SCMOS相机 光束分析仪 DMD 光纤束 合束激光器 共焦 拉曼光谱仪 锁相放大器 无掩膜光刻机 高光谱相机
您对搜索结果满意吗?
高斯光束与透镜变换(薄透镜)
高斯光束及通过薄透镜时的变换及激光扩束镜(三)高斯光束可以看作是均匀球面波的一种推广,博伊德和戈登理论已经证明:高斯光束传播轴线与透镜主轴重合的时候,通过透镜后仍为高斯光束。而对于薄透镜,透镜两侧的光斑尺寸相等,换言之,透镜两侧高斯光束的ω'= ω。本篇主要讲述高斯光束经透镜变换的公式,以及如何设计一个良好的激光扩束镜,从而获得理想的准直效果。当已知变换前后高斯光束束腰半径之比及变换透镜的焦距f',则可用下列两式分别求得入射光束和出射光束的束腰到变换透镜的距离其中由高斯光束通过薄透镜时的变换(二)可知,由此可见,变换透镜的焦距f'必须大于f0,否则无解。若系统由多个透镜 ...
高斯光束及通过薄透镜时的变换及激光扩束镜(二)高斯光束可以看作是均匀球面波的一种推广,博伊德和戈登理论已经证明:高斯光束传播轴线与透镜主轴重合的时候,通过透镜后仍为高斯光束。而对于薄透镜,透镜两侧的光斑尺寸相等,换言之,透镜两侧高斯光束的ω'= ω。本篇主要讲述高斯光束经透镜变换与几何光学中牛顿公式的关系,如果相同,此时可以使用几何光学的近轴公式使高斯光束的计算大为简化。对于焦距为f'的薄透镜,薄透镜的成像公式为高斯光束的复曲率半径表达式为如下图所示,由物点0发出的球面波到达透镜左方的曲率半径为R1,通过透镜L的变换,在它右方出射的是曲率半径为R2的会聚球面波。并规定发散球面波 ...
高斯光束及通过薄透镜时的变换及激光扩束镜(一)高斯光束的基本性质稳定腔激光器发出的激光束是一种具有特殊结构的高单色性的高斯光束,它具有最小横向发散角,在光学元件边缘的衍射损耗最小。此外,高斯光束通过自由空间的传播和通过无像差透镜的变换时,除轮廓比例因子外,将始终保持高斯型分布。电矢量沿z轴方向传播的高斯光束的性质可以由下面三个方程式来决定:上式中,R(Z)是距离坐标原点(束腰)Z处的高斯光束的波阵面的曲率半径(为球面),A(r)是高斯光束电矢量在r方向(也就是垂直于光波传播方向)的振幅,A0是波阵面中心的振幅,ω为光束的光斑半径,其中分析式1可以知道,当Z 趋于0的时候,R(Z)趋于无穷,即此 ...
束(衍射限制高斯光束的M2因子为1)的差异有多大。光束质量因子具有明确的实际意义,例如,任何采用映射方法的高光谱无像差显微镜的分辨率都可以通过将理论衍射限制分辨率与所利用光源的M2因子相乘来估计。确定M2因子的程序由ISO标准11146定义。它涉及到光束焦散的测量(在一个瑞利距离内至少五个光束位置[ ZR ]和距离腰部超过两个瑞利长度的五个位置),从中可以计算M2,分析使用强度分布方法的D4σ秒矩获得的光束半径的演变。在本节中,我们提供了典型的中红外zblan超连续介质源(NKT Photonics, SuperK Compact, 40 mW输出功率)的M2特性。为了获得中红外超连续光谱发射 ...
