式椭偏仪测量波片相位延迟量实验1消光式椭偏仪使用上海昊量光电设备有限公司的智能消光式椭偏仪，该椭偏仪主要由光源、光机系统、旋转样品台、电路控制系统及数据采集与处理软件组成。光源则采用的波长为632.8nm的氦氖激光器，适用于反射及透射样品测量。使用仪器测量(，Δ)时精度分别是0．O1°和0．02°。2实验过程调节椭偏仪处于直通测量状态，使标准1／4波片的快轴位于+45°，起偏器P位于+45°，检偏器A位于135°，这时系统达到了消光的状态。把待测波片安装在有刻度盘的旋转支架上，然后置于样品台，调节波片使其表面与入射光线垂直，转动待测波片，使得系统重新达到消光状态，这时待测波片的快慢轴应位于±4 ...

位（七）- 波片相位延迟量测量误差分析影响波片相位延迟量测量准确度的因素主要有：标准1／4波片的偏差及待测波片快轴与入射面夹角θ的误差等，下面从公式(4)出发，讨论两者误差对波片测量延迟量的影响：（一）当标准1／4波片和待测1／4波片的相位延迟量都是理想的90°时，得到δ与θ的关系如图1所示，θ的变化范围是-4°至＋4°。可见，当标准1／4波片和待测1／4波片在理想情况下，待测1／4波片的方位角θ不影响其相位延迟量测量。图1当标准1／4波片理想时待测波片δ与其方位的角θ的关系(二）实际上，由于波片受温度，及制作工艺的影响，其相位延迟量不可能是理想的90°。若待测1／4波片的相位延迟量为88.8 ...

- 精确测量波片相位延迟量的原理波片是基于晶体双折射性质的偏振器件，在光线技术、光学测量以及各种偏振光技术等领域具有广泛的应用，其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中应用尤其广泛。测量波片相位延迟量的方法主要有：光强探测法、旋光调制法、半阴法、光学补偿法等。这些方法主要基于对光强的测量，容易受光源的不稳定及杂散光的干扰，精度受到一定的限制，测量误差一般在0.5°左右。本文从理论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性，讨论了其测量精度及误差来源，并利用消光式椭偏仪测量了1／4波片以及1／2波片相位延迟量。实验表明：测量过程不受光强波动的影响，方法简单，操作方便，精确度高，测量波片相位延迟量 ...

转的四分之一波片来补偿椭圆度，zui后进入汤姆逊偏振分光器。为了zui大限度地提高灵敏度，分离器设置在45◦的入射(未干扰)偏振。分路器提供两束正交偏振方向的光束(图1b)，击中一对象限光电二极管。每一对相对的象限分别沿着样本的x轴和y轴的投影对齐。两束是相等的强度为未受干扰的45◦偏振的情况下，而任何样品诱导的偏振旋转导致相等但相反的强度(45◦是zui敏感的角度对小的偏振变化)。通过适当地组合八个光电二极管象限的输出，可以同时检测和分离三个正交的磁化分量，只要它们的采样几乎相等，这对于具有高数值孔径的物镜是正确的。如图1c所示，在两束入射方向相反的光束的激励下，纵向克尔对比改变符号，而极性 ...

，偏振片，半波片与四分之一波片等。利用这些器材，我们就可以着手开始验证其产生光子对的偏振纠缠性。图11 验证光路示意图图12 实际光路我们搭建了如图所示的光路，我们首先使用可见光源与功率计将准直器对准。然后更换为1550nm偏振光源与功率计，分步加入偏振片、半波片与四分之一波片并调整角度，zui后更换为光子源，单光子探测器与计数器，光子源的信号光与闲置光将分别经过光纤，通过四分之一波片、半波片与偏振片，zui后由探测器探测，由计数器进行符合。我们保持光路光路其他波片固定，通过转动其中一个半波片并固定，我们可以在计数器中看到符合计数产生了变化。随着半波片的旋转，符合计数也随之发生正弦变化。本次实 ...

束器或λ/4波片以及偏振分束器用来引导光束入射于电视摄像机上。这种斐索干涉仪，需要采用长焦距的准直透镜来获得高的精度。干涉条纹函数I(x,y)：式中，I。为背景光强度；y(x,y)为条纹调制函数；φ(x,y)为被测条纹的位相分布函数；φ。为参考面与测量面间光程差引起的初位相.为了从干涉条纹函数中获得位相分布函数φ(x,y),采用了相移法。相移时，条纹位相随着光程或波长变化而发生移动。当给定附加相移φi，干涉条纹函数I(x,y)为:理论上，为了计算位相分布函数φ(x,y),要求i>3。对于标准的相移法，位相步长为2Π/j,j≥3,是个整数，如φi-φi-1,=2Π/j。为了获得精确的位相分 ...

