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位(六)- 精确测量波片相位延迟量的原理波片是基于晶体双折射性质的偏振器件,在光线技术、光学测量以及各种偏振光技术等领域具有广泛的应用,其中1/4波片及1/2波片在偏振器件中应用尤其广泛。测量波片相位延迟量的方法主要有:光强探测法、旋光调制法、半阴法、光学补偿法等。这些方法主要基于对光强的测量,容易受光源的不稳定及杂散光的干扰,精度受到一定的限制,测量误差一般在0.5°左右。本文从理论上分析了利用椭偏仪测量波片相位延迟量的可能性,讨论了其测量精度及误差来源,并利用消光式椭偏仪测量了1/4波片以及1/2波片相位延迟量。实验表明:测量过程不受光强波动的影响,方法简单,操作方便,精确度高,测量波片相 ...
发光特性进行精确测量,来深入了解其性能和行为。研究使用了一个尺寸为2 cm x 2 cm的视场来获得光谱EL发射曲线,这些曲线是注入电流的函数,这一数据由源测量单元提供。通过这些曲线,研究人员能够了解不同注入电流条件下太阳能电池的发光特性,并进一步分析其外部辐射发射率。通过对辐射速率的了解,研究人员能够直接计算太阳能电池的外部发光量子产率,这是评估其发光性能的重要参数之一。此外,还可以通过这些数据计算太阳能电池的I-V曲线,可以得出重要的能量损失参数,这对于优化太阳能电池的设计和性能至关重要。如果您对高光谱暗场显微镜有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.aunionte ...
z,可以用于精确测量事件之间的时间间隔。这些事件通常是时变电压信号或脉冲,当输入电压达到给定阈值时,仪器就开始或停止记录事件。还能计算这些事件的数量,因此有时也被称为计数器或时间间隔计数器。在频域中,时间间隔与频率分析仪可以使用时间间隔信息来计算信号的瞬时频率和偏差。针对这些应用,Moku App直观的操作界面能提供实时直方图和统计分析数据,专业的数据可视化让信号分析更加高效便捷。内置的数据记录仪可以导出事件发生的原生时间戳,方便用户进行后续数据分析。此图展示时间间隔与频率分析仪测量事件和时间间隔操作配置。演示如何通过定义两个上升沿事件(阈值为 0.1 V 的事件 A 和阈值为 0.9 V 的 ...
用椭偏仪可以精确测量薄膜的厚度和光学常数,其测量原理基于不同偏振光(S,P)与材料的作用。如图1-1所示的单层薄膜模型中,所测的薄膜在衬底上,zui上层为空气,薄膜两侧介质都是半无限大,且薄膜上下表面皆是理想光滑表面,三种介质皆为均匀、各向同性介质。在实际测量过程中,单层模型的三种介质通常指的是空气、待测薄膜和基底。图1-1 光波在多层膜上的反射与透射光波在单层膜上的反射和透射示意图如图1-1所示。定义入射光波矢量E在垂直于入射面上的分量为P光,在入射面上的分量为S光。由折射定律及菲涅耳定律知、、的关系为:上述式子中,n1是空气的折射率(1.00),n2是薄膜的折射率,n3是衬底折射率,是光在 ...
对目标距离的精确测量。双光梳干涉法是一种使用两个频率非常稳定的光梳来实现高精度测距的方法。这种方法通过比较两个光梳之间的频率差异,从而测量目标的距离。通过观察和分析这些干涉条纹的模式,可以确定两个光梳之间的频率差异。由于频率差与目标距离有直接关系,因此可以通过测量频率差来计算目标的距离。本文将主要介绍频率扫描干涉法。频率扫描干涉法(FSI)也称波长扫描干涉法,是通过激光在已知波长范围内连续扫描,并在扫描过程中对干涉条纹进行无模糊计数实现绝对距离测量的,是真正的绝对、单步的距离测量方法。图5频率扫描干涉示意图频率扫描干涉法利用频率扫描激光分束后,测量两个干涉仪的光程差的比值。如果两个干涉仪中的一 ...