量TEM00高斯光束。与气体和离子激光器相比,DPSS激光器的线宽在更长的相干长度上窄了几个数量级,这有助于高分辨率测量,同时也降低干扰和噪声强度。这些都是半导体检测和光谱学等分析应用中的关键参数,DPSS激光器可以提供更高的准确性和清晰度。提高能效,减少发热由于高压电源、激光管工作以及额外冷却的热量产生,气体和离子激光器在功率转化效率方面处于劣势。DPSS激光器具有高电光效率,相较于气体激光器,其功耗明显降低,同时产生更高的输出功率。这对于降低能源消耗和减少发热效应非常重要,特别是在对功率效率和维护成本有担忧的情况下。紧凑的尺寸相较于气体激光器,DPSS激光器通常更小、更紧凑,便于集成到各种 ...
er 可以将高斯光束转换为均匀的平顶轮廓,从而在整个视野中实现均匀照明。所产生的平场照明具有高空间相干性、无与伦比的光学性能和 > 95% 的高均匀性。分子的均匀激发和zui小的图像重叠 (5%) 可以保证让您完全满意。下图显示了荧光显微镜的工作原理和一般结构。荧光显微镜的工作原理荧光显微镜应用 基于激光的荧光显微镜内的定量分析可能会因高斯光束轮廓产生的不均匀 照明而变得复杂。光源和照明光学等因素会影响均匀性。当要检查大视野 (FOV)时,这些功能尤其具有挑战性。测量图像由图像网格在荧光显微镜中生成。以边缘重叠的方式获取单个图像,并且可以在后处理中组合它们。如果照明不均匀,zui终图像的 ...
光学系统采用高斯光束光学(静态模式)和傍轴光学(动态模式)。光学系统示意图如图1所示。图1为了在x-y平面上获得zui大的空间分辨率,激光束必须同时准直并填满zui终物镜的孔径。输出光束被扩展,空间滤波,然后聚焦到AO调制器(AOM)。AOM的上升时间与光斑大小成正比。然后光束通过一系列中继透镜(稍后描述)产生准直光束,该光束填充物镜的孔径,在样品表面产生衍射限制斑。为了使扫描激光显微镜同时具有静态和动态成像能力,光学系统采用高斯光束光学(静态模式)和傍轴光学(动态模式)。光学系统示意图如图1所示。然后通过使用精密x-y级移动样品来完成静态成像,几何或近轴光学用于将SMI镜像到SM2上,从而将 ...
因为透镜聚焦高斯光束到一个高纵横比,只有光束的中心部分是可用的。这一问题可以用鲍威尔透镜来解决,它可以将光束聚焦到一个均匀强度的高aspect矩形。在最流行的扫描配置中,线聚焦光束是静止的,物体在它下面平移。不太常见的是,线聚焦光束扫描静止物体。从逐点扫描的总测量时间的减少是显著的,因为同时获得100或更多的光谱。获得这些光谱的测量时间可能比点聚焦激光测量单个光谱的时间短,也可能只长一点。原因是在线聚焦的情况下,激光总功率可以大得多。然而,由于每个电荷耦合器件(CCD)行包含1像素处的光谱,探测器必须逐像素读取。为了最大限度地减少探测器噪声,ccd以低速率(16-50 kHz)读出,因此需要1 ...
可知,对基膜高斯光束有(表示为基膜高斯光束束腰半径)。由此可见激光束的波长与束腰半径和远场发散角的乘积有关。而在实际应用中,常用聚焦透镜的焦距f和此焦距对应的束宽来计算远场发散角的大小,可表示为:四、瑞利长度瑞利长度通常表示为束腰位置到光束束腰半径的倍所对应位置的距离。 在此范围内,光束的传播可以近似认为是水平的。图4瑞利长度示意图瑞利长度的物理意义表示为:(表示为高斯光束的束腰半径),b表示为瑞利长度。光束质量是对激光器输出光束特性的质的评价,因此对激光器的设计、制造、检测和应用等方面有着非常重要的作用。对于不同的领域,评价光束质量好坏的标准也不一样,例如:激光测距和准直的应用需要激光光束的 ...
器通光直径和高斯光束的光斑直径所确定,不是与实际通光孔径形状有关的常数,。若通光孔为圆孔,则光斑为艾里斑,。根据用途不同,激光扫描记录仪的光点尺寸也不同。二是焦距。焦距由要求扫描的像点排列的长度L和扫描角度决定,即当扫描长度一定时,与呈反比关系。在F数一定时,应尽可能用大的角,小的,以减小透镜和反射镜尺寸,从而减小棱镜表面角度的不均匀性和扫描轴承的不稳定性造成的不利影响。又由于入射光瞳位于扫描器上,在实现像方远心光路时,小可以使物镜与扫描器之间的距离减小,使仪器轴向尺寸减小。但L一定时,小就大,这给光学设计带来了困难,使光学系统复杂,加工制造成本增大。反之,仪器纵向尺寸加大,使用不便。实际工作 ...
