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膜厚测量仪

膜厚测量仪(厚度范围1nm~1.8mm)Mprobe 20-台式膜厚测量仪手持式膜厚测量仪-MProbe 20 HC(弯曲表面)微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU薄膜厚度均匀度测量系统-MPROBE 60(mapping测量)在线薄膜厚度实时测量仪-MPROBE 70激光干涉膜厚测量仪多波长椭偏仪/膜厚测量仪半导体/薄膜无损检测仪 显示全部
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Mprobe 20-台式膜厚测量仪

  • Mprobe 20-台式膜厚测量仪
一款高精度单点膜厚测量系统!

所属类别:光学检测设备 » 膜厚测量仪

所属品牌:美国Semiconsoft公司

产品负责人:

姓名:兰工(Hector)

电话:130 6160 8524(微信同号)

邮箱:haige-lan@auniontech.com

Mprobe 20 单点薄膜测量仪



MProbe 20是一款桌面式单点薄膜厚度测量系统,只需点击鼠标就可进行薄膜厚度和折射测量,测量厚度范围1nm-1mm。

MProbe 20可对多层膜层进行测量。

不同的MProbe 20主要由灯源的波长范围、光谱的波长范围和分辨率来区分,这也决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。

MProbe 20基于光谱反射率测量,具有快速、可靠、无损等特点。

配置包括:

控制器(包括光谱仪、光源、光控制器、微处理器)
SH200A样品台,带对焦镜头,可微调
光导纤维反射探头
TFCompanion -RA软件、USB适配器(授权密钥)、USB记忆棒附带软件发行、用户指南等资料
根据型号和黑色吸收体的不同,校准装置(裸硅片和/或石英板和/或铝镜)
测试样品200nm的氧化硅或PET薄膜,视型号而定
USB或LAN线(用于连接主机和PC)
24VDC电源适配器(110/220V)


核心指标:
精度:<0.01nm或0.01%(在200nm的氧化物上测量100次)
精度:<1nm或0.2%(依赖于filmstack)
稳定性:< 0.02nm或0.2%(每天测量20天)
光斑大小:< 1毫米
样本尺寸:>= 10mm
参见下面小册子中MProbe 20薄膜厚度测量系统可用配置的详细规格


选型列表:

MProbe 20 

波长范围

厚度测量范围

Vis

400 -1100nm

10nm – 75 μm

VisHR700-1100nm1um-300um

UVVISSR

200 -1100nm

1nm -50μm

NIR

900-1700nm

100nm – 100μm

VISNIR

700-1700nm

10nm-200μm

UVVISNIR

200-1700nm

1nm -200μm


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产品标签:膜厚测量系统,膜厚,厚度测量,filmetrics,semiconsoft,mprobe,薄膜测量