时间成像对众多的不可重复物理、化学过程的机制理解有重要意义。单次事件立体偏振压缩超快摄影系统(SP-CUP)可捕获在皮秒时间分辨率下不可重复不断演变的现象的五维数据(空间x、y、z;到达时间t;线偏振角ψ),利用压缩传感、体视学和偏振测量等方法重建被测现象过程图像。如上图所示为单次事件立体偏振压缩超快摄影系统装置示意图。SP-CUP 系统由前光学器件、双通道生成部分、空间编码部分和两个相 ...
。由此可见,偏振测量仪在遥感中的主要作用是了解光合微生物是否在散射光中产生宏观的圆偏振特征。如果光合微生物确实产生了这样的特征,那么圆偏振光谱就可以作为强指标在遥感中进行广泛的生物探测。William B. Sparks团队从马里兰大学生物技术研究所海洋生物技术中心获得了光合海洋蓝藻细菌的培养物。这些光合的原核生物具有叶绿素a和天线色素藻蓝藻和藻蓝蛋白。他们测量了这些样品的圆偏振特性。实验使用了HINDS的偏振测量仪(系列II/FS42-47),设计目标是在存在线偏振度约0.03的条件下测量圆偏振度10-4的圆偏振光。2个夹角45°的PEMs,以共振频率42kHz和47kHz调制,然后是轴22 ...
慕尼黑上海光博会将于2024年3月20-22日在上海新国际博览中心(上海市浦东新区龙阳路2345号)举办,届时我们将携前沿光电产品及技术解决方案在W4馆4420亮相,展品涵盖生物显微、半导体检测、激光医疗、光纤传感、精密光谱、机器视觉、偏振测量、光束匀化、光束偏转等热门应用领域,本次慕尼黑上海光博会除了前沿技术产品亮相,还有超赞的干货演讲等活动,欢迎大家提前扫码预约哦↓诚邀各位新老客户拨冗莅临展位洽谈交流!W4馆4420· 主题演讲日程预览 ·· 展位活动详情 ·· 展品应用速递 ·PPLN晶体,显微镜LED光源,LED点光源,MEMS扫描镜,AOTF,AOM,调温式热封机VTS,混频器,隔震 ...
2019年1月28日-2月3日,昊量光电销售及技术支持工程师赴美国拜访位于俄勒冈的Hinds instruments公司,Hinds instruments公司为工程师们开展了为期一周的技术培训。培训内容包括:偏振基础理论、新型光弹调制器原理,穆勒系统原理、产品应用、产品调试、以及二次开发,数据处理等。 通过此次培训,本公司工程师们加深了对Hinds instruments产品、偏振光学的认识,大大提升了Hinds instruments产品的硬件搭建,软件操作、二次开发等技能,增强了对偏振光学方面各种应用的理解,为客户提供更专业的技术,产品服务打下了坚实的基础。昊量光电美国Hind ...
调谐滤波器、偏振测量仪、全息光镊等。2014年7月,美国BNS (Boulder Nonlinear System)公司商业产品部与美国Meadowlark Optics公司合并之后,美国Meadowlark Optics公司在液晶空间光调制器方面的技术实力进一步增强,并增加了全息光镊产品。2015年3月,美国Meadowlark Optics公司正式收购CRi公司液晶空间光调制器产品线 ,Meadowlark公司在液晶空间光调制器的产品种类得到了进一步拓宽,其在液晶空间光调制器的世界领导者地位得以进一步巩固!作为美国Meadowlark Optics公司在中国地区的独家代理商,昊量光电全面负 ...
2016年11月17日,美国Hinds Instrument公司副总裁Tom Hinds与Hinds Instrument公司首席科学家Bob Wang博士一同来访我司(上海昊量光电设备有限公司)。Hinds Instrument公司的Tom Hinds副总裁 和王宝良博士代表Hinds Instrument公司表达了对我司专业的技术实力和全面周到的服务的认可和赞赏,并对Hinds Instrument公司与上海昊量光电设备有限公司多年稳固、友好的合作给予回顾,并对未来合作进行展望。会议上,Hinds Instrument公司的Tom Hinds副总裁强调,昊量光电作为Hinds Instru ...
工业用偏振相机CREVIS工业用偏振相机基于Sony生产的CMOS传感器,具有高像素、高分辨率、高帧率、高集成度等特点,能提供不同偏振方向(0、45、90、135)和不同格式(AoP、DoLP、Intensity)的图像。工业用偏振相机能显著提高探测目标与背景的对比度,减小反射光的影响,具有透雾特性。该工业用偏振相机以其独特的优势,在空间目标探测,去雾识别,天文观测、工业检测、生物成像和三维形貌测量等领域具有显著的应用前景。可提供彩色/黑白全色偏振相机,可提供红外偏振相机。工业用偏振相机主要参数:Sony CMOS传感器 Camera Link接口分辨率:2464×2056 帧率:1 ...
全斯托克斯相机(偏振相机) 功能:可见波段实时全斯托克斯偏振成像主动或被动偏振成像任意偏振的实时计算,包括:DOP/DOLP/DOCP/AOP/椭圆度等可提供彩色/黑白全色偏振相机,可提供红外偏振相机。应用:相位延迟图应力测量斯托克斯/穆勒图像对比增强目标识别跟光的强度和波长一样,光的偏振也提供了丰富的信息。斯托克斯公式可对任意部分偏振或全偏振光进行完全的描述。不同于大多数偏振相机,只对线偏振进行定量描述,SAULSA相机可对每个像素单元的全斯托克斯偏振矢量进行实时测量,并且偏振相关参数可实时显示,如斯托克斯参量、偏振度、偏振角、椭圆度等。原理示意图 ...
全自动成像式应力仪 LSM - 9100 W 是一款用于 定量获取 透明材料内延迟量、应力大小及快慢轴的方向的二维应力检测装置。测量对象:玻璃:光学玻璃、新材料玻璃、玻璃晶圆、热敏电阻、玻璃浆料树脂薄膜、晶体材料、玻璃制品、塑料制品光学玻璃材料:水晶、石英、玻璃镜片等光学玻璃元件:盖玻片、滤光片、透镜注塑树脂制品:液晶显示器、钢化膜树脂光学元件:透镜阵列、棱镜化学玻璃器皿:烧杯、试管、广口瓶等用途:玻璃制造过程应力检查新型光学材料开发应力检查退火后热应力检查光学元件加工过程中引入应力检查模具压力成型过程引起的结构或热应力检查优势:采用高亮度LED作为光源,因此具有长寿命和省电的特点,因此可以节 ...
穆勒矩阵测量系统高速高精度穆勒矩阵测量系统150XT型穆勒矩阵椭偏仪是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统,在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款产品对于科研研究,工业测量,光学组件偏振特性测量,制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。整套系统报包含完整软件支持,可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟,圆偏相位延迟(或旋光),线性二向色性偏振衰减,圆二向色性偏振衰减图样。 Hinds.Hinds Instruments穆勒矩阵测量系统,穆勒矩阵测量,Exicor,Mueller Polarimeter,1 ...
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