松地将准直的高斯光束转变为准直的Top-Hat光束。这种激光设备以其非常紧凑的设计和无与伦比的光学性能(均匀性>90%)而令人信服。a|TopShape的光谱范围大,可接受不同的输入光束直径,并能产生至少300毫米的稳定光束轮廓。现在还可提供a|TopShape长距离(LD)型,工作距离可达1.5米。a|TopShape现在也有长距离版本。由于有效工作距离会随着光束尺寸的减小而减小,因此a|TopShape LD特别适用于需要较小光束直径的应用。如果较低的光束轮廓均匀性足以满足应用要求,新的光束整形器甚至可以实现更长的工作距离。a|TopShape的规格参数(1)无与伦比的光学性能(均匀 ...
得的成果。与高斯光束相比,贝塞尔光束表现出较强的旁瓣,这使得贝塞尔光束用于侧照时轴向分辨率降低。然而,结合狭缝扫描拉曼显微镜,狭缝检测的共聚焦效应可以降低旁瓣对有效PSF的影响,如图1(c)所示。除了旁瓣外,贝塞尔光束在光束传播方向的光分布长度和均匀性方面都比高斯光束有优势。因此,狭缝共聚焦检测可以成功地将高斯光束的上述优点引入到侧光显微镜中。贝塞尔照明拉曼显微镜也有利于提高低浓度样品的灵敏度,因为背景信号的存在在本质上限制了微弱信号的检测能力。侧边照明有效地降低了离焦平面的背景信号,能检测出背景贡献较大时可能被镜头噪声隐藏的微弱信号。由于这种效应,灵敏度的提高足以扩大使用拉曼标签和探针的小分 ...
r球面波or高斯光束)入射到相位型SLM上,源场的相位以每SLM像素的方式延迟相位ϕ,场继续在自由空间或穿过某些光学元件传播到目标平面。用户或探测器可以在目标平面观察到场的强度。由SLM传输到目标平面的数学模型可以表示为:ϕ就是需要求解值,可以用常用的相位复原法(如GS,Fienup法等)求解,也可以看作为一个优化问题求解:s是一个固定的或学习的scale factor。相位复原是找到一个相位函数ϕ,而(2)是一个非凸优化问题,具有无穷解,CGH可以选择无穷解中的任何一个,因为它们都可以在目标平面上产生相同的强度。作者发现求解(2)用Adam可以获得得最好得图像质量。缺点:这里的仿真数学模型与 ...
束输出为基模高斯光束;慢轴方向尺寸为 50µm 至 200µm,输出为厄米高斯光束。由于快慢轴的尺寸大小以及出光的不对称性,使测试 LDA 的“Smile”效应变得尤为复杂,目前最常用的测试方法有 CCD 成像测量法,近场扫描光学显微镜测量法和干涉测量法。图1-1 用CCD探测到半导体激光器阵列的“smile”效应2,“smile”效应评价计算方法通过测试获得列阵近场光斑分布之后,需要采用一定的算法确定列阵的“Smile”效应大小及走势,即“Smile”效应评价计算方法。其中,通过光斑强度质心分布表示光斑位置对LDA的“Smile”效应进行描述是国内外通用一种的描述方法。而“Smile”效应值 ...
则是对于具有高斯光束分布的连续激光,光斑尺寸应选择在瑞利长度为晶体长度一半时的大小,光斑尺寸可减小一定的量,知道获得最高效率。POPLN具有高的折射率,在每个未镀膜的面上导致14%的菲涅尔损耗。为了增加晶体的透过率,晶体的输入和输出端面镀了增透膜,从而将每个面的反射率降到1%以下。温度和周期:一个PPLN晶体的极化周期是由使用光的波长决定的。准相位匹配波长可通过改变晶体的温度来稍微调节。每种晶体都包括多种不同的极化周期,这些极化周期可在给定的晶体温度下使用不同的输入波长。转换效率与温度的广西符合一个sinc2函数,描述晶体的温度接受带宽。晶体越长,接受带宽越窄,对温度越敏感。在多数情况下,非线 ...