Lumencor固态光源在材料科学中的应用农业及食品检测 Agriculture and Food Inspection检查食品、饮料及其相关包装需要具备获取和处理图像的能力,以获得有关尺寸、形状、颜色、缺陷和完整性等参数的信息。为此,关键是优化照明强度,均匀性和几何形状,以获得具有良好的对比度和信噪比的显微图像。此外,有机和无机材料的光吸收特性各不相同,这使得为这些应用选择合适的照明波长成为一项挑战。食品在包装之前,必须经过种植和收获。当然,光是植物生长的基础。Lumencor的固态照明技术在应对这些食品检验和质量控制挑战方面处于领xian地位。常用产品型号 SOLA、AURA、SPECTR ...
消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位延迟量精密测量新方法[J].光学学报,1994,14(10):1096-1101.8薛庆文,李国华.半阴法测量λ/4波片的相位延迟[J].光电子.激光,1998,9(2):150-151.9AzzamR.M.A.,Bashara,N.M.Ellipsom ...
特点,是一种精确测量波片位相延迟量的实用方法,可推广应用。了解更多详情,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-56.html相关文献:1王勇辉,郑春龙,赵振堂.基于斯托克斯椭偏测量系统的多点定标法[J].中国激光,2012,39(11):163-167.2侯俊峰,于佳,王东光,邓元勇,张志勇,孙英姿.自校准法测量波片相位延迟[J].中国激光,2012,39(4):173-179.3王喜宝,宋连科,朱化凤,郝殿中,蔡君古.连续偏光干涉法测量波片宽波段延迟量变化[J].激光技术,2012,36(2):258-261.4赵振堂,林 ...
的时间窗口内精确测量单个光子的到达时间。当激光或其他光源激发样品时,样品会发射荧光光子。这些光子传播到检测器,其中每个光子的到达时间都被记录下来。记录到达时间的数据可以被用来创建荧光寿命的时间衰减曲线,该曲线描述了荧光光子的时间分布。通过分析这些时间分布,可以获得关于样品的信息,如荧光寿命、发光光谱和荧光量子产率。其基本原理是测量光子到达探测器的时间。当一个光子被探测到时,会触发一个计数器,记录光子到达的时间。通过多次测量并记录光子到达的时间,可以生成光子到达时间的分布曲线,如图2所示,从而获得有关样品的信息。图2TCSPC原理示意图TCSPC系统具有非常高的时间分辨率,通常在皮秒(ps)级别 ...
消光式椭偏仪精确测量波片相位延迟量[J].激光杂志,2012,33(3):8-9.5程一斌,侯俊峰,王东光.组合波片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位延迟量精密测量新方法[J].光学学报,1994,14(10):1096-1101.8薛庆文,李国华.半阴法测量λ/4波片的相位延迟[J].光电子.激光,1998,9(2):150-151. 9 AzzamR. M. A., Bashara, N. M. ...
迟为π。这为精确测量λ/2波片提供了有效的办法。测量λ/2波片时将起偏器与检偏器平行放置,待测元件光轴方位角为45。,即可获得zui佳对比度。透过光强随波长变化关系为:其中,μ为双折射率,d为波片的厚度。若在一定波长带宽范围内,忽略μ随波长的变化,便可推算出波片在该带宽范围内不同波长处的延迟值:其中,为取光强zui小值时的对应波长,λ为所求延迟的波长。2.误差分析这里主要分析λ/2波片测量误差,因此主要分析各测量参量对光谱曲线中zui小值位置的影响。(1)角度取值对测量的影响:由之前的公式可见,Ω及θ的取值并不影响zui小值的位置,但二者的取值对光强读数有一定的影响。由第二个公式对Ω及θ求偏导 ...
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