一个四分之一波片(QWP)。然后，圆形或线性极化光束通过50:50的分束器(BS)，其中50%被引导到attoDRY2100磁光低温恒温器(1.7 K基温，9 T超导磁铁)内的物镜。然后，从样品(S)反射的光束通过圆偏振收集光学元件(QWP和LP)，用长通滤光片(LPass)过滤，然后聚焦到光纤上，该光纤通向带有CCD相机(Andor)的750毫米光谱仪。采用可调谐连续波光源进行光激发。图1.a)是极化PL设置。在输入端和输出端分别加一个短通(SPass)和长通(LPass)来降低泵浦激光噪声。在收集方面，光纤可以通向光谱仪或单光子计数器。泵浦探针时间分辨装置b)有一个FM(翻转镜)，可用于在 ...

。通过1/4波片改变测量光束的偏振方向，测量光束两次通过测量路径，因此，分辨率相对于角反射器型加倍。(3)影响测量结果及不确定度的因素当光干涉技术用在长度测量中时，应该考虑空气折射率的影响。空气折射率的校正方法有两种，一种是测量环境参数，如空气温度、空气压力、湿度及二氧化碳的密度，然后使用经验公式计算及校正空气的折射率。另外一种方法是用长度稳定的腔体，即波长跟踪器来测量,它由稳定的腔体及差分干涉仪组成，如图所示。一束偏振光是经标准腔体的前表面反射，另一束是经后表面反射。这种差分干涉仪可测量腔体的光学长度。腔体是由具有很小热膨胀系数的材料制成的，其几何长度非常稳定；因此，腔体的光学长度变化可认为 ...

S1，S2，波片1的初始方位角误差和相位延迟δ作为已知量修正四点定标法和E-P定标法。修正后测得的仪器矩阵如图1所示，3种方法的结果基本保持一致。由此表明，非线性zui小二乘拟合方法在偏振定标过程中有效地提高了测量精度，避免了入射光源的偏振效应、定标单元中光学元件初始方位角和相位延迟误差对测量精度的影响。图1 修正后斯托克斯椭偏仪的仪器矩阵x定标结果采用反演的方式来估计仪器矩阵的准确性，即通过测量各角度下的光强值，结合仪器矩阵反演出对应角度的斯托克斯分量，将其与理论值进行对比分析。测量方法为：将校准单元中起偏器的方位角固定为0°，以10°为步长，从0°到360°旋转波片，由此产生37个不同的偏 ...

000：1，波片1在中心波长532.4nm处为近1／4波片，由步进电机控制两元件旋转，转动精度优于2′，由计算机控制360°自由旋转。图1 斯托克斯椭偏仪仪器矩阵测量装置示意图实验中，被测量的斯托克斯椭偏仪由两个KD*P电光晶体KD*P1和KD*P2、波片2、检偏器和光纤光谱仪组成。高压调制器以倍频的关系控制两KD*P两端电压的快速反转，从而实现入射光斯托克斯参数的完全调制。光纤光谱仪主要包含微型光栅和线阵CCD，可以同时得到多个波长处的光强值，可测光谱为300～1100nm。整个测量系统由Labview软件编程实现自动化控制。一般情况下，入射光的斯托克斯参数、波片的方位角误调和相位延迟随波长 ...

自校准法测量波片相位延迟[J].中国激光,2012,39(4):173-179.3王喜宝,宋连科,朱化凤,郝殿中,蔡君古.连续偏光干涉法测量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林天夏,黄佐华,何振江.利用消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位 ...

自校准法测量波片相位延迟[J].中国激光,2012,39(4):173-179.3王喜宝,宋连科,朱化凤,郝殿中,蔡君古.连续偏光干涉法测量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林天夏,黄佐华,何振江.利用消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子．激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位 ...

偏振分光镜、波片、反射镜等误差源开展了很多研究工作，并取得了许多有意义的研究成果，提出了多种非线性误差测量与补偿的方法。在激光干涉测量非线性误差研究中，偏振分光镜(Polarizing Beam Splitter，PBS)一直是研究的重点，而对于非偏振分光镜(Nonpolarizing Beam Splitter，NPBS)引入的非线性误差，国内外一直缺乏相应的研究。Hou等人在迈克尔逊式外差干涉位移测量实验中，观测到NPBS引入的测量误差，并发现采用不同激光源，位移非线性误差约为1.6～2.2nm，但是各种论文没有给出相应的理论分析以及NPBS对误差的影响机理。本文针对基于横向塞曼激光器的马 ...

偏器和1/4波片产生全偏振态下图所示为产生偏振光的一个例子，它包括一个可旋转的起偏器P,它的透光轴位于角度θ处；一个可旋转的1/4波片R,其慢轴方向位于角度处，这一装置也称作塞拿蒙(Senarmont)补偿器。椭圆的主轴方向取决于1/4波片的慢轴方向，椭圆率角在1/4波片的方位角和起偏器的方位角之间变化。因此，可以通过旋转整个装置得到偏振椭圆长轴的任意方向，通过改变起偏器相对于1/4波片的角度获得任意椭圆率角，例如椭圆率角-θ必须为45°,才能得到右旋圆偏振光。由于这个发生器可以产生任意偏振态的光束，所以称为全偏振态发生器。4.旋转起偏器和可变波片产生全偏振态起偏器P和可变波片R固定在一个旋转 ...

