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SERS)和尖端增强拉曼光谱(TERS),这两种技术被统称为等离子体增强拉曼光谱。等离子体增强拉曼光谱是一个相当复杂的过程,其效率取决于光、金属纳米结构和被探测材料之间微妙的相互作用。因此,需要调整几个实验参数才能获得最大的增强效果。在这方面的一个重要因素是被探测材料本身。材料的光学性质决定了它们与等离子体场相互作用的强度。一般来说,在等离子体环境中,有机分子比无机固体更敏感。然而,与其他无机化合物相比,二维半导体在等离子体场中表现出更强的响应,这是因为通过强光物质耦合增强了光吸收。合理的等离子体环境设计不仅允许二维半导体的光学性质可以随意调谐,还可以通过热电子注入诱导结构相位变化。除此之外, ...
a II借助尖端增强拉曼散射(TERS),可以进行纳米级分辨率的光谱学/显微术。特制的AFM探针(纳米天线)可用于TERS,以增强和定位尖端附近纳米级区域的光。这种纳米天线充当光的“纳米源”,从而提供了光学成像的可能性,其分辨率小于衍射极限(max〜10 nm)。扫描近场光学显微镜(SNOM)是获得旋光性样品的光学和光谱图像的另一种方法,其分辨率受探针孔径大小(〜100 nm)限制。NT-MDT 原子力显微镜系统光路图所有可能的激发/检测和TERS的解决方案应用CdS纳米线通过导电聚合物纳米线与金属电极连接。 AFM探针借助观察显微镜定位在结构上。 由于AFM探针的形状,激光可以直接定位在尖端 ...
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