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异性热导率的测量方法近年来,随着半导体行业的迅猛发展,半导体元件的体积急剧减小,对芯片或薄膜材料的热物性探究至关重要,这样给予针对超小尺寸的热物性探测技术提供了发展需求,而其中基于光学的热反射法的发展使得小尺寸(亚微米)样品的热导率测量变得容易。在频域热反射法FDTR测量中:锁相放大器的参考相位需要被精确计算以减小对相位滞后信号的影响。SDTR-(SpecialDomain ThermalReflection)空间热反射同样是基于激光泵浦-热反射的探测技术,可以针对小尺寸薄膜样品的面内热物性的测量方法。相比于其他激光泵浦探测方法(如:TDTR,FDTR)它的优势是可以测试薄膜样品的面内热物性, ...
以采用另一种测量方法。在光谱测量中,检测极限是积分时间加上仪器的长期稳定性的函数(例如,记录平均过程的平均值,例如使用脉冲平均或干涉图平均)。因此,可以使用艾伦方差的概念,其本质上是数据簇平均的双样本方差作为簇大小的函数,该概念首先被Werle用于光谱学。在接下来的评估中,我们使用了重叠Allan方差估计器,与Werle使用的标准Allan方差算法相比,它通过引入重叠聚类来利用给定数据集的所有可能组合,因此显示出更高的置信度。使用以下Allan方差估计器:其中Aj是第j个聚类(也称为子组)的平均值,k是聚类大小(聚类中元素的数量),Ƭ0。K是观察时间(Ƭ=Ƭ0。K,Ƭ0是采样周期),N是样本总 ...
的中红外光谱测量方法。例如,zui大相互作用长度可以显著延长,从而降低检测的限制。在光热光谱学中,信号可以被显著放大。图3提供了一个定量可视化说明了在IR范围内工作的超连续光谱源的典型亮度水平,以及金标准中红外光谱源的亮度:外腔qcl和热发射器。图1。中红外光谱(市售系统)中zui具代表性光源的光谱亮度:Globars(热发射器)的光谱亮度水平是使用普朗克定律确定的;所代表的超连续介质源是标准的,而不是ji 端的功率和带宽版本;EC-QCL -商用外腔量子级联激光器(使用典型的psd和光束参数);光谱亮度等级按平均输出功率计算(不考虑下面讨论的峰值功率优势)。根据公式(2)计算图1所示激光光源 ...
感器的平面度测量方法,如图所示。在这种系统中,沿着整个测量表面扫描反射器,表面轮廓h(x)的变量h(x)可由反射角按照下式关系式推导出来:式中,D为反射镜长度。通过对上面的方程进行积分,得到表面轮廓h(x)。为了获得两维的表面轮廓,必须在两个方向上扫描反射镜。然而,空间分辨率由反射镜的长度D决定,因此,我们不能获得高的空间分辨率。而且,反射镜的位置不确定度会引起大的测量误差,这种方法不适用于对软性材料或薄材料的测试,如硅片等。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用 ...
。这就是这种测量方法的局限性,如果τs≪τr,这种测量方法就不适合研究半导体系统中的光学自旋特性。时间分辨测量使用脉冲激光的时间分辨研究可以绕过稳态测量的限制,允许直接测量系统中的载流子动力学。时间分辨光致发光(TRPL)和瞬态反射(TR)是半导体中载流子复合动力学的两种常用的时间分辨方法。第1种方法需要脉冲激光和电子设备,同步,在时间上,入射脉冲观察到PL的衰减,而第二需要两个脉冲光束,泵浦和探头,其中探头强度的变化,在两个光束之间的时间延迟,给出了载流子寿命的信息。图1.时间分辨Kerr旋转的三维图解。黄光脉冲为泵浦脉冲,为圆偏振,绿光脉冲为探针脉冲,为线偏振。这两个脉冲在时间上是分离的, ...
的zui常用测量方法是测量主磁滞或M(H)回线,如图1所示。从磁滞回线中提取的主要参数用于表征磁性材料的特性,包括饱和磁化强度Ms(zui大外加磁场时的磁化强度)、剩磁强度Mr(外加饱和场后零外加磁场时的磁化强度)和矫顽力Hc(使样品退磁所需的磁场)。更复杂的磁化曲线涵盖了位于主磁滞回线内的磁场状态和磁化值,如小磁滞回线和forc,可以提供用于表征磁相互作用的附加信息。如果您对磁学测量有兴趣,请访问上海昊量光电的官方网页:https://www.auniontech.com/three-level-150.html 更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限 ...
、单步的距离测量方法。图5频率扫描干涉示意图频率扫描干涉法利用频率扫描激光分束后,测量两个干涉仪的光程差的比值。如果两个干涉仪中的一个的光程差是已知的,则可以确定第二干涉仪的光程差。具有已知光程差的干涉仪则被称为参考干涉仪,并且具有假设在长时间内恒定的光程差。光程差未知的干涉仪被称为测量干涉仪,并且假设其光程差也被假设为在扫描期间恒定。斐索干涉仪具有零长度参考臂,因此光程差是干涉仪光学长度的两倍(图3中标记为LR和Lm)。接下来的讨论均关于的光学长度而不是光程差。激光器将其频率从起始频率(νt0)扫描到结束频率(νtn),并记录两个干涉仪输出强度。干涉仪的输出强度随激光频率和参考干涉仪产生的正 ...
行对比分析。测量方法为:将校准单元中起偏器的方位角固定为0°,以10°为步长,从0°到360°旋转波片,由此产生37个不同的偏振态,同时用斯托克斯椭偏仪对上述的偏振态进行测量得到I;然后用定标得到的仪器矩阵X和I带入式S=X-1I,求得波片对应角度下4个斯托克斯分量的实验值。定义斯托克斯参数测量值与理论值之间的平均偏差为:式中:Sij为斯托克斯参数的测量值,S'ij为理论值。定义斯托克斯参数的总均方根(RMS)偏差为:图2为中心波长为532.4nm处3种方法斯托克斯参量实验值与理论值的对比。ΔS的测量结果如图3所示。由图可知,当波长为500~600nm时,非线性zui小二乘拟合方法获得 ...
片的椭圆率角测量方法[J].北京理工大学学报,2019,39(7):750-755.6于德洪,李国华,苏美开,宋连科.任意波长云母波片位相延迟的测量[J].光电子.激光,1990,1(5):267-269.7徐文东,李锡善.波片相位延迟量精密测量新方法[J].光学学报,1994,14(10):1096-1101.8薛庆文,李国华.半阴法测量λ/4波片的相位延迟[J].光电子.激光,1998,9(2):150-151.9AzzamR.M.A.,Bashara,N.M.EllipsometryandPolarizedLight[M].NewYork:North-Holland,1977,198-2 ...
动量(d),测量方法见参考文献[46]。2.红外乙炔时间域光谱基于其超低噪声性能,自由运行的双频激光器可以直接用于双频激光光谱仪(DCS)。然而,由于时序和其他波动的影响,两个激光梳之间的混频拍在干涉图形上形成时无法直接进行相干平均,需要使用相位校正程序。这种相位校正的可行性可以通过跟踪干涉图的载波包络相位进行评估[44]。我们选用重复频率相对较高的值Δfrep来有效降低低频(<2kHz)技术噪声源的影响。干涉图是通过将两个共极化梳齿交叉在一个非偏振分束器立方体上获得的,如图1(b)所示。图4(a)展示了一个典型的示例,展示了干涉图相位的二阶有限差分的时间演化。由于波动不断地被界定在之间 ...
种误差和不同测量方法做系统的研究和比较。分析得出:(1)光谱扫描法测波片的误差源较少,在测量λ/2波片时,只需要从光谱曲线的极值就可以准确测定延迟值,其测量误差主要来源于单色仪精度,误差<0.032%。由于不需要测量绝对光强值,因而对光路有较大的宽容性,并可实现自动化测试。(2)Soleil补偿器法测量延迟与光谱法相似,只要求找到透过光强zui小值位置,因而同样具有较好的宽容性。其误差主要由补偿器自身的精度决定,本实验的补偿器误差<0.18%。对λ/2波片测量结果显示Soleil补偿器法与光谱扫描法测试结果在其精度范围内很好地相互印证。但由于补偿法需要由等偏离法提高精度,因而不易实 ...
变,改变θ的测量方法为旋转检偏器法。下面简述这两种常用方法的原理。(1)旋转待测波片法:旋转波片法通常采用读取旋转过程中光强的zui大值和zui小值的办法,从而可以避开对光轴方位角Ω的测量误差。对系统出射光强表达式分析可知,当Ω=θ/2时,系统光强取得zui大值;当Ω=θ/2+π/4时,光强取得zui小值,则波片的位相延迟φ可表示如下:其中,θ≠90°。(2)旋转检偏器的方法:旋转检偏器的方法通常取Ω=45°,θ分别取0°和90°,因为误差分析表明此时由角度测量造成的误差zui小(详见误差分析)。分别记录θ=0°和90。时的光强为及,则波片的位相延迟φ可表示为:这两种测试方法的优点是便于实现计 ...
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