偏器和1／4波片组合)后，由斯托克斯椭偏仪探测得到4个光强，记为设定入射光的归一化斯托克斯矢量为根据偏振光传输理论，探测光强Iout。与入射光的斯托克斯参数Sin有如下关系：其中：为系统透射率，X为被测斯托克斯椭偏仪的仪器矩阵，Mwp和MP分别为定标单元中波片和起偏器的Mueller矩阵，和分别是偏振片和波片的方位角，为波片的相位延迟。图1 斯托克斯椭偏仪仪器矩阵定标光路示意图非线性zui小二乘拟合方法中被拟合参数的选择如下：(1)选用消光比大于10000：1的起偏器，可以认为起偏器是完美的，此时入射光的圆偏振分量不影响实际定标。因此，仅选择入射光的斯托克斯参数中两个线偏光分量S1和S2作为未 ...

振片和1／4波片的偏振发生器(PSG)作为定标单元，产生4组或4组以上的偏振光直接入射斯托克斯椭偏仪进行仪器矩阵的定标。这些方法根据光源的不同，或者假设入射光为完全非偏振光(如氙灯、溴钨灯)，或者假设入射光为完全线偏光(如激光)，此时入射光的实际偏振效应将影响仪器矩阵的定标精度。此外，这些方法均假设定标单元中1／4波片的方位角和相位延迟是理想的。而在实际应用中，元件方位角和相位延迟的误差会降低仪器矩阵的精确定标。鉴于传统定标方法的不足，我们提出了一种基于非线性zui小二乘数据拟合算法进行偏振定标的新方法。该方法将入射光的斯托克斯参数和定标单元中波片的方位角和相位延迟与仪器矩阵的所有矩阵元一起作 ...

功率由一对半波片和偏振分束器控制。光束在发射器上被聚焦到亚50 µm的斑点（1/e2直径），用f=50 mm的非球面透镜，在接收器上聚焦到亚10 µm的斑点，用f=20 mm的透镜。由于透明光学元件和隔离器晶体的正色散，加上由啁啾镜提供的负色散（总计约为-4000 fs^2），以确保在光电导器件上压缩77 fs脉冲。为了进行平均处理，我们使用IGM信号（在第3节中描述）实现THz时间迹线的自适应采样，并使用光学延迟轴的线性插值。2秒积分或约44000次平均的结果如图6所示。主要的THz峰在零光学延迟处重复出现，其重复频率为1/Δfrep≈850 ps（标志着扫描窗口的末端），然后是由自由空间T ...

匹配我们的滤波片。采集的图像通过我们自己开发的管线进行量化。如果我能设计我的理想的光源，它会有尽可能多的离散激光器，用于从360nm到750nm的多路复用成像。它会提供覆盖钙成像、标准共聚焦和高度多重成像需求的激发。它会解决需要成像多种荧光团的问题。我们期待Lumencor提供zui优xiu的照明，以支持我们非常苛刻和广泛的显微镜成像需求。来自尼康影像中心的评价无疑是对我们极大的肯定，Lumencor光源能够很好的适配包括尼康在内主流的显微镜，容易集成到您的显微系统中，满足您生物研究方面的各种需求。您可以从尼康的官网上看到https://www.microscope.healthcare.ni ...

附近的λ／2波片和532.4nm附近的λ／4波片。光谱扫描曲线见图1，测量数据见表1、2。图1 光谱法测630.2nm附近λ／2波片的扫描曲线前面误差分析表明，光谱法测量λ／2波片的误差zui小，因而可以作为参考标准，其它方法测量结果可以与之相比较。由测量结果可见，光谱法与Soleil补偿器法测得结果的偏差约为0.19%，两种方法在误差范围内符合很好，得到了相互印证。而两种光强法的测量结果比照光谱法及Soleil补偿器法测量结果差异较大。而且按照之前推导的公式无法判断λ／2波片的延迟是小于还是>180°，因此在括号中给出了>180°的情况。特别值得注意的是，由于Glan棱镜及光路缺 ...

θ不变，改变波片方位角Ω进行测量的方法为旋转待测波片法；而当保持Ω不变，改变θ的测量方法为旋转检偏器法。下面简述这两种常用方法的原理。(1)旋转待测波片法：旋转波片法通常采用读取旋转过程中光强的zui大值和zui小值的办法，从而可以避开对光轴方位角Ω的测量误差。对系统出射光强表达式分析可知，当Ω=θ/2时，系统光强取得zui大值；当Ω=θ/2+π/4时，光强取得zui小值，则波片的位相延迟φ可表示如下：其中，θ≠90°。(2)旋转检偏器的方法：旋转检偏器的方法通常取Ω=45°，θ分别取0°和90°，因为误差分析表明此时由角度测量造成的误差zui小(详见误差分析)。分别记录θ=0°和90。时的光 ...