。瑞利长度:高斯光束的波阵面在束腰位置处为平面波,波阵面是由此开始传播的。波阵面从束腰位置向前传播,逐渐变成曲面,直到等相面曲率半径达到最小,此后变平。从束腰到达最小曲率半径位置两者之间的距离就称为瑞利范围,其大小由Z0 来表示称为瑞利尺寸。在Z0≤Z范围内高斯光束可以近似认为是平行光束,光束的瑞利长度越大则准直性越好。发散角:一般用发散角描述激光的发散度,有多种方式去测量激光束的发散度,我们在这里描述两种激光束发散度的测量方法。方法1:使用一个已知焦距的透镜测量远场激光束发散度,显然完全发散θ=D/f,D是焦点位置的束腰半径,f是焦距。图1 发散角测量原理图通过将CinCam分析仪放置在焦距 ...
则是对于具有高斯光束分布的连续激光,光斑尺寸应选择在瑞利长度为晶体长度的一半时的大小。光斑尺寸可减小一定的量,直到获得最高效率。PPLN具有高的折射率,在每个未镀膜的面上导致14%的菲涅耳损耗。为了增加晶体的透过率,晶体的输入和输出端面镀了增透膜,从而将每个面的反射降到1%以下。温度和周期一个PPLN晶体的极化周期由使用的光的波长决定。准相位匹配波长可通过改变晶体的温度来稍微调节。Covesion库存的PPLN晶体,每个系列都包括多种不同的极化周期,这些极化周期可在给定的晶体温度下使用不同的输入波长。我们的计算调节曲线对相位匹配所需的温度给出了很好的参考。转换效率与温度的关系符合一个sinc2 ...
明确激光光束参数是激光工艺的基础和前提。具体的参数包括光斑坐标,大小,方位角,椭圆度,光强等。对于二维波束宽度的测量方法有以下几类1.统计学方法统计学方法对于光斑的形态不进行假定。具体方法有以下几种:A. 对光斑数据进行统计。可以以获得整体的测试结果。比如光强,最大光强,最小光强,点亮的像素数量,等。其中强度参数可以由如下公式计算得出。B. 二值化。根据ISO 13694,该方法用于平顶激光束的表征。通过给定一个或多个给定阈值来计算数据C.2nd moments。对于数据的标准偏差进行计算。这是ISO 11146中给出的方法。改方法描述了质心相关的强度分布的标准差。为了减轻误差的影响,可以在计 ...
获,如微粒在高斯光束的作用下被控制在光束的中心。(2)偏振光束与微粒相互作用将光束的自旋角动量传递给微粒使其旋转。(3)携带有轨道角动量的涡旋光束与微粒作用时将轨道角动量传递给微粒,使其旋转。三、各种涡旋光的应用原理涡旋光束的轨道角动量可以由光镊传递给粒子,使粒子在没有其他任何悬挂设施的情况下绕着光轴旋转而形成光学扳手,此时角动量转换由被捕获粒子对激光的吸收来实现。涡旋光束的环形光场结构意味着微粒可以被束缚于光轴附近的零强度的区域内,若要实现第三维度即轴向的限制,在垂直于光轴的位置放置玻璃片即可。由于自旋角动量也可由光子传递给微观粒子使其旋转,故可通过控制涡旋光束的偏振态的方式,来控制其携带的 ...
有:拉盖尔-高斯光束(Laguerre-Gauss beams)、贝塞尔光束(Bessel beams)和贝塞尔-高斯光束(Bessel-GaussBeams)。贝塞尔光束是一种无衍射光束,若在传输路径中存在障碍物,则经过障碍物后一定距离,没有被遮挡的光线会在障碍物后重新干涉,光场可自我恢复,具有自愈性。贝塞尔光束具有无限延展的光场结构,这使得其只能为理想的理论模型而无法真实存在,实际中一般采用贝塞尔-高斯光束作为贝塞尔光束的近似,在有限传输距离内具有与贝塞尔光束相似的无衍射特性,超出最大传输距离后贝塞尔-高斯光束将不再存在。您可以通过我们的官方网站了解更多的产品信息,或直接来电咨询4006- ...
显示更多
或 投递简历至: hr@auniontech.com