首页  产品信息 材料分析设备 光电测试系统 高效率荧光寿命成像系统

光电测试系统

惊爆价!50万RMB!高速大面积共聚焦拉曼成像系统XperRam Photocurrent光电流成像光谱系统高效率荧光寿命成像系统 显示全部
dow.png

高效率荧光寿命成像系统

  • 高效率荧光寿命成像系统
  • 高效率荧光寿命成像系统
  • 微信好友

  • QQ好友

  • QQ空间

  • 新浪微博

将TCSPC模块和扫描振镜相结合,提供独特的荧光寿命测量体验!

所属类别:材料分析设备 » 光电测试系统

所属品牌:韩国Nanobase公司


荧光寿命成像或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。 由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度,这使研究 人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度,还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。 可以通过使用脉冲源在时域中确定荧光寿命。 当荧光物质被超短脉冲激发时,时间分辨的荧光将呈指数衰减。 时间相关单光子计数(tcspc)通常被用作荧光寿命的测量方法,因为它补偿了在源强度和单光子的脉冲幅度的变化。 更具体地说,TCSPC由单个光子雪崩光电二极管 (SPAD)记录相对于激发激光脉冲的单个光子的寿命。 重复记录多个激光脉冲,并在记录了足够多的事件后,研究人员能够建立所有这些记录的时间点上事件数量的直方图。 然后,可以将该直方图拟合到的指数寿命衰减函数的指数函数,并且可以相应地提取寿命参数。 Xper-FLIM配备了单光子雪崩二极管检测系统,可以提供低成本检测通道选项,从而为FLIM研究人员实现超 快速分析。 Xper-FLIM也可用于倒置显微镜或正置显微镜,满足其他应用需求。


应用领域:

荧光寿命成像的原理:


测试案例:



规格参数:


显微镜

- -反射LED照明器,用于明场 

- -带有右手控制的机械X-Y载物台 

- -自动控制的Z轴位置 

- -包括主机架,平台板,控制箱,接口电缆,电源线 

- -40倍物镜(其他选项:10倍,20倍,50倍和100倍)

 - -正置或倒置显微镜

扫描模块

- -波长范围:400~1000 nm 

- -激光扫描模式:压电扫描 

- -扫描范围:200μm×200μm(使用40倍物镜时) 

- -包括用于光学图像采集的15 MP摄像头(使用40X时,FOV:220μm×150μm) 

- -包含一个控制器(USB1.1) 

- -扫描速度:> 100行/秒

光源皮秒脉冲二极管激光器和驱动器 -波长:390~700 nm -自由空间/光纤耦合选择(可选)
滤波片

选择与激光波长相对应的滤光片 

- -波长范围:390~700 nm 

- -可在滤光镜盒中互换用于相应的激光器

机身

- -1个插槽,用于连接激光中性密度(ND)滤镜或偏振镜

 - -2个用于连接偏振片或波片的插槽 

- -1个插槽,用于连接可互换的滤波片套件 

- -具有三个激光器空位。

 - -可安装光纤耦合端口。 

- -提供稳定的光束对准平台

探测器

光子检测效率 

- 24 % at 400 nm 

- 49 % at 550 nm 

- 37 % at 650 nm

- 有效区域直径:50μm 

- 暗计数:<250,<100,<50,<25 cps(取 决于探测器的等级)

 -NIM定时输出:50 ps 

- 脉冲后可能性:<3%

光源驱动

-重复频率:31.25 kHz~80 MHz

 -触发:-1至+1 V电平(可调) 

-频率范围:10 Hz~80 MHz 

-同步输出:幅度<0.8 mV到50欧姆

计数器

计时电路

 - -检测通道:1或2 

- -时间范围:25 ps 

- -触发:0~-1200 mV 

- -计数率:40 MHz 

- -标记:TTL x4

软件

- -荧光寿命采集和成像

 - -频谱数据导出格式:.txt,.csv

 - -2D映射数据导出格式:.spm